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[发明专利]一种石材冲击破碎试验平台-CN201610958771.0有效
发明人：童昕;叶一青;余罗兼;李占福;李昆塬;凌静秀;池德汝 -专利权人：福建理工大学
申请日： 2016-10-28 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： G01N3/317 文献下载
摘要：本发明涉及一种石材冲击破碎试验平台，包括机架、电机、导轨和反击板；其特征是：电机安装在机架一端，导轨安装在机架水平梁上，机架另一端竖立有反击板；电机输出轴上固定有曲柄，曲柄一端连接一连杆，该连杆端部铰接有一推送滑块，该推送滑块滑动放置在所述导轨上，在推送滑块运动前方的导轨上设置有投料口；所述导轨与反击板之间具有一悬空部，该悬空部外设置有防护罩，所述反击板竖立安装在防护罩端面上，在防护罩前端的导轨上还设置有观察罩，在观察罩内的导轨边沿设置有两个传感器。本试验平台，能对石头材质、飞行速度与反击板纹理进行对比试验、采集数据，为设计出高效的离心破碎机服务。
一种石材冲击破碎试验平台

[发明专利]一种低压室容器可调的薄膜透气性测试装置及其测试方法-CN202310744333.4在审
发明人：刘孝锋;谢清来;苏志从;庄加福;胡宝法;褚若波;叶一青 -专利权人：泉州师范学院
申请日： 2023-06-25 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G01N15/08 文献下载
摘要：本发明涉及一种低压室容器可调的薄膜透气性测试装置及其测试方法，包括常压试验气体腔和低压试验气体腔，常压试验气体腔的底部设有向上凹陷的常压室，常压室通过第一连通管与气源装置相连接；低压试验气体腔的顶部设有向下凹陷并与常压室相连通的内层密封室，内层密封室通过第二连通管与真空泵相连接；还包括至少两个外层密封室，每个外层密封室分别通过第三连通管与内层密封室相连通。通过在低压试验气体腔外侧设置至少两个外层密封室，该外层密封室均与低压试验气体腔的内层密封室相连通，通过控制与内层密封室相连通的外层密封室的数量，即可实现调节低压室密封容积的大小，进而可测试不同范围的薄膜透气性，使用方便、灵活性好。
一种低压容器可调薄膜透气性测试装置及其方法

[发明专利]一种差动共聚焦轴向量程拓展测量装置、系统及方法-CN202310080544.2在审
发明人：易定容;袁涛;吴栋梁;叶一青;蒋威 -专利权人：华侨大学
申请日： 2023-02-08 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明公开一种差动共聚焦轴向量程拓展测量装置、系统及方法，属于共聚焦显微测量领域。载物台带动被测样品沿轴向方向上下移动，实现层扫，并结合照明单元、准直透镜、数字微镜器件、分光透镜、物镜、聚焦透镜使用的差动共聚焦显微测量技术，并且根据测量系统所使用物镜倍数调整参考平面的轴向间距，同时根据每个参考平面中其有效测量区域对焦前离焦图像和焦后离焦图像进行交集运算，确定每一个参考平面中能够还原的图像区域，通过差动共聚焦测量方法与层扫相结合，扩展了差动共聚焦轴向测量量程，实现了轴向大量程测量，还保证了轴向测量精度。
一种差动聚焦轴向量程拓展测量装置系统方法

[发明专利]一种差动共焦轴向有效测量区域判定装置、方法及系统-CN202310132487.8在审
发明人：易定容;袁涛;吴栋梁;叶一青;蒋威 -专利权人：华侨大学
申请日： 2023-02-20 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本发明公开一种差动共焦轴向有效测量区域判定装置、方法及系统，涉及共聚焦显微测量领域，方法包括：获取被测样品的表面图像以及预设轴向测量范围；根据预设轴向测量范围，提取差动图像的标准测量灰度区间，并确定焦前图像的第一可测量灰度区间和焦后图像的第二可测量灰度区间；剔除差动图像中标准测量灰度区间以外的图像区域；将第一可测量灰度区间和第二可测量灰度区间作交集运算；根据交集灰度区间过滤掉剔除后的差动图像中的无效测量区域，将剔除后的差动图像中的有效测量区域作为差动共焦轴向测量方法的有效测量区域。本发明的方法能够预判差动共焦轴向测量方法的有效测量区域，提高了差动共焦轴向测量方法在实际测量过程中数据真实性。
一种差动轴向有效测量区域判定装置方法系统

[实用新型]一种差动共聚焦轴向量程拓展测量装置-CN202320166403.8有效
发明人：袁涛;易定容;吴栋梁;叶一青;蒋威 -专利权人：华侨大学
申请日： 2023-02-08 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G01B9/04 文献下载
摘要：本实用新型公开一种差动共聚焦轴向量程拓展测量装置，属于共聚焦显微测量领域。载物台带动被测样品沿轴向方向上下移动，实现层扫，并结合照明单元、准直透镜、数字微镜器件、分光透镜、物镜、聚焦透镜使用的差动共聚焦显微测量技术，通过差动共聚焦测量方法与层扫相结合，扩展了差动共聚焦轴向测量量程，实现了轴向大量程测量，还保证了轴向测量精度。
一种差动聚焦轴向量程拓展测量装置

[发明专利]一种基于光强梯度数的自动对焦测量方法-CN202210821316.1有效
发明人：袁涛;易定容;吴栋梁;叶一青;蒋威 -专利权人：华侨大学
申请日： 2022-07-13 - 公布日： 2023-05-05 - 主分类号： G02B7/28 文献下载
摘要：本发明提出了一种基于光强梯度数的自动对焦测量方法，利用了PSF函数的图像特性并用拟合函数进行了拟合，对不同离焦量下的光点图像利用拟合函数进行拟合，并求一阶导函数；将一阶导函数的极值做差，可得到离焦量—导函数极值差的函数曲线；将离焦量—导函数极值差的函数曲线，利用拟合函数进行拟合；得到标定好的离焦量—导函数极值差函数，通过找寻不同离焦量下所拟合高斯函数存在一阶导函数极值差存在差异的特性，绘制出离焦量—一阶导函数极值差的函数曲线，提高了对焦的精准性，并实现了快速对焦，同时也提高了普适性。
一种基于梯度自动对焦测量方法

[发明专利]一种基于差动并行共聚焦的3D测量误差修正方法及系统-CN202211629568.0在审
发明人：易定容;陈思远;叶一青;吴栋梁;胡欢欢 -专利权人：华侨大学
申请日： 2022-12-19 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供一种基于差动并行共聚焦的3D测量误差修正方法及系统，属于光学显微成像领域，方法包括：分别采集第一波段及第二波段照明下待测样本的共焦图、第三波段及第四波段照明下待测样本的宽场图，得到第一波段共焦图、第二波段共焦图、第三波段宽场图及第四波段宽场图；根据第一波段共焦图及第三波段宽场图确定第一波段修正图；根据第二波段共焦图及第四波段宽场图确定第二波段修正图；将第一波段修正图与第二波段修正图相减得到差动信号图；根据差动信号轴向响应曲线将差动信号图转换为高度图，以测量待测样本的表面高度。有效消除了差动信号受到光照不均及样本反射率不均等的影响，提高了多波段差动并行共聚焦3D测量结果的精度。
一种基于差动并行聚焦测量误差修正方法系统

[发明专利]一种线聚焦彩色共焦三维表面高度测量装置及方法-CN202110051658.5有效
发明人：易定容;叶一青;刘奕乐;蒋威;孔令华 -专利权人：宁波五维检测科技有限公司
申请日： 2021-01-13 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种线聚焦彩色共焦三维表面高度测量装置及方法，涉及物体成像领域，包括线聚焦彩色共焦照明结构和线聚焦彩色共焦成像结构；线聚焦彩色共焦照明结构按照光传播方向的顺序排列的部件包括复色光源、聚焦透镜组、半反半透镜、狭缝、准直透镜组、色散成像透镜组；线聚焦彩色共焦成像光路包括与照明结构共用的色散成像透镜组、准直透镜组、狭缝、半反半透镜，以及光谱相机、图像处理单元。该线聚焦彩色共焦测量装置结构简单，照明与成像光路共用狭缝，因而工程造价低；辅以扫描运动装置能够连续不停的对被测量物体不同表面位置的高度进行测量，快速完成大尺寸三维表面形貌测量。
一种聚焦彩色三维表面高度测量装置方法

[实用新型]一种高深宽比微孔的测量装置-CN202222457428.1有效
发明人：吴栋梁;易定容;袁涛;叶一青;刘奕乐;谢佳豪;林泽金 -专利权人：华侨大学
申请日： 2022-09-15 - 公布日： 2023-02-14 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本申请涉及一种高深宽比微孔的测量装置，该装置包括相机、多通道光源、光束调节装置及载物台，所述载物台用于放置待测微孔样品；所述相机与所述载物台沿竖直方向同轴设置，所述相机与所述载物台之间设置光束调节装置；所述多通道光源用于输出不同的单色光源，并经由所述光束调节装置实现该测量所需光束的光强与方向转折；所述相机用于获取任一两种由待测微孔样品同一位置反射出的单色光源，并发送至计算机，采用多通道光源发出不同波段的光源，DMD调制单点光进行照射微孔，通过不同波段光强做差，光强差转高度，从而进行快速求出高深宽比微孔的高度。
一种高深微孔测量装置

[实用新型]一种自动快速对焦显微镜装置-CN202222415977.2有效
发明人：吴栋梁;易定容;袁涛;叶一青;刘奕乐;谢佳豪;林泽金 -专利权人：华侨大学
申请日： 2022-09-13 - 公布日： 2023-02-14 - 主分类号： G02B21/26 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种自动快速对焦显微镜装置，包括底座、支撑杆、镜头、套筒和连接杆，底座顶端的中心位置处固定连接有支撑杆，且支撑杆的顶端固定连接有照明组件，支撑杆的表面通过套环二连接套杆，且套杆的一侧设置限位组件，在套杆远离限位组件的一侧固定连接有连接杆，套筒的底端固定连接有镜头，镜头的下方设置有防护组件。
一种自动快速对焦显微镜装置

[发明专利]一种双目窄带多波段共焦成像系统-CN202211360745.X在审
发明人：易定容;袁涛;吴栋梁;叶一青;蒋威 -专利权人：华侨大学
申请日： 2022-11-02 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G02B26/00 文献下载
摘要：本发明实施例公开了双目窄带多波段共焦成像系统，涉及共焦成像技术领域。照明单元产生复色光；准直透镜将复色光准直为复色光束；数字微镜器件将复色光束形成点光阵列；色散管镜将第一反射点光阵列进行色散得到单色点光阵列；第一分光透镜对点光阵列进行透射和反射；第一分光透镜还对入射的成像光进行透射和反射；第二分光透镜对第二透射点光阵列进行透射和反射；第一滤光转盘和第二滤光转盘分别承载多个滤光片，并能够切换任一滤光片至第三透射点光阵列的光路上；第一聚焦透镜和第二聚焦透镜进行聚焦；第一成像单元和第二成像单元形成成像结果。本发明实现了在成像过程中更换滤光片，提高成像效率。
一种双目窄带波段成像系统

[实用新型]一种并行彩色共焦差动测量的反射率不均消除系统-CN202222859782.7有效
发明人：袁涛;易定容;叶一青;吴栋梁;蒋威 -专利权人：华侨大学
申请日： 2022-10-28 - 公布日： 2023-01-24 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种并行彩色共焦差动测量的反射率不均消除系统，属于共焦测量技术领域。该系统包括：复色光源、准直透镜、数字微镜器件、第一分光透镜、色散管镜、物镜、载物模块、第二分光透镜、第一滤光转盘、第一滤光片、第一聚焦透镜、焦前相机、第三分光透镜、第二滤光转盘、第二滤光片、第二聚焦透镜、焦面相机、第三滤光转盘、第三滤光片、第三聚焦透镜、焦后相机和处理单元。基于该并行彩色共焦测量的反射率不均消除系统，通过反射率为乘性的特性，利用焦面光谱信息消除被测物体对不同波长反射率不同的影响，去除了并行彩色共焦差动测量过程中因不同波段导致的反射率各异因此的测量误差问题，极大提高了测量的准确性。
一种并行彩色差动测量反射率不均消除系统

[实用新型]一种双目窄带多波段共焦成像系统-CN202222906033.5有效
发明人：袁涛;易定容;吴栋梁;叶一青;蒋威 -专利权人：华侨大学
申请日： 2022-11-02 - 公布日： 2023-01-10 - 主分类号： G02B26/00 文献下载
摘要：本实用新型实施例公开了双目窄带多波段共焦成像系统，涉及共焦成像技术领域。照明单元产生复色光；准直透镜将复色光准直为复色光束；数字微镜器件将复色光束形成点光阵列；色散管镜将第一反射点光阵列进行色散得到单色点光阵列；第一分光透镜对点光阵列进行透射和反射；第一分光透镜还对入射的成像光进行透射和反射；第二分光透镜对第二透射点光阵列进行透射和反射；第一滤光转盘和第二滤光转盘分别承载多个滤光片，并能够切换任一滤光片至第三透射点光阵列的光路上；第一聚焦透镜和第二聚焦透镜进行聚焦；第一成像单元和第二成像单元形成成像结果。本实用新型实现了在成像过程中更换滤光片，提高成像效率。
一种双目窄带波段成像系统

[实用新型]一种单目窄带多波段共焦成像系统-CN202222906058.5有效
发明人：袁涛;易定容;吴栋梁;叶一青;蒋威 -专利权人：华侨大学
申请日： 2022-11-02 - 公布日： 2023-01-03 - 主分类号： G02B26/00 文献下载
摘要：本实用新型实施例公开了一种单目窄带多波段共焦成像系统，涉及共焦成像技术领域。照明单元产生复色光；准直透镜将复色光准直为复色光束；滤光转盘承载多个滤光片，并且，能够切换任一滤光片至复色光束的光路上；位于光路上的滤光片能够过滤复色光束形成窄带光；数字微镜器件将窄带光形成点光阵列；照明单元的中心以及数字微镜器件的中心位于准直透镜的光轴上；载物模块承载待成像物体；物镜、分光透镜、聚焦透镜和成像模块的中心共线；数字微镜器件的中心与分光透镜的中心共线；成像模块收集来自聚焦透镜的点光阵列，并形成成像结果。本实用新型实现了在成像过程中更换滤光片，提高了成像效率。
一种窄带波段成像系统

[发明专利]一种并行彩色共焦差动测量的反射率不均消除系统及方法-CN202211336692.8在审
发明人：易定容;袁涛;吴栋梁;叶一青;蒋威 -专利权人：华侨大学
申请日： 2022-10-28 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种并行彩色共焦差动测量的反射率不均消除系统及方法，属于共焦测量技术领域。该系统包括：复色光源、准直透镜、数字微镜器件、第一分光透镜、色散管镜、物镜、载物模块、第二分光透镜、第一滤光转盘、第一滤光片、第一聚焦透镜、焦前相机、第三分光透镜、第二滤光转盘、第二滤光片、第二聚焦透镜、焦面相机、第三滤光转盘、第三滤光片、第三聚焦透镜、焦后相机和处理单元。基于该并行彩色共焦测量的反射率不均消除系统，通过反射率为乘性的特性，利用焦面光谱信息消除被测物体对不同波长反射率不同的影响，去除了并行彩色共焦差动测量过程中因不同波段导致的反射率各异因此的测量误差问题，极大提高了测量的准确性。
一种并行彩色差动测量反射率不均消除系统方法

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