专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]对焦跟踪系统与方法-CN202110501322.4有效
  • 韩宇星;温江涛;李吉生 - 深圳清华大学研究院
  • 2021-05-08 - 2023-05-12 - H04N23/67
  • 本公开涉及一种对焦跟踪系统与方法,属于摄像领域,能够使最终拍摄的图像清晰。一种对焦跟踪系统,包括主相机、辅相机、同步系统和对焦控制系统,主相机包括第一可调焦镜头和驱动第一可调焦镜头进行对焦的第一对伺服马达;辅相机包括第二可调焦镜头和驱动第二可调焦镜头进行对焦的第二对伺服马达,第二可调焦镜头内部安装有编码光圈,辅相机的光学参数与主相机相当;同步系统,用于使主辅相机拍摄的图像进行帧级同步,得到帧级同步主相机图像和帧级同步辅相机图像;对焦控制系统,用于利用编码光圈的编码图案和帧级同步辅相机图像后的图像,计算偏移,并基于偏移向第一和第二对伺服马达发送对焦信号。
  • 对焦跟踪系统方法
  • [发明专利]一种用于相位差波前传感器的量测量方法-CN201210180083.8有效
  • 鲍华;饶长辉;李梅 - 中国科学院光电技术研究所
  • 2012-06-04 - 2012-10-10 - G01J9/00
  • 一种用于相位差波前传感器的量测量方法,通过平行光源入射相位差波前传感器(PD WFS),处理算法利用面远场光斑图像,在传统GS迭代运算的基础上,根据面仅包含相差和Zernike多项式的正交性对求解过程加以约束,实现精确测量系统量。相对于目前用于相位差波前传感器的各种量测量方法,本发明结构简单稳定,求解过程快速可靠,不需要在光路中移动光电探测器CCD位置、不借助于其它测量工具;并在迭代过程中充分利用各种先验信息增加了约束条件,解决了传统GS算法由于约束条件不足无法获得正确结果的缺陷,具有更高的量测量精度和稳定性,为相位差波前传感器在实际工程中准确测量波前相差以及复原退化图像奠定基础。
  • 一种用于相位差传感器离焦量测量方法
  • [发明专利]一种基于半截断正弦条纹的二值三维测量方法及装置-CN202110700633.3有效
  • 游迪;朱江平 - 四川大学
  • 2021-06-23 - 2022-03-15 - G01B11/25
  • 本发明涉及光学三维测量领域,特别是一种基于半截断正弦条纹的二值三维测量方法及装置。本发明先对半截断正弦条纹图像进行二值编码,得到编码条纹组;再将编码条纹组投影至待测物体处,采集返回的条纹图像;最后将条纹图像解相位,得到待测物体的三维数据。本发明采用半截断正弦条纹图像进行二值编码,由于半截断的正弦条纹图像有一半的像素是0,所以在进行二值编码时,这部分像素可以使用0进行编码,并不会带来编码误差,继而在投影后,这部分区域也不会有强度误差。与采用标准正弦条纹图像进行二值编码和投影相比,极大的减少了与标准正弦条纹之间条纹的强度误差,也减少了三维测量结果的误差,提高了三维测量的精度。
  • 一种基于半截正弦条纹二值离焦三维测量方法装置
  • [发明专利]一种大变倍镜头自动对焦方法及系统-CN201711263770.5有效
  • 陈耀明;郭建兵;郑有杰;曾腾驰;朱清林 - 佛山华国光学器材有限公司
  • 2017-12-05 - 2020-10-16 - G03B13/36
  • 本发明公开了一种大变倍镜头自动对焦方法及系统,该方法包括以下步骤:获取大变倍镜头的变焦镜组的位置信息,判断变焦镜组是否处于长区间,若处于长区间,采集该位置对应的图像,并根据该图像是否清晰,对应将对焦镜组进行清晰对焦处理或模糊对焦处理本发明通过广角对焦处理来实现近处的景物对焦,通过选择清晰对焦处理或模糊对焦处理,从而提高对焦速度和准确度,减少对焦过程中图像模糊的时间。所以该自动对焦方法既能对焦远近景物,又能减少对焦期间图像模糊的时间,满足了客户的要求和方便了客户的使用,可广泛应用于镜头控制技术领域。
  • 一种大变倍镜头自动对焦方法系统

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