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[发明专利]缺陷修正装置及缺陷修正方法-CN201010180901.5有效
发明人：筒井亚希子;清井清美 -专利权人：索尼公司
申请日： 2010-05-13 - 公布日： 2010-11-24 - 主分类号： G02F1/1362 文献下载
摘要：一种缺陷修正装置，该装置显著提高缺陷修正工序的作业效率，同时提高缺陷修正的品质。检查形成有重复构图的多层基板，提取重复构图内的缺陷的位置信息及所述缺陷的特征信息。接着，从数据库读取对应检测到的缺陷的缺陷修正手法。然后，使读取的缺陷修正手法所含有的对象物尺寸与修正实施顺序相对该缺陷修正装置进行最优化。并且，利用尺寸与适用顺序进行最优化的缺陷修正手法来控制用于实施缺陷修正的缺陷修正部。
缺陷修正装置方法

[发明专利]基于致命缺陷修正的缺陷扫描方法-CN201310630279.7有效
发明人：何理;许向辉;郭贤权;陈超 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2013-11-29 - 公布日： 2014-03-19 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明一种基于致命缺陷修正的缺陷扫描方法，通过将芯片置于缺陷扫描机台上进行扫描，提取芯片内所有缺陷的特征信息；将所有缺陷的特征信息输入到缺陷数据库，获取每一个缺陷所对应的修正系数k，其中，该缺陷数据库根据缺陷的所有特征信息对芯片良率的影响赋予不同的修正系数k；统计芯片上所有经修正的缺陷数量之和，与所述芯片的控制标准值w相比较，判断芯片上的缺陷是否正常，其在以缺陷数量来判断芯片缺陷是否正常的前提下，引入致命缺陷这一修正因素更精确和快速的判断芯片缺陷是否正常
基于致命缺陷修正扫描方法

[发明专利]空心胶囊缺陷检测及缺陷剔除设备-CN201310355394.8有效
发明人：马辉军 -专利权人：新昌县一田工贸有限公司
申请日： 2013-08-15 - 公布日： 2013-12-18 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本发明公开了一种空心胶囊缺陷检测及缺陷剔除设备，包括机架，机架上设有加料装置和送料装置。且储料舱内设有清扫机构；储料舱被清扫机构分隔为清扫区和堆料区，堆料区内设有挡壁，位于挡壁外侧的储料舱区域为输送区，与输送区对应的胶囊托盘上设有使空心胶囊从孔位脱落的出料口；加料装置的出口位于堆料区的上方；还包括空心胶囊缺陷自动评选装置，空心胶囊缺陷自动评选装置包括工业控制机、控制电路板、高速工业相机、光纤放大器、编码器和用于剔除缺陷胶囊的剔除装置；送料转盘的转轴上设有触发齿盘，编码器安装在所述送料转盘的转轴上。
空心胶囊缺陷检测剔除设备

[发明专利]缺陷检测器和缺陷检测方法-CN200410079711.9有效
发明人：三田章生 -专利权人：大日本网目版制造株式会社
申请日： 2004-09-17 - 公布日： 2005-03-23 - 主分类号： G01B11/30 文献下载
摘要：缺陷检测器的控制部件设有倍率运算部件、被测图像显示部件和主图像显示部件。倍率运算部件基于缺陷信息运算用于缺陷区域的显示倍率α1(显示倍率数据)。因此，提高了操作者缺陷检测操作的效率。
缺陷检测器检测方法

[发明专利]缺陷判定方法及缺陷判定装置-CN201910445000.5有效
发明人：雷朋 -专利权人： TCL华星光电技术有限公司
申请日： 2019-05-27 - 公布日： 2021-07-06 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供了一种缺陷判定方法及缺陷判定装置，可进行在线实时缺陷判定。所述缺陷判定方法和判定装置，相较于现有技术，设置了较多的判定缺陷的数据维度，可对缺陷种类、缺陷影响线路、缺陷尺寸和缺陷像素等缺陷数据进行准确识别；在缺陷判定过程中自动套用第一数据规则表和第二数据规则表，将所述缺陷数据划分为不同的等级，进而对不同等级的缺陷执行与所述等级相应的操作；提高了缺陷判定的准确度和自动化程度，减少了缺陷判定过程中的人工参与，降低了漏判和误判的风险。
缺陷判定方法装置

[发明专利]用于AOI缺陷检测的缺陷提取方法-CN202010438593.5有效
发明人：王四平;张孟;彭其栋 -专利权人：深圳新视智科技术有限公司
申请日： 2020-05-22 - 公布日： 2020-09-08 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明涉及机器视觉技术领域，特别涉及用于AOI缺陷检测的缺陷提取方法，各自工位的信息处理模块将局部有效特征信息集合传输至各自工位的缺陷定义模块，各自工位的缺陷定义模块自定义多个缺陷公式，将局部有效特征信息集合内的相应特征数值代入每一缺陷公式内，符合缺陷公式的结果定义为各自工位的新缺陷，形成各自工位的新缺陷集合，两两工位之间的新缺陷集合相互映射，把满足映射关系的缺陷组合定义为映射关系缺陷，形成映射关系缺陷集合。与现有技术相比，本发明的用于AOI缺陷检测的缺陷提取方法交互友好，可用于检测大部分材料，适用范围广，支持缺陷分类较多、缺陷特征比较模糊的缺陷检测，有效提高缺陷检测的准确性和正确性。
用于 aoi 缺陷检测提取方法

[发明专利]缺陷检测装置、缺陷检测方法以及程序-CN201880075641.X有效
发明人：上田佳央;冈本康平 -专利权人：日本制铁株式会社
申请日： 2018-12-11 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G01N29/44 文献下载
摘要：本发明涉及缺陷检测装置、缺陷检测方法以及程序。缺陷检测装置具备：超声波波形数据生成部(123)，按照构成接收超声波振子(114)的每个超声波振子(111)，生成按时间序列表示由接收部(132)接收到的反射超声波束的振幅的超声波波形数据；超声波波形数据处理部且是设定了相控阵探头(110)与焊接部(210)之间的多个相对位置关系的多个原点时刻调整模式，按照每个原点时刻调整模式，进行对被调整了原点时刻的超声波波形数据进行合成的处理而生成合成超声波波形数据；以及缺陷判定部(125)，基于合成超声波波形数据，判定在焊接部(210)是否存在缺陷(211)。
缺陷检测装置方法以及程序

[发明专利]缺陷修复装置和缺陷修复方法-CN200910204215.4无效
发明人：筒井亚希子 -专利权人：索尼株式会社
申请日： 2009-10-14 - 公布日： 2010-06-09 - 主分类号： G02F1/1362 文献下载
摘要：本发明涉及缺陷修复装置和缺陷修复方法。该缺陷修复装置包括缺陷检测单元、数据库、缺陷修复单元和控制单元。缺陷检测单元检查其上形成有重复图案的多层基板，并且提取关于重复图案中的缺陷的位置信息和关于缺陷的特征信息。多个缺陷修复技术被登记在数据库中。缺陷修复单元利用指定的缺陷修复技术来修复多层基板的缺陷。控制单元读取针对缺陷检测单元检测出的缺陷的缺陷修复技术，并且利用该缺陷修复技术来控制修复缺陷的缺陷修复单元。
缺陷修复装置方法

[发明专利]缺陷修正装置和缺陷修正方法-CN201110261864.5无效
发明人：冈亚希子;泉岳;本多友明 -专利权人：索尼公司
申请日： 2011-09-06 - 公布日： 2012-04-11 - 主分类号： H01L21/00 文献下载
摘要：本发明涉及缺陷修正装置和缺陷修正方法。所述缺陷修正装置包括：缺陷检测设备，其用于检测多层基板中的重复图案内的缺陷；缺陷修正设备，其用于通过规定的缺陷修正方法修正所述多层基板中的所述缺陷；及控制设备，其用于在检测到由所述缺陷检测设备所检测的所述缺陷与认为发生层间短路缺陷的区域重叠时，生成与用于所述层间短路缺陷的所述缺陷修正方法相对应的对象，并通过使用所生成的对象控制用于修正所述缺陷的所述缺陷修正设备。根据本发明，能够在提高层间短路缺陷的缺陷修正过程的工作效率的同时，提高缺陷修正的质量。
缺陷修正装置方法

[发明专利]缺陷修正方法及缺陷修正装置-CN200810001248.4无效
发明人：山中昭浩 -专利权人： NTN株式会社
申请日： 2008-01-09 - 公布日： 2008-07-30 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明提供一种可始终稳定地对涂敷在缺陷部上的油墨进行校平(膜厚均匀化)的技术。本发明的缺陷修正方法包括在基板上的微小区域内涂敷液态材料的工序(S20)。由于通过在整个微小区域内对液态材料均匀地加压，可进行使液态材料的厚度变得均匀的校平，因此可进行高品质的缺陷修正。
缺陷修正方法装置

[发明专利]缺陷检测装置、缺陷检测方法以及程序-CN201880011102.X在审
发明人：上田佳央;冈本康平;山野正树;长谷川昇;青木宏道 -专利权人：日本制铁株式会社
申请日： 2018-03-19 - 公布日： 2019-09-20 - 主分类号： G01N29/26 文献下载
摘要：本发明提供缺陷检测装置、缺陷检测方法以及程序。，经由由包括发送超声波振子(112)所涉及的n个超声波振子在内且大于n个的m个超声波振子(111)构成的接收超声波振子(114)，接收被包括焊接部(210)的焊接钢管(200)反射的反射超声波束；以及缺陷判定部(124)，基于由接收部(132)接收到的反射超声波束，判定在焊接部(210)是否存在缺陷。
超声波振子焊接部发送缺陷检测装置反射超声波缺陷检测接收部相控阵探头超声波束焊接钢管缺陷判定反射判定

[发明专利]检查缺陷的方法及缺陷检查装置-CN200980118003.2有效
发明人：坂井一文;野中一洋 -专利权人：独立行政法人产业技术综合研究所
申请日： 2009-05-22 - 公布日： 2011-04-27 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本发明提供检查缺陷的方法和缺陷检查装置。根据对被检查体不施加应力的状态和施加了应力的状态下的光散射体的由摄像得到的图像求取成分光强度、偏光方向，与规定的阈值进行对比，由此能够高精度地检测被检查体的内部析出物、空洞缺陷、表面的异物或划痕、表层的裂纹的缺陷，确定缺陷的种类，进行缺陷的分类。
检查缺陷方法装置

[发明专利]缺陷校正设备和缺陷校正方法-CN201280058501.4无效
发明人：大庭博明 -专利权人： NTN株式会社
申请日： 2012-11-30 - 公布日： 2014-07-30 - 主分类号： G02B5/20 文献下载
摘要：缺陷校正设备具有多个涂布针，并且可以根据基板中的缺陷执行有效的校正操作。缺陷校正设备(100)具有：墨水涂布机构(34)，其包括多个针，用于校正缺陷并且涂布直径各不相同；图像处理单元(21)，用于检测基板中的缺陷位置；计算单元(25)，用于基于所检测的缺陷位置的图像来计算表示缺陷尺寸的缺陷尺寸值；选择单元(26)，用于根据计算出的缺陷尺寸值选择具有要用于校正的涂布直径的针；以及校正处理单元(50)，用于使用具有一涂布直径的选定针来校正缺陷。
缺陷校正设备方法

[发明专利]缺陷修正装置及其缺陷修正方法-CN200480000456.2无效
发明人：堀内一仁;秋山周次;阿部政弘;大西孝明 -专利权人：奥林巴斯株式会社
申请日： 2004-04-28 - 公布日： 2005-11-16 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明涉及一种缺陷修正装置及其缺陷修正方法。该缺陷修正装置包括：缺陷检测部(41)，通过与参照图像的比较，检测在基板上产生的缺陷；禁止区域设定部(39)，对位于驱动电路元件(23)上或布线(21、22)上的缺陷设定修正的禁止区域(KA)；修正区域设定部(44)，将除了落在禁止区域(KA)上的部分以外的缺陷部分和与禁止区域(KA)无关的缺陷设定为修正区域；优先级设定部(5)，对修正区域设定修正顺序的优先级；以及修正部(31)，根据优先级修正缺陷。
缺陷修正装置及其方法

[发明专利]接触网缺陷的重复性分析方法及装置-CN202310035443.3在审
发明人：薛宪堂;杜馨瑜;张翼;周威;王燕国;李乾宇;王昊;王凡;赵鑫欣;王宁;蒋曙光;时菁;郐永涛 -专利权人：中国铁道科学研究院集团有限公司;中国铁道科学研究院集团有限公司基础设施检测研究所;北京铁科英迈技术有限公司
申请日： 2023-01-10 - 公布日： 2023-05-23 - 主分类号： G06Q10/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种接触网缺陷的重复性分析方法及装置，其中该方法包括：获取接触网的实时缺陷数据和指定历史缺陷信息；根据实时缺陷数据，确定实时缺陷特征信息；实时缺陷特征信息包括缺陷对应的锚段杆的拉出值符号、缺陷对应的锚段杆的里程信息、缺陷对应的缺陷杆的拉出值符号、缺陷对应的缺陷杆的里程信息、缺陷与缺陷对应的锚段杆的距离、缺陷与缺陷对应的锚段杆之间的支柱数量、和缺陷与缺陷对应的缺陷杆的距离；将实时缺陷数据和实时缺陷特征信息、与指定历史缺陷数据及其对应的历史缺陷特征信息进行对比分析，根据对比分析结果得到接触网的实时缺陷数据的重复性分析结果。本发明可以确保接触网缺陷重复性分析结果的准确性。
接触缺陷重复性分析方法装置