专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
专利下载VIP
公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
更多 »
专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
更多 »
钻瓜专利网为您找到相关结果803936个,建议您升级VIP下载更多相关专利
  • [发明专利]一种表面贴装二极元器件的通用测试夹具-CN201510524483.X有效
  • 范春帅;陈尔鹏 - 贵州航天计量测试技术研究所
  • 2015-08-25 - 2018-02-13 - G01R1/04
  • 本发明公开了一种表面贴装二极元器件的通用测试夹具,包括前后滑动定位滑块、弹性测试模块和抽拉底板,前后滑动定位滑块采用两块滑体前后对称放置,通过底部设置的丝杠螺母副带动两块滑体相向移动,靠近底部设置有可活动的抽拉底板,抽拉底板左端连接有复位装置,其上两滑块间设置有弹性测试模块,弹性测试模块包括相向正对放置的可弹性伸缩的左测试和右测试。本发明将被测器件放入可变的放置槽中,通过弹性测试的紧固和抽拉底板的可分离,可实现被测器件的快速更换和测试,并且可变的两块滑体和弹性压杆,可实现不同规格的被测器件测试,大大提高测试效率和测试精度,还具有结构简单
  • 一种表面二极元器件通用测试夹具
  • [实用新型]一种表面贴装二极元器件的通用测试夹具-CN201520643825.5有效
  • 范春帅;陈尔鹏 - 贵州航天计量测试技术研究所
  • 2015-08-25 - 2015-12-23 - G01R1/04
  • 本实用新型公开了一种表面贴装二极元器件的通用测试夹具,包括前后滑动定位滑块、弹性测试模块和抽拉底板,前后滑动定位滑块采用两块滑体前后对称放置,通过底部设置的丝杠螺母副带动两块滑体相向移动,靠近底部设置有可活动的抽拉底板,抽拉底板左端连接有复位装置,其上两滑块间设置有弹性测试模块,弹性测试模块包括相向正对放置的可弹性伸缩的左测试和右测试。本实用新型将被测器件放入可变的放置槽中,通过弹性测试的紧固和抽拉底板的可分离,可实现被测器件的快速更换和测试,并且可变的两块滑体和弹性压杆,可实现不同规格的被测器件测试,大大提高测试效率和测试精度,
  • 一种表面二极元器件通用测试夹具
  • [实用新型]同轴线端子自动测试机构-CN201720603226.X有效
  • 王国鑫;余涵 - 东莞市典桢机械有限公司
  • 2017-05-26 - 2017-12-26 - G01R31/00
  • 本实用新型公开了一种同轴线端子自动测试机构,包括固定底座,该固定底座上可左右移动且可升降地设有测试,该固定底座上设有立板,于该立板上还对应测试可上下移动地设有端子固定组件、可左右移动地设有线束拉直组件,该端子固定组件位于该测试上方,该线束拉直组件位于该测试后侧。本实用新型结构设计合理巧妙,采用力矩反馈技术,对端子在夹持过程中出现的异常能自动监测;可根据线束长短、大小、端子大小的变化而自动调整位置;采用气缸控制探针升降运动,使探针与端子中心垂直,确保不会损伤端子以及测试
  • 同轴线端子自动测试机构
  • [实用新型]一种自动测试夹具-CN202123376276.4有效
  • 刘顺;纪永刚;周潇璨 - 芯恩(青岛)集成电路有限公司
  • 2021-12-29 - 2022-06-28 - G01R1/04
  • 本实用新型提供一种自动测试夹具,该自动测试夹具包括第一滑动板、第二滑动板、第一探针驱动件及第二探针驱动件,第一探针驱动件及第二探针驱动件均包括马达、若干个半径互不相同的皮带轮,皮带轮上分别套设有传动皮带,各个所述传动皮带上固定有测试测试能够在马达的驱动下发生位移进而改变各个测试之间的相对距离,以适应不同类型的功率器件,通过第一滑动板及第二滑动板能够分别使测试发生上下运动及左右运动。本实用新型将现有的多种测试夹具整合为一个,减少管理上的不便并缩短适配时间。此外还通过控制模块智能控制第一滑动板、第二滑动板、及测试的运动,提高测试的自动化程度,并实现对待测器件的精确定位。
  • 一种自动测试夹具
  • [实用新型]一种测试组件-CN201420276528.7有效
  • 聂林红 - 深圳市策维科技有限公司
  • 2014-05-27 - 2015-05-13 - G01R1/067
  • 本实用新型提供了一种测试组件,测试组件包括测试和金手指,金手指包括对端连接的插入部和固定部,固定部的截面尺寸大于插入部的截面尺寸,进而在插入部与固定部的连接处形成阶梯面,测试包括探针本体,探针本体的一端为中空设计,进而与插入部进行接插配合,探针本体的一端支撑于阶梯面上。通过以上公开内容,本实用新型可解决目前的探针组装比较困难,对通孔的加工要求较高,且上电不稳定的技术问题。
  • 一种测试探针组件
  • [实用新型]非晶硅太阳能电池的测试电极夹具-CN200920129615.9有效
  • 李毅;李新春 - 李毅
  • 2009-01-19 - 2009-12-09 - G01R1/04
  • 本实用新型涉及一种非晶硅太阳能电池的测试电极夹具,属于太阳能电池测试技术领域,测试电极夹具包括由上、下夹板夹持测试构成测试电池正、负电极的夹具,测试固定在上夹板的凹槽内,在所说的上、下夹板之间设有与测试连接的导体输出测试采集的电信号有益效果是:本实用新型不仅结构简单,成本低,而且操作方便;夹具的测试成直线排列,放置在电池等电位的电极上,由多点采集电池电极的电信号,减小了测试夹具与被测电池电极间的接触电阻,提高了测试电极的准确性
  • 非晶硅太阳能电池测试电极夹具
  • [实用新型]用于无射频测试座的射频信号测试-CN202022171540.X有效
  • 刘好;唐锡辉;左达恒 - 深圳合一测试科技有限公司
  • 2020-09-28 - 2021-04-20 - G01R1/067
  • 本实用新型所提出的一种用于无射频测试座的射频信号测试,包括针管套,针管套形成的通道中容置有测试测试的尾端连接有连接线,测试的首端设置有内弧面,内弧面与天线弹片进行接触连接;因为应用在无测试座的射频信号测试中,所以优选选择的测试点位是在天线弹片上,而在天线弹片的设计中,会设计有一个凸起结构,现有技术中的测试在接触天线弹片进行测试时,会出现接触不稳定的情况,而采用本实用中的探针,利用内弧面和天线弹片进行稳定接触,就算有小幅度的晃动也不会出现接触不良的情况,能够非常好的适用无射频测试座的测试
  • 用于射频测试信号探针
  • [发明专利]一种测试及其测试方法-CN202211419093.2在审
  • 方经军 - 苏州斯丹德电子科技有限公司
  • 2022-11-14 - 2023-03-21 - G01R1/073
  • 本发明提供一种测试及其测试方法。所述测试连接块的一侧固定连接有探针动力组件,所述探针动力组件包括与测试连接块固定连接的调节盒,所述调节盒顶部的中间固定连接有操作电机盒,所述操作电机盒内壁的顶部通过电机座固定连接有操作电动机,所述操作电动机输出轴的底端通过联轴器固定连接有螺纹轴本发明提供的测试及其测试方法,通过探针动力组件的设置,装置能够通过操作电动机的转动,直接带动螺纹轴转动进而带动衔接板移动,方便设备快速操作,并且相关结构极为简单,易于操作控制,同时配合测试连接块能够稳定使用
  • 一种测试探针及其方法
  • [实用新型]一种移动通信终端的测试头及主板-CN200920118836.6无效
  • 大卫·泽;何毅 - 萨基姆移动电话研发(宁波)有限公司
  • 2009-04-30 - 2010-03-10 - H04M1/24
  • 本实用新型涉及一种移动通信终端的测试头及主板,所述测试头包括一壳体和测试,该壳体具有一成平面的端面,测试的头部外漏于壳体的平面端面,而测试尾部上连接有数据线,该数据线则与外部测试设备相连与现有技术相比,本实用新型的优点在于:1.使用通用标准测试头,降低成本,保持测试的稳定性,可以延长测试的使用寿命,又使得批量测量成为可能,移动通信的主板生产维护更加方便。4.合理安排测试点对应信号位置,使线路间干扰更少,后期其它项目可保持相同的最佳测试点信号位置。
  • 一种移动通信终端测试探头主板
  • [发明专利]一种晶圆级测试卡及晶圆级测试卡装配方法-CN202110240275.2有效
  • 赵梁玉;于海超 - 强一半导体(苏州)有限公司
  • 2021-03-04 - 2022-03-08 - G01R31/28
  • 本发明一种晶圆级测试卡及晶圆级测试卡装配方法属于探针卡、晶圆测试技术领域;该晶圆级测试卡包括PCB板、信号转接板和探针,还包括中介板组、导引板组和间隔件组;所述中介板组包括顶部中介板、底部中介板及低功耗中介板,所述探针包括电源探针、接地探针、低频信号探针和高频信号探针四种,分别与信号转接板和中介板组连接;该晶圆级测试卡装配方法以此执行以下步骤:对齐装针孔、置针、探针限位和连接PCB;本发明通过探针分组为信号去耦、抗干扰、降噪等处理电路提供足够的容纳空间,可隔离或降低不同信号探针之间的耦合和干扰,提升系统的整体测试性能,特别地,可提升系统高频测试能力。
  • 一种晶圆级测试探针装配方法

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top