专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种带放大镜的测试-CN201210489102.5无效
  • 李佳 - 西安威正电子科技有限公司
  • 2012-11-26 - 2014-06-04 - G01R1/067
  • 一种带放大镜的测试,包括测试测试的针尾连接有测试导线,在测试的针身上用螺栓连接带有放大镜的放大镜框架,放大镜向与测试的针头倾斜,放大镜在放大镜框架中通过水平转轴连接,并能够沿该水平转轴在垂直方向上转动,本发明将放大镜安装在探针上,能够在测试较大电子产品时直接用该放大镜观察测试扎点,给产品测试排障带来了很大的便利。
  • 一种放大镜测试探针
  • [发明专利]CIS电路测试-CN200910246262.5无效
  • 洪乾耀 - 汉民测试系统股份有限公司
  • 2009-12-02 - 2011-05-04 - G01R1/067
  • 本发明是有关于一种CIS电路测试卡。本发明的CIS电路测试卡的一方面是通过将一光学组件设置于此CIS电路测试卡的基板邻近区域,用以在一光线投射至此CIS电路测试卡的基板之前,准直该光线,来有效地改善由光线投射至晶圆的均匀性不足本发明的CIS电路测试卡的另一方面是通过改变CIS电路测试卡的孔洞以及探针的几何配置,使CIS电路测试卡具有小孔洞,并以一对一的方式对应于CIS晶片,使得每一小孔洞设置于一相对应的CIS晶片上方,从而使探针在CIS晶片的感光区域产生阴影的风险可以有效降低。
  • cis电路测试探针
  • [实用新型]一种针座及探针-CN202121266443.7有效
  • 颜建武;杨应俊 - 矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
  • 2021-06-08 - 2022-02-15 - G01R1/04
  • 本实用新型提出一种针座及探针台。一种针座,包括探针安装部,所述探针安装部用于安装测试,所述探针安装部设置有限位槽,以及沿垂直于限位槽延伸方向设置的锁紧螺纹孔;所述针座还包括与锁紧螺纹孔螺接的锁紧螺杆,所述锁紧螺杆的螺帽设置有让位切口;在锁紧螺杆拧入锁紧螺纹孔时,测试能够经让位切口置入限位槽,旋转锁紧螺杆使螺帽抵紧测试;一种应用所述针座的探针台;测试更换方便,测试安全可靠固定于探针安装部。
  • 一种探针
  • [实用新型]一种用于大电流芯片的开尔文测试-CN202221930389.6有效
  • 金鑫;张向林 - 苏州微缜电子科技有限公司
  • 2022-07-26 - 2022-12-13 - G01R1/073
  • 本实用新型涉及一种用于大电流芯片的开尔文测试座,包括底座,底座的上方连接设置测试座,测试座的上端面向下开设凹槽卡接导向座,导向座的上端面向下开设凹槽卡接被测芯片。测试座开槽处内侧底部连接引脚板,并于引脚板上开设多个探针孔用于安装测试探针孔设置为直槽通孔结构。导向座开槽处内侧底部开设引脚孔伸出被测芯片的测试引脚,通过将探针孔改进成直槽通孔结构,能够使测试测试时不会在孔内发生转动,使得测试与被测芯片引脚接触更加准确,也就提高了芯片测试的精准性。并将测试采用为大直径探针,且在其外表作特殊的镀层处理,以确保测试和被测芯片引脚之间的接触阻抗,使测试能够承受大电流。
  • 一种用于电流芯片开尔文测试
  • [实用新型]一种电池的OCV测试设备-CN202120541710.0有效
  • 黎月光;冯洪宇 - 恒大新能源技术(深圳)有限公司
  • 2021-03-16 - 2021-12-14 - G01R31/385
  • 本实用新型涉及新能源电池生产技术领域,具体公开了一种电池的OCV测试设备。本实用新型提供的电池的OCV测试设备中的夹爪组件与测试组件分开设置,解决了现有技术中因夹持接触不良而导致测量精度降低的问题,本实用新型提供的测试设备提高了测试组件与电池包的导电柄接触的稳定性,进而提高了测试精度;由于夹爪组件与测试组件的相对位置固定,因此每次测试测试位置也是一致的,使电池内阻测试具有一致性;此外,测试与导电柄的端部接触,有效避免了测试受径向弯矩而使测试变形的问题,延长了测试的使用寿命,且测试与导电柄接触稳定性好,减少了测试对导电柄的损伤,避免导电柄焊接区被划伤、刺破。
  • 一种电池ocv测试设备
  • [实用新型]精准驱动多探针测试装置-CN202223386176.4有效
  • 于阿沄;杨威;李锋 - 立芯科技(昆山)有限公司
  • 2022-12-16 - 2023-08-15 - G01R31/28
  • 本实用新型实施例公开了一种精准驱动多探针测试装置,利用直线驱动器以及位于其两侧的多个直线导向部的相互配合,一同带动多个测试同步运动,减少甚至避免连接部在该过程中产生摆动。由此,保证多个测试能够沿同一方向一同抵接于被测试件的触点上。尤其在测试数量较多且排列长度较长时,保证各测试都能够准确抵接在各触点上,同时也能够避免测试发生弯折。再者,利用多个同步运动的测试还能保证作用在被测试件的各触点上的应力不会过大,避免被测试件受到损伤。
  • 精准驱动探针测试装置
  • [实用新型]一种半导体高频测试-CN202221916409.4有效
  • 文扩华 - 先得利精密测试探针(深圳)有限公司
  • 2022-07-25 - 2022-11-22 - G01R1/067
  • 本实用新型公开了一种半导体高频测试,涉及测试技术领域。包括机体,所述机体的内壁与第一弹簧的一端固定连接,所述第一弹簧的另一端上固定连接有滑板,所述滑板的底壁上滑动连接有第一滑块,所述第一滑块的底壁上固定连接有测试,所述测试的端部固定安装针头,所述测试上设置有调节装置,所述滑板上设置有限位装置,该半导体高频测试通过调节装置的设置恩能够对两测试之间的距离进行调节,通过拧动套块带动螺纹杆进行转动通过螺纹杆与螺纹筒之间的螺纹连接,使螺纹杆与螺纹筒之间的中体长度发生变化,进而对两测试之间的距离进行调节提高该装置的实用性。
  • 一种半导体高频测试探针
  • [实用新型]一种BMS产品老化测试装置-CN201921848345.7有效
  • 吴文波;芮郝俊;翟培;史兴领 - 安徽贵博新能科技有限公司
  • 2019-10-30 - 2020-10-23 - G01R31/00
  • 本实用新型公开了一种BMS产品老化测试装置,包括多个用于连接BMS产品测试点的测试、用于固定测试的固定板、设置在测试上端且用于承载BMS产品的载板、用于推动载板向下移动实现BMS产品与测试连接的下压机构,所述载板包括设置用于连接载板和固定板实现下压并提供一个向上恢复力的弹性组件,以及开设在载板上且用于穿过测试的通孔,该BMS产品老化测试装置采用测试进行对接,使用寿命长,维修次数少,成本低;测试模块独立设计
  • 一种bms产品老化测试装置
  • [实用新型]一种多端测试夹具-CN202221396769.6有效
  • 张小燕 - 上海闻泰电子科技有限公司
  • 2022-05-30 - 2022-12-09 - G01R1/04
  • 本公开涉及一种多端测试夹具,包括:USB接口、测试接口以及输出接口;所述测试接口包括第一探针和第二探针;所述USB接口和所述测试接口均与所述输出接口电连接;所述USB接口和所述测试接口用于连接待测设备;所述输出接口用于连接测试设备。本公开能测试来自多种输入接口的信号,无需通过走线外接标准USB接口进行测试,避免损坏主板,减少走线长度,避免测试结果不准确的问题。
  • 一种多端测试夹具

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