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[实用新型]一种Suns‑Voc测试装置-CN201620532885.4有效
发明人：李琰琪;张高洁;王栩生 -专利权人：苏州阿特斯阳光电力科技有限公司
申请日： 2016-06-03 - 公布日： 2016-10-26 - 主分类号： H02S50/10 文献下载
摘要：一种Suns‑Voc测试装置，包括测试平台，还包括至少一个测试探针排，每个测试探针排包括一导电基板，导电基板上设置有至少两根测试探针，各测试探针在同一直线上间隔布置；所述导电基板上测试探针分布方向的两端与所述测试平台之间设置有可拆卸连接结构本实用新型通过测试探针排测试每根栅线的电压，测试探针排上的多根测试探针同时对栅线上的多个点进行采样，测试结果更加可靠。
一种 suns voc 测试装置

[实用新型]一种刻蚀机测试探针固定块-CN202223277698.0有效
发明人：卞玉;高志祥;张龙桃;姚晓文;白利才 -专利权人：南京中电熊猫晶体科技有限公司
申请日： 2022-12-07 - 公布日： 2023-06-13 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及石英晶体电子元器件制造技术领域，具体涉及一种刻蚀机测试探针固定块；包括测试PCB板、双头测试探针和固定块，固定块具有探针孔洞，双头测试探针贯穿探针孔洞，双头测试探针的一端与测试PCB板相贴合，通过将双头测试探针直接安插在探针孔洞处，将固定块安装在刻蚀机相应位置，安装后双头测试探针和不带探针套管通孔的测试PCB板紧密贴合在一起；使用刻蚀机测试探针固定块后，更换双头测试探针时不需要焊接的步骤，直接插拔双头测试探针即可，更换双头测试探针消耗时间减少，提高了工作效率；同时由于不需要在测试PCB板进行重复焊接，测试PCB板使用寿命得到延长，获得提高调频工序的生产效率的效果。
一种刻蚀测试探针固定

[实用新型]一种用于PCB板测试装置的防压伤测试探针结构-CN201921097868.2有效
发明人：卢世雄 -专利权人：深圳市宾德宝电子科技有限公司
申请日： 2019-07-12 - 公布日： 2020-04-14 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型公开一种用于PCB板测试装置的防压伤测试探针结构，包括依次安装的探针座、绝缘支撑层、测试探针、缓冲弹簧、OK线，测试探针上设有导电胶层，测试探针通过导电胶层与PCB板上的待测位抵接，测试探针上还设有用于挂设导电胶层的L型孔道，L型孔道两端的开口分别设于测试探针侧壁和测试探针端部。通过在测试探针端部覆盖具有弹性的导电胶层，并结合缓冲弹簧缓冲测试探针对PCB板待测位的冲击，提高产品测试良率；测试探针内的L型孔道，用于挂设导电胶层，增加导电胶层附着于测试探针端部的接触面积，防止导电胶层从测试探针脱落
一种用于 pcb 测试装置防压伤探针结构

[发明专利]一种移动终端测试夹具保护装置-CN201410830138.4有效
发明人：孙浩 -专利权人：上海斐讯数据通信技术有限公司
申请日： 2014-12-22 - 公布日： 2019-07-05 - 主分类号： G01R1/30 文献下载
摘要：本发明公开了一种移动终端测试夹具保护装置，包括测试探针以及与所述测试探针电性连接的保护电路；其中，所述测试探针包括：VBUS电源信号测试探针、VBAT电源信号测试探针、其他信号测试探针、和地信号测试探针有益效果是：通过对测试探针与所述测试探针电性连接的保护电路的设置，能够保护移动终端在使用夹具测试过程中不被外界环境产生的ESD和夹具上电瞬间产生的高电压脉冲损伤，保证了移动终端的产品质量。
一种移动终端测试夹具保护装置

[发明专利]一种半导体晶圆片多路测试方法和多路测试探针台-CN200510102170.1有效
发明人：杨波 -专利权人：深圳市矽电半导体设备有限公司
申请日： 2005-12-05 - 公布日： 2006-06-21 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种半导体晶圆片多路测试方法，由探针台主机控制多路切换器，使测试机的测试头依次与与各组测试探针连接。还公开了一种多路测试探针台，其探针台主机嵌入有多路测试及通信软件；测试探针头是多芯片测试探针头，其上设有可以同时与多个芯片连接的多组测试探针；作标记装置是多路作标记装置，由探针台主机控制给测试出的不合格芯片作标记；还设有路数与多芯片测试探针头的测试探针数量相同的多路切换器，多路切换器通过另一控制线与测试探针头相连接，将测试机的测试头与各路对应的多芯片测试探针头的一组测试探针分别连通。本发明可在探针台主机的一个运动周期内完成至少两个待测半导体芯片的测试，比较显著地提高测试速度和效率。
一种半导体晶圆片多路测试方法探针

[发明专利]一种用于充电接口接触电阻的标准检测量具-CN201910419095.3在审
发明人：徐平安;黄建芳;林国军 -专利权人：深圳巴斯巴科技发展有限公司
申请日： 2019-05-20 - 公布日： 2019-08-16 - 主分类号： G01R27/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于充电接口接触电阻的标准检测量具，包括第一测试探针以及设于第一测试探针内的第二测试探针，所述第一测试探针和第二测试探针之间设有绝缘套，所述第二测试探针的前端分别延伸出所述绝缘套和第一测试探针，所述第二测试探针的后端延伸出所述绝缘套，所述第二测试探针的前端外周设有弹性触指。本发明可直接测量充电座内部端子的接触电阻，不需拆卸充电座，并且测试简便快捷，大大提高了操作人员的工作效率。
测试探针接触电阻绝缘套标准检测充电接口充电座量具工作效率内部端子直接测量延伸拆卸触指外周测试

[实用新型]一种用于充电接口接触电阻的标准检测量具-CN201920722648.8有效
发明人：徐平安;黄建芳;林国军 -专利权人：深圳巴斯巴科技发展有限公司
申请日： 2019-05-20 - 公布日： 2020-04-14 - 主分类号： G01R27/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于充电接口接触电阻的标准检测量具，包括第一测试探针以及设于第一测试探针内的第二测试探针，所述第一测试探针和第二测试探针之间设有绝缘套，所述第二测试探针的前端分别延伸出所述绝缘套和第一测试探针，所述第二测试探针的后端延伸出所述绝缘套，所述第二测试探针的前端外周设有弹性触指。本实用新型可直接测量充电座内部端子的接触电阻，不需拆卸充电座，并且测试简便快捷，大大提高了操作人员的工作效率。
一种用于充电接口接触电阻标准检测量具

[实用新型]一种斜面探测的测试探针结构-CN201320357734.6有效
发明人：冯白华;贾延蝶;王振波 -专利权人：深圳市三一联光自动化设备有限公司
申请日： 2013-06-21 - 公布日： 2013-12-18 - 主分类号： G01R1/073 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种斜面探测的测试探针结构，涉及元器件测试技术领域；它包括有两探针套，所述两探针套内分别固定有一测试探针，两测试探针相对设置，所述两测试探针的顶端均具有一斜面，该斜面与水平面的夹角小于90°，所述两测试探针可将测试元件夹持并进行测试；本实用新型的有益效果是：本实用新型可保证测试探针与测试元件接触时均为线接触，不存在不稳定的因素，大大的提高了测试精度，当测试探针与测试元件接触时，测试探针会对测试元件产生一个向下的分力，可防止测试元件的一端浮起或者翘起，提高测试精度。
一种斜面探测测试探针结构

[实用新型]一种继电器自动检测设备-CN201822169344.1有效
发明人：岳秀峰;陈飞勇;周义;方君发 -专利权人：东莞市高登电器有限公司
申请日： 2018-12-21 - 公布日： 2019-12-03 - 主分类号： G01R31/327 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种继电器自动检测设备，用于对继电器的电气参数进行检测，包括支架、竖向测试探针、横向测试探针、第一直线驱动器、第二直线驱动器及测试仪，第一直线驱动器沿竖直方向设置于支架上，第一直线驱动器驱使竖向测试探针上下移动，第二直线驱动器沿水平方向设置于支架上，第二直线驱动器驱使横向测试探针左右移动，竖向测试探针与横向测试探针均与测试仪连接；当对继电器进行检测时，竖向测试探针与横向测试探针均接触于待测继电器的测试点。本实用新型的继电器自动检测设备中采用竖向测试探针和横向测试探针两排测试探针增加测试时探针与引脚的接触面积，可以减少继电器自动检测过程中接触电阻的误判，提升产线直通率。
继电器直线驱动器测试探针探针横向测试竖向支架自动检测设备本实用新型测试仪水平方向设置自动检测过程电气参数方向设置接触电阻上下移动左右移动测试点误判检测产线两排竖直引脚测试

[实用新型]用于测试圆柱形小电池的夹具-CN201721643239.6有效
发明人：孙东明;宋长光;卢泽 -专利权人：北京大华品耐科技有限公司
申请日： 2017-11-30 - 公布日： 2018-06-05 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于测试圆柱形小电池的夹具，包括：绝缘基板和至少一组测试探针组；各组测试探针组由一个固定测试弹簧探针和一个滑动测试探针组件组成；各组测试探针组的固定测试弹簧探针固定设置在所述绝缘基板下部；各组测试探针组的滑动测试探针组件活动设在所述绝缘基板上部，该滑动测试探针组件能沿所述绝缘基板上下滑动，相对设置的该滑动测试探针组件与所述固定测试弹簧探针位置之间的空间为夹持所测试圆柱形小电池的容置空间
测试探针组件测试探针组绝缘基板滑动测试弹簧测试圆柱小电池夹具本实用新型方便维修方便移动夹具结构节省空间容置空间上下滑动探针固定探针位置相对设置体积小重量轻夹持探针美观

[实用新型]一种用于静音开关导通测试的测试探针连接电路板-CN202022378593.9有效
发明人：林懋瑜;李明;黎启东;郝瑶 -专利权人：苏州汇亿达光学科技有限公司
申请日： 2020-10-23 - 公布日： 2021-08-31 - 主分类号： G01R31/327 文献下载
摘要：一种用于静音开关导通测试的测试探针连接电路板，包括：测试探针连接电路板为一基本矩形的板式结构，板式结构的中部设置多个下压探针电路板过穿孔和多个测试探针焊接孔，下压探针电路板过穿孔的直径大于下压探针的直径，使下压探针无阻碍的穿过下压探针电路板过穿孔；每一个测试探针直接焊接在对应的一测试探针焊接孔上；矩形板式结构的四个直角处设置四个固定孔，固定孔的直径与连接测试探针固定板的铜柱的直径相适应，使测试探针连接电路板稳固地连接在测试探针固定板上本实用新型解决了当前测试过程中，测试探针和下压探针的下压动作需要用一个执行机构控制，需要一适合设计要求的测试探针连接电路板的问题。
一种用于静音开关测试探针连接电路板

[实用新型]电路板电性测试装置及其测试探针夹具-CN201921164996.4有效
发明人：严武;李涛;徐海洋 -专利权人：无锡凯扬电子科技有限公司
申请日： 2019-07-23 - 公布日： 2020-05-19 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型属于电路板测试技术领域，尤其涉及一种电路板电性测试装置及其测试探针夹具。该测试探针夹具包括握持部和夹持臂，夹持臂远离握持部的端部形成有夹持部，夹持部上开设有用于供测试探针插接安装的插接孔，夹持臂的长度大于握持部的长度；测试时，将测试探针插接安装于插接孔内，作业人员握持测试探针夹具的握持部，移动测试探针夹具使夹持部上的测试探针与测试点接触即可实现对电路板的电性检测，操作简单；且该测试探针夹具具有很好的通用性，安装测试探针后能够用于对不同种类的电路板进行电性测试，测试时无需针对不同的电路板制作专门的测试治具，只需安装测试探针即可。
电路板测试装置及其探针夹具

[发明专利]电路板-CN202010177678.2有效
发明人：魏兆璟;许维哲;吴姿悯 -专利权人：颀邦科技股份有限公司
申请日： 2020-03-13 - 公布日： 2022-05-06 - 主分类号： H05K1/02 文献下载
摘要：一种电路板包含载体、图案化金属层、防焊层及标记，该图案化金属层设置于该载体的表面，该图案化金属层具有多个线路，该防焊层覆盖各该线路并显露出各该线路的线路段，所述线路段通过该载体的测试探针动作路径区，该测试探针动作路径区用以界定测试探针卡的移动轨迹，以使移动中的该测试探针卡的测试探针依序接触位于该测试探针动作路径区上的所述线路段，该标记具有识别边界，该识别边界用以检视该测试探针动作路径区，以避免移动中的该测试探针卡偏移该测试探针动作路径区。
电路板

[实用新型]一种扁平电机转子的测试夹具-CN201621011167.9有效
发明人：王珏 -专利权人：上海锦科电气科技有限公司
申请日： 2016-08-30 - 公布日： 2017-09-29 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种扁平电机转子的测试夹具，包括扁平电机放置前板、测试探针限位引线环、滑块引导旋转盘、测试探针滑块导向盘、测试探针滑块导向盘固定板、推动气缸限位块、测试探针滑块、连杆、安装固定底板和推动气缸；所述扁平电机放置前板与测试探针限位引线环连接，所述滑块引导旋转盘和测试探针滑块导向盘上均设置有配合测试探针滑块穿过的测试探针滑块导向槽，滑块引导旋转盘与推动气缸通过连杆连接；所述测试探针滑块导向盘固定板固定安装在安装固定底板上该扁平电机转子的测试夹具设计合理，结构简单，具有进给行程范围大、使用简单可靠、接触力可调节、速度快、使用效果较好的优点。
一种扁平电机转子测试夹具

[实用新型]一种电线电缆火花机灵敏度检定仪人工击穿装置-CN201721480406.X有效
发明人：李广林 -专利权人：东莞市杰恩检测设备有限公司
申请日： 2017-11-08 - 公布日： 2018-05-18 - 主分类号： G01R31/12 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种电线电缆火花机灵敏度检定仪人工击穿装置,包括平板针、测试探针、测试探针夹头、测试探针锁紧螺丝、测试探针滑动本体、测试探针高度调节螺丝、测试探针高度调节螺丝卡板、测试探针高度调节螺丝锁紧螺丝、测试探针安装本体、交流AC、直流DC电压测试距离调节块、距离调节刻度、高压输入端、操作控制区、测试电阻选择区、电容选择区、电流显示区等，本实用新型利用通过调节测试探针与平板针的距离，实现模拟电线电缆火花机正常工作时击穿电流
一种电线电缆火花机灵敏度检定人工击穿装置