专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种复合极片及其制备方法和应用-CN202111531226.0在审
  • 卢林;李庆玲;蒋治亿 - 江苏天合储能有限公司
  • 2021-12-14 - 2023-04-21 - H01M10/42
  • 本发明提供了一种复合极片及其制备方法和应用,所述复合极片包括集流体、活性物质层及设置在所述集流体和活性物质层之间的接触调控层,所述接触调控层包括依次并列设置的第一接触调控层、第二接触调控层、第三接触调控层、第四接触调控层和第五接触调控层,所述第一接触调控层、第三接触调控层和第五接触调控层的材料相同,所述第二接触调控层和第四接触调控层的材料相同,本发明通过控制集流体与活性物质涂层之间的接触来减小或消除边缘的电流密度大的现象
  • 一种复合及其制备方法应用
  • [发明专利]接触的测试方法与装置-CN202011241123.6有效
  • 杨海洋 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2020-11-09 - 2023-05-16 - G01R27/02
  • 本申请提供了一种接触的测试方法与装置,用于测试MOS晶体管的接触;上述方法包括:获取接触的单位面积电阻值与电阻温度系数,根据上述单位面积电阻值、电阻温度系数以及接触的面积,确定接触的目标电阻值即本申请实施例所提供的接触的测试方法,在测试过程中能够根据接触电阻温度系数,对接触的测量结果进行校正,可以有效消除环境温度对接触的测量结果的影响,进而提升MOS晶体管的测量精确度。
  • 接触电阻测试方法装置
  • [发明专利]接触减小-CN201680052244.1有效
  • G·M·耶里克 - 阿姆有限公司
  • 2016-09-08 - 2019-01-15 - G06F17/50
  • 本文描述的各种实现方式针对用于减小接触的系统和方法。在一种实现方式中,一种方法可以包括分析集成电路的单元的操作条件。所述方法可以包括选择性地标记沿着集成电路的关键路径具有时序退化的单元的实例。所述方法可以包括降低用于选择性标记的具有时序退化的单元的实例的接触
  • 接触电阻减小
  • [发明专利]金属接触测试方法和测试回路-CN202010402442.4有效
  • 聂永杰;许博文;赵现平 - 云南电网有限责任公司电力科学研究院
  • 2020-05-13 - 2022-04-08 - G01R27/08
  • 本申请公开一种金属接触测试方法和测试回路,所述方法包括:在待测接触金属的两端分别接入限流电阻,通入特定电压,形成闭合回路,利用霍尔元件感应接触的磁场分布,并根据霍尔电压和电流,计算得到接触处的磁场强度;然后根据磁场强度及霍尔元件的参数,得到接触上的电流分布,当测试接触金属接头之间的接触时,根据输入电压和回路电流获得所述闭合回路的总电阻,并根据总电阻以及限流电阻的阻值,计算接触。采用前述的方法,可准确的测试接触金属的接触值分布情况,提高了金属接触测试准确性。
  • 金属接触电阻测试方法回路
  • [发明专利]一种判定弓网接触弧发生的接触力阈值模型构建方法-CN201910743615.6有效
  • 刘志刚;周虹屹 - 西南交通大学
  • 2019-08-13 - 2022-04-29 - G06F30/23
  • 本发明提出一种判定弓网接触弧发生的接触力阈值模型构建方法,首先基于现有的Holm电接触理论中a斑点接触模型,考虑其圆形接触斑点的假设结合电流密度的定义推导接触接触点电流密度的关系式;再根据a斑点接触模型中圆形接触斑点的假设得出接触接触力的关系式,最后联立其与接触点电流密度的关系式获得判定弓网接触弧发生的接触力阈值模型。本发明可用于计算接触弧发生的接触力阈值以及接触阈值,首次针对接触影响弓网受流给出具体的计算模型,可揭示接触与弓网电接触可靠性的具体关系。
  • 一种判定接触电弧发生阈值模型构建方法
  • [发明专利]一种接触测试系统-CN201610791234.1在审
  • 李全海;刘剑峰;肖永清;姜伟;祝金 - 李全海
  • 2016-08-31 - 2017-02-22 - G01R27/02
  • 本发明公开了一种接触测试系统,所述系统包括:接触测试仪、测试装置;所述测试装置包括:接头测试模块、检查评估模块、数据库;所述接头测试模块发出指令,启动接触测试仪;所述接触测试仪测量电气设备接头的接触值;所述接触测试仪将测量得到的接触值返回至接头测试模块;所述数据库对测量得到的接触值记录并保存;所述检查评估模块根据评价标准,对测量的接触值进行评价,将评价结果进行记录并保存。通过本发明中的一种接触测试系统,达到一次电气设备接头精细化检修的目的,使一次电气设备接头与其一次主电气设备的状态检修周期同步进行。
  • 一种接触电阻测试系统
  • [发明专利]接触的测试方法及设备-CN202110551274.X在审
  • 林仕杰 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2021-05-20 - 2022-11-22 - G01R31/26
  • 本申请实施例提供了一种接触的测试方法及设备,在测试工作于线性区的MOS晶体管的接触时,通过确定MOS晶体管在各个采样温度下的总阻值与MOS晶体管的沟道宽度之间的函数关系,来确定出MOS晶体管的接触在各个采样温度下的阻值;根据MOS晶体管的接触在各个采样温度下的阻值,确定出接触在当前环境温度下的校准系数,进而根据接触在当前环境温度下的校准系数,对接触的测量结果进行校正,得到接触在当前环境温度下的准确阻值,可以有效消除环境温度以及寄生效应对接触的测量结果产生的影响,提升MOS晶体管的测量精确度。
  • 接触电阻测试方法设备

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