专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]应变GeCMOS器件-CN201711243351.5在审
  • 尹晓雪 - 西安科锐盛创新科技有限公司
  • 2017-11-30 - 2018-05-15 - H01L27/092
  • 本发明涉及一种应变GeCMOS器件,包括:Si衬底;晶化Si1‑xGex外延层,设置于所述Si衬底上;P型Ge沟道层,设置于所述Si1‑xGex外延层上;介质层,设置于所述P型Ge沟道层上;隔离区,设置于所述P型Ge沟道层和所述介质层内部;N阱区,设置于所述隔离区的第一侧,且设置于所述P型Ge沟道层内;PMOS区域,设置于所述隔离区的第一侧;NMOS区域,设置于所述隔离区(104)的第二侧;钝化层,设置于所述介质层上。本发明提供的GeCMOS器件中高Ge组分Si1‑xGex/Si外延层晶体质量高。
  • 应变gecmos器件
  • [发明专利]一种弱能量收集用肖特基二极管-CN202011467444.8在审
  • 左瑜 - 西安科锐盛创新科技有限公司
  • 2020-12-14 - 2021-03-26 - H01L29/872
  • 本发明公开了一种弱能量收集用肖特基二极管,包括:110晶向的Si衬底(001);第一Ge缓冲层(002),设置于所述Si衬底(001)的上表面;n+Ge层(003),设置于所述第一Ge缓冲层(002)的上表面;nGe层(004),设置于所述n+Ge层(003)上表面的第一区域内,其中,所述nGe层(004)的上表面设置有倒梯形的凹槽,所述倒梯形的斜边与法线夹角为40~60°;第一电极(005),设置于所述nGe层(004)的凹槽内;第二电极(006),设置于所述n+Ge层(003)上表面的第二区域内。
  • 一种能量收集用肖特基二极管
  • [发明专利]n+-GeSn/i-GeSn/p+-Ge结构光电探测器及其制备方法-CN201710104256.0有效
  • 乔丽萍 - 西藏民族大学
  • 2017-02-24 - 2019-06-14 - H01L31/18
  • 本发明涉及一种n+‑GeSn/i‑GeSn/p+‑Ge结构光电探测器及其制备方法。该方法包括:选取Si衬底;生长Ge材料,制备保护层;对整个衬底进行加热,并采用激光工艺晶化整个衬底,冷却使Ge材料形成晶化Ge层,去除保护层;对晶化Ge层进行离子注入形成P型晶化Ge层;连续生长本征GeSn层、N型Ge层;在N型Ge层表面分别刻蚀形成水平截面为第一矩形、第二梯形和第二矩形的台状结构;在器件部分制作接触孔,并在接触孔中淀积金属以完成互连制备,最终形成光电探测器。
  • gesnge结构光电探测器及其制备方法
  • [实用新型]基于台阶结构的发光二极管-CN201720544312.8有效
  • 乔丽萍 - 西藏民族大学
  • 2017-05-17 - 2018-02-16 - H01L33/30
  • 本实用新型涉及一种基于台阶结构的发光二极管10,包括单晶Si衬底11第一Ge层12,设置于单晶Si衬底11表面;Ge基台阶结构13,设置于第一Ge层12表面的中心位置处;正电极14,设置于第一Ge层12的上表面并位于台阶结构13两侧的位置处;负电极15,设置于台阶结构13的上表面;钝化层16,设置于第一Ge层(12)和Ge基台阶结构(13)的上表面以及正电极(14)和Ge基台阶结构(13)的中间,以形成发光二极管本实用新型台阶结构的发光二极管,Si衬底上外延Ge层,制备出高质量GeSn层,极大地提高发光二极管的发光效率。
  • 基于台阶结构发光二极管

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