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[实用新型]一种物联网通讯模组主板的通电测试工具-CN201821247255.8有效
发明人：刘明亮;谭鑫;陈建长;叶健龙;向文彬;巫灿銮;杨俊毅;钱升 -专利权人：广东珠江智联信息科技股份有限公司
申请日： 2018-08-03 - 公布日： 2019-01-15 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种物联网通讯模组主板的通电测试工具，包括装置本体和夹持机构，所述装置本体上方表面安装有第一电动伸缩杆，且第一电动伸缩杆下方位于装置本体内部连接有探针定位板，所述探针定位板下方，且贯穿探针定位板固定有测试探针，所述探针定位板一侧，且贯穿探针定位板滑动连接有导向杆。本实用新型中，该通电测试工具通过第一电动伸缩杆驱动探针定位板上的测试探针，沿导向杆上下移动，实现测试探针快速对通讯模组主板的自动测试，解决了人工手动测试费时费力的弊端，其中探针定位板上安装有多个测试探针，可以一次性检测主板表面上的多个触点，从而提高测试效率，满足生产需求。
探针定位板测试探针电动伸缩杆通电测试通讯模组装置本体主板本实用新型导向杆物联网人工手动测试一次性检测测试效率滑动连接夹持机构内部连接上方表面上下移动生产需求主板表面自动测试触点贯穿费力驱动

[实用新型]铝塑膜封印厚度测量装置-CN201820603005.7有效
发明人：何伊;徐延铭;曾玉祥 -专利权人：珠海光宇电池有限公司
申请日： 2018-04-24 - 公布日： 2018-11-09 - 主分类号： G01B21/08 文献下载
摘要：铝塑膜封印厚度测量装置，包括：设置有安装架的底座；设置于底座上的电池放置台；顶部测试探针通过顶部探针安装滑架可上下移动地设置于安装架上；底部测试探针通过底部探针安装滑架可上下移动地设置于安装架上并位于顶部测试探针下方；与顶部探针安装滑架相连的顶部探针复位机构；与底部探针安装滑架相连的底部探针复位机构；相对设置的高度位移传感器和传感器接触块，高度位移传感器设置于底部探针安装滑架或顶部探针安装滑架上，传感器接触块对应设置于顶部探针安装滑架或底部探针安装滑架上，高度位移传感器与传感器接触块间的距离小于顶部测试探针与底部测试探针间的距离。
探针安装滑架测试探针高度位移传感器传感器接触安装架铝塑膜封印厚度测量装置可上下移动复位机构探针底座本实用新型测量数据电池放置实时记录相对设置自动测量

[发明专利]一种组合测试装置-CN201811408454.7在审
发明人：覃兆丹;余小龙;廖星庆;刘爽;胡建辉 -专利权人：格力电器（武汉）有限公司;珠海格力电器股份有限公司
申请日： 2018-11-23 - 公布日： 2019-03-08 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种组合测试装置，包括：测试底板，ICT工装和FCT工装，相对设置在所述测试底板上，并间隔预设距离；所述ICT工装的ICT测试探针，与FCT工装的FCT测试探针高度不同。本发明提供的技术方案，通过将ICT工装和FCT工装集成在同一测试底板上，并采用不同高度的ICT测试探针及FCT测试探针，保证待测PCB板不同时间接触不同层次探针，ICT测试时接触低针，FCT测试时接触高针，从而实现ICT与FCT测试均使用同一个测试装置，实现了ICT、FCT合并测试，解决了ICT\FCT测试过程隔离和干扰问题。
测试底板工装探针组合测试装置测试探针测试测试过程测试装置相对设置预设距离低针高针隔离合并保证

[实用新型]一种新的生产测试点及测试夹具探针-CN202021538069.7有效
发明人：郭江峰 -专利权人：北京图力普联科技有限公司
申请日： 2020-07-28 - 公布日： 2021-06-08 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种新的生产测试点及测试夹具探针，包括PCB板边焊盘以及与其配套使用的测试探针，所述PCB板边焊盘包括PCB板，PCB板侧边布设有若干个测试点，所述测试点上设置有PCB封装，所述PCB板厚为t，t＝0.6～2mm，PCB封装的宽度为d，d＝1.5mm，测试点间距为a，a＝1.5mm；所述测试探针呈方柱状，其与所述PCB板边焊盘上的测试点接触端，从侧边磨尖从而形成锥形的尖端锋刃，所述测试探针的侧边涂覆绝缘层本实用新型节省主板面积，不会导致被测电路板变形，工装盛放治具制作简单，测试过程中不用翻面，不易导致PCB表面损伤，测试探针结构简单，加工更换容易，测试探针组成的探针序列，测试效率大大提高。
一种生产测试夹具探针

[发明专利]安规陶瓷电容器信赖性试验治具-CN201210259152.4无效
发明人：赵德星;董加银;赵光涛;唐田;沈江;赵光满 -专利权人：昆山微容电子企业有限公司
申请日： 2012-07-25 - 公布日： 2013-01-02 - 主分类号： G01R27/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种安规陶瓷电容器信赖性试验治具，包括高温绝缘板、成对的测试探条、用于分别安装产品两引脚的成对的测试探针，所述成对的测试探条位置平行地固定在高温绝缘板上、并分别接入电源正极和电源负极，所述测试探针安装在测试压条上，并且成对的测试探针分别位于成对的测试探条相对的位置上。
陶瓷电容器信赖试验

[实用新型]一种显示模组测试装置-CN202222576473.9有效
发明人：罗琼华 -专利权人：苏州华兴源创科技股份有限公司
申请日： 2022-09-28 - 公布日： 2023-03-10 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种显示模组测试装置，包括：支架及其设置在支架上端的天板；设置于天板上的模组定位托板组件，设置于天板的上的上偏光组件，设置于天板的下的下偏光组件，所述上偏光组件上设置有测试探针。本实用新型提供的测试装置，测试探针直接设置在上偏光组件上，在对显示模组进行旋转压接提供上偏光时，上偏光组件同时带动测试探针进行旋转，在旋转到位提供上偏光的同时，测试探针对模组进行测试，测试探针测试操作便捷，测试装置上的下偏光组件通过滑动设置在天板的下方，在因下偏光组件需要更换时，无需拆卸模组定位托板组件。
一种显示模组测试装置

[发明专利]一种测试装置和检测系统-CN202110652094.0在审
发明人：吴浩;杨吉平;马朱惠;毛雪强 -专利权人：昆山迈致治具科技有限公司
申请日： 2021-06-11 - 公布日： 2021-08-13 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试装置和检测系统，属于测试设备技术领域。测试装置包括载物台、第一测试模组和第二测试模组，载物台用于放置电路板；第一测试模组，包括第一测试探针，所述第一测试探针位于所述载物台的下方且能够向上移动与所述电路板的焊盘抵接，用于检测所述焊盘；第二测试模组，包括第二测试探针，所述第二测试探针位于所述载物台的下方且能够向上移动与所述电路板的连接器抵接，用于检测所述连接器。采用第一测试探针和第二测试探针自动运行分别检测焊盘和连接器，有效提升工作效率，统一检测标准，提高电路板性能检测的可靠性，多通道同步测试在较短的时间内完成所有测试项，有利于电路板的批量化生产。
一种测试装置检测系统

[实用新型]按键测试装置-CN201821285954.1有效
发明人：陈伟;周炎;刘本华 -专利权人： OPPO（重庆）智能科技有限公司
申请日： 2018-08-09 - 公布日： 2019-01-29 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种按键测试装置，适于测试电子设备的待测试按键，按键测试装置包括基座、测试探针、按键按压装置以及测控模块。基座用于放置电子设备。测试探针包括第一探针和第二探针，第一探针以及第二探针均设置于基座上方，并可选择性地与测试接触点抵靠接触。按键按压装置设置于基座，按键按压装置具有按压部以及按压驱动装置，按压部与待测试按键相对设置，按压驱动装置驱动按压部按压待测试按键。测控模块和测试探针和按压驱动装置电连接。通过测试探针与按键按压装置的配合，实现对电子设备的按键的功能测试，整个测试过程由测控模块控制自动进行，实现了测试的自动化，提高了测试精度，避免了漏测等弊端。
按压按键按压测试探针探针按键测试装置按压驱动装置测控模块测试按键电子设备测试测试电子设备测试过程功能测试相对设置装置设置电连接接触点按键自动化驱动申请配合

[实用新型]一种测试分选机的测试机构-CN201320830660.3有效
发明人：阳天赐;劳建音 -专利权人：深圳市三浦半导体有限公司
申请日： 2013-12-16 - 公布日： 2014-08-20 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种测试分选机的测试机构，包括固定在设备上的由多个测试探针组成的测试爪，所述测试爪的数量为两个，其中一个测试爪位于待测工件的上方，用于与测试管脚的上端面接触；另一个测试爪位于待测工件的下方，用于与测试管脚的下端面接触，两个测试爪中相应的测试探针相互导通。在一个具体的实施例中，所述每个测试爪中测试探针的数量为三个。本实用新型的测试机构，使得当其中一个测试爪中的某个测试探针与其对应的管脚接触不良时，可以采用另一个测试爪中相应的测试探针，从而保证了测试数据的准确性，降低了误判率。
一种测试分选机构

[实用新型]一种电阻率测试探针固定装置-CN201720972872.3有效
发明人：储洁 -专利权人：无锡水文工程地质勘察院
申请日： 2017-08-04 - 公布日： 2018-03-02 - 主分类号： G01R15/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种电阻率测试探针固定装置，涉及探针固定装置领域，其技术方案要点是包括中空壳体，壳体内设有剪叉机构剪叉机构的枢纽处设有用于固定电阻率测试探针的探针孔；剪叉机构的一端设有用于驱动剪叉机构伸缩的驱动机构本实用新型采用机械结构固定电阻率测试探针，保证相邻的电阻率测试探针之间间距相等且可调，无需通过复杂计算消除人工误差，测量精准。
一种电阻率测试探针固定装置

[实用新型]新能源汽车连接器综合性能测试装置-CN202122941069.2有效
发明人：陈波 -专利权人：广州赛宇电子技术服务有限公司
申请日： 2021-11-25 - 公布日： 2022-09-06 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种新能源汽车连接器综合性能测试装置，包括测试探针本体，该新能源汽车连接器综合性能测试装置还包括定位环、橡胶环和限位橡胶管，测试探针本体的外侧部套设定位环，定位环的内侧壁与测试探针本体的外侧部固定连接本实用新型达到可通过环形限位槽将测试探针本体定位在用户手指上的使用效果，达到可通过手指可通过定位环对测试探针本体施加向下力的利于向下探这一操作的使用效果，避免现有技术中手握后向下探需要用户手握测试探针本体的力相对较大的情况，进而实现利于提高工作效率，避免疲劳，利于满足大量测试的需求。
新能源汽车连接器综合性能测试装置

[实用新型]一种电弧故障断路器的测试系统-CN202220123377.6有效
发明人：杨仲昌;夏阳昆;韩湘玲;韩暄;高杰 -专利权人：罗格朗低压电器（无锡）有限公司
申请日： 2022-01-18 - 公布日： 2022-07-05 - 主分类号： G01R31/327 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种电弧故障断路器的测试系统，包括连接壳体和定位安装孔，所述连接壳体的内侧固定连接有定位安装孔，且定位安装孔的边侧安装有控制线路板；还包括：第一测试探针，固定连接于所述控制线路板的外壁，且第一测试探针的外侧连接有连接弹簧，并且第一测试探针的顶部安装有第二测试探针；承托定位座，设置于所述连接弹簧的内侧，且承托定位座的内侧设置有定位连接块。该电弧故障断路器的测试系统，利用控制线路板上设置的第一测试探针、第二测试探针和连接弹簧的设置，来形成一个导电回路，控制线路板上的逻辑芯片根据该测试回路的通断，发送模拟故障信号，来用于定期检查设备的保护功能是否合格
一种电弧故障断路器测试系统

[发明专利]一种电路板模块测试治具-CN202310687918.7在审
发明人：黄达;严寒亮;滕欣欣 -专利权人：广东汉为信息技术有限公司
申请日： 2023-06-12 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种电路板模块测试治具，包括多条可弹性伸缩的测试探针，多条测试探针竖置，针底下方留有安装位供电路测试装置放入触通多条测试探针的针底，多条测试探针针顶所处高度不完全相同，本测试治具设有电路板定位柱对放置到测试所需的各条测试探针上方的电路板进行定位，电路板定位柱上设有供第一螺母旋入的第一螺纹，第一螺母旋入第一螺纹下压电路板使电路板把所处位置较高的针顶压低直至电路板上的测试所需的各个测试引脚分别触通测试所需的各条测试探针。本测试治具使用螺母下压电路板，如此电路板上方无压块和下压柱等遮挡物妨碍拆装模块操作，无需进行移开遮挡物操作就能拆装模块，节省了操作步骤，能简便地对模块进行拆装。
一种电路板模块测试

[发明专利]一种雪崩二极管低频参数测试装置-CN201610722805.6有效
发明人：潘结斌;陈计学;赵娟;朱小燕;房立峰 -专利权人：华东光电集成器件研究所
申请日： 2016-08-25 - 公布日： 2018-12-04 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开一种雪崩二极管低频参数测试装置，包括底座，底座侧部设有四个BNC接头，底座上设有固定台，固定台内嵌设有下测试探针，下测试探针与固定台相互绝缘，下测试探针顶端设有用于容纳待测雪崩二极管的卡槽、底端设有两根测试线缆，两根测试线缆另一端分别与两个BNC接头相连；测试装置还包括支撑架与支撑臂，支撑臂一端与支撑架铰接、另一端设有上测试探针，上测试探针用于和待测雪崩二极管形成配合，上测试探针尾部也设有两根测试线缆，该两根测试线缆另一端分别与另外两个BNC接头相连；从而构成对雪崩二极管的开尔文接法，BNC接头可以很方便地与各类测试仪表相连接，从而对雪崩二极管进行低频电学参数的测试。
一种雪崩二极管低频参数测试装置

[发明专利]电测治具-CN200810300248.4有效
发明人：王鸣;李文钦 -专利权人：富葵精密组件（深圳）有限公司;鸿胜科技股份有限公司
申请日： 2008-01-29 - 公布日： 2009-08-05 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供一种电测治具，其包括设置有测试探针的电测盘及连接于电测盘的感应装置。该测试探针用于与待电测物体的电测部接触。该感应装置包括感应探针及与感应探针相连的感应器。该感应探针设置于电测盘，用于在测试过程中与待电测物体接触，以供感应器判断待电测物体是否与测试探针相接触。该电测治具可防止测试探针压伤待电测物体，影响待电测物体的表面平整度，从而确保产品的品质。
电测治具