专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种CMOS摄像头前置的内窥镜-CN201621283691.1有效
  • 罗宗平;杨惠林;崔旭东;施勤 - 苏州博习医疗科技有限公司
  • 2016-11-28 - 2017-10-20 - A61B1/05
  • 本实用新型公开了一种CMOS摄像头前置的内窥镜,包括内窥镜管道,具有中空的轴向通道,轴向通道内接入有CMOS摄像头套管和LED灯珠套管,CMOS摄像头套管的前端部安装有CMOS摄像头,CMOS摄像头与设置在CMOS摄像头套管内的导线相连接,CMOS摄像头套管后端部设置有引出导线的第一保护端盖;LED灯珠套管的前端部安装有环绕分布的若干颗LED灯珠,各颗LED灯珠与设置在LED灯珠套管内的导线相连接,LED本实用新型能够清晰拍摄出前方的图像信息,并进行远程传输,还能及时清除CMOS摄像头上的雾气,具有良好的应用前景。
  • 一种cmos摄像头前置内窥镜
  • [发明专利]低照度CMOS芯片性能测试系统-CN201610700230.8在审
  • 钱芸生;叶琼;郭一亮;朱波;王琦;林宇轩;徐华 - 南京理工大学
  • 2016-08-22 - 2017-02-15 - G01R31/308
  • 本发明公开了一种低照度CMOS芯片性能测试系统,包括卤钨灯光源、电动狭缝、第一积分球、可变孔径光阑、第二积分球、暗箱、待测低照度CMOS芯片、光照度计和计算机;将低照度CMOS芯片置于暗箱中,卤钨灯产生的均匀光入射到低照度CMOS芯片的光敏面,经过计算机调节电动狭缝和可变孔径光阑改变光照度,设置芯片曝光时间,采集低照度CMOS芯片产生的图像信号,并将它转换成对应的电压信号,通过数据处理得到相应的参数值。本发明可以科学地评价低照度CMOS芯片的性能,为低照度CMOS的研制和生产提供依据。
  • 照度cmos芯片性能测试系统

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