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[发明专利]一种PCB网络的测试点筛选及检查方法-CN201710296094.5在审
发明人：应朝晖;宋逸骏;郭鹏;浦振宇;戴海云;刘婷婷 -专利权人：无锡军安电子科技有限公司
申请日： 2017-04-28 - 公布日： 2017-09-01 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开一种PCB网络的测试点筛选及检查方法，包括如下步骤S101、对顶层测试点进行识别，所述顶层测试点分为通孔形式测试点和顶层表贴焊盘形式测试点；S102、对底层测试点进行识别，所述底层测试点分为通孔形式测试点和底层表贴焊盘形式测试点；S103、对顶层测试点进行检查，其包括过孔形式测试点开窗检查、过孔形式测试点识别检查以及顶层表贴形式测试点开窗检查和顶层表贴形式测试点识别检查；S104、底层测试点检查，其包括过孔形式测试点开窗检查、过孔形式测试点识别检查以及底层表贴形式测试点开窗检查和底层表贴形式测试点识别检查。本发明能够快速的实现测试点的筛选和检查，提高工作效率和准确率。
一种 pcb 网络测试筛选检查方法

[发明专利]一种探针工装自动设计的方法、系统、设备及存储介质-CN202111632784.6在审
发明人：邵栋栋;刘继硕;刘丰收 -专利权人：上海望友信息科技有限公司
申请日： 2021-12-28 - 公布日： 2022-05-24 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本发明公开了一种探针工装自动设计的方法、系统、设备及存储介质，该方法包括：步骤1、获取测试点信息，测试点信息包括测试点的探针类型及测试点安装位置；步骤2、基于测试点的探针类型，使测试点关联探针模板；步骤3、模拟安装关联的探针模板，对所有测试点进行干涉检测，根据干涉检测结果更新测试点的标识，以根据测试点的标识确定探针模板的安装角度；步骤4、对满足探针模板本体放置要求的测试点按照安装角度和测试点安装位置装配探针模板本发明通过为测试点装配探针模板和干涉检查，将测试点分为：完全干涉测试点，满足放置要求测试点和待优化测试点，最终输出装配报告，从而实现探针工装的自动设计。
一种探针工装自动设计方法系统设备存储介质

[发明专利]测试点检测装置及其方法-CN200910151399.2无效
发明人：伍会意;范文纲 -专利权人：英业达股份有限公司
申请日： 2009-07-06 - 公布日： 2011-01-12 - 主分类号： G01B11/14 文献下载
摘要：本发明涉及一种测试点检测装置及其方法，用于解决测试点间距辨识的问题，其中测试点检测装置包括处理器、显示器与指示模块。处理器用于将测试点数据转换成测试点分布图，显示器用于显示测试点分布图，指示模块用于当测试点分布图内的数个测试点中有至少两测试点中心间的距离小于一预定间距时，在测试点分布图中对这两个测试点中至少一测试点作标记如此，测试点检测装置可自动检测测试点间距是否符合设计规范。
测试检测装置及其方法

[发明专利]一种飞针测试点校准装置及方法-CN202210242190.2在审
发明人：李强 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2022-03-11 - 公布日： 2022-06-10 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种飞针测试点校准装置及方法，该装置包括：PCB光板、飞针测试设备、蓝印纸、第一飞针测试点图纸、第二飞针测试点图纸和固定夹，PCB光板上从下往上依次平铺有第一飞针测试点图纸、蓝印纸、第二飞针测试点图纸该方法包括：对所有待测的飞针测试点进行编号，获取测试点编号；根据测试点编号、飞针测试点的坐标以及飞针测试点所在PCB主板的MARK点坐标，生成第一测试点图纸和第二测试点图纸；搭建测试环境；对所有待测的飞针测试点进行飞针测试，获取测试点扎痕位置；根据实际下针位置和目标下针位置的偏差，以及测试点编号，对飞针测试点的下针位置进行校准。通过本申请，能够有效提高飞针测试点校准的精确度。
一种测试校准装置方法

[实用新型]显示器探针测试中继板-CN200320101531.7无效
发明人：林林;赖志章 -专利权人：胜华科技股份有限公司
申请日： 2003-10-22 - 公布日： 2005-01-05 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种显示器探针测试中继板，它包括一板体和设置在所述板体上的多个R、G、B资料信号探针点、扫描信号探针点以及一公共电极测试点。所述各R、G、B资料信号探针点分别连接而拉出一R测试点、一G测试点与一B测试点；所述扫描信号探针点依奇数与偶数的排列顺序分别连接而拉出一奇数线测试点与一偶数线测试点；所述公共电极测试点、R测试点、G测试点、B测试点、奇数线测试点以及偶数线测试点共六个测试点与驱动电路相连接。
显示器探针测试中继

[实用新型]印刷线路板-CN201220000267.7有效
发明人：杨全义;梁家勇;田坤 -专利权人：惠州市德赛西威汽车电子有限公司
申请日： 2012-01-04 - 公布日： 2012-09-26 - 主分类号： H05K1/11 文献下载
摘要：本实用新型涉及印刷线路板，其上形成有由导电材料制成的版本测试点。所述版本测试点包括主测试点和至少两个从测试点。所述印刷线路板的版本号由所述至少两个从测试点与所述主测试点间的连接关系来表示，所述至少两个从测试点与主测试点的连接关系包括：（1）从测试点均不与主测试点相连；（2）至少一个从测试点与主测试点相连。本实用新型的PCB上设置有导电的版本测试点，通过将不同的从测试点与主测试点相连来表示印刷电路板的版本号。测试时，测试设备可向主测试点供电，从而测试设备可接从PCB板上读取到PCB板的版本信息，省去人工操作，自动选择相对应的测试软件版本进行测试，避免了误测的情况，提高了测试效率。
印刷线路板

[发明专利]一种电路故障检测装置及检测方法-CN202011322730.5在审
发明人：唐徽艳;李观鸿;梁锦星;李世林 -专利权人：意力（广州）电子科技有限公司
申请日： 2020-11-23 - 公布日： 2021-02-09 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种电路故障检测装置及检测方法，该电路故障检测装置包括：控制处理模块和至少一个测试点组；测试点组包括第一测试点和至少一个第二测试点，第一测试点与第二测试点组成一个测试点对；测试点对的两个测试点分别与待测样品的两个待检测点对应设置；控制处理模块分别与第一测试点以及第二测试点电连接；控制处理模块用于依次控制各测试点对的第一测试点以及第二测试点与待测样品的待检测点一一对应接触，并获取测试点对的检测信号，若存在同一测试点组的两个测试点对的检测信号的差值大于预设阈值
一种电路故障检测装置方法

[发明专利]软件测试方法和装置、存储介质及电子装置-CN202210711760.8在审
发明人：王研 -专利权人：青岛海尔科技有限公司;海尔智家股份有限公司
申请日： 2022-06-22 - 公布日： 2022-10-14 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请公开了一种软件测试方法和装置、存储介质及电子装置，其中，该方法包括：在目标测试应用的测试界面上显示第一测试点列表，其中，第一测试点列表包含多个第一测试点的测试点信息，多个第一测试点是在待测试软件的软件代码中所标记出的测试点；响应于对第一测试点列表执行的第一选取操作，从多个第一测试点中确定出待测试的一组目标测试点；根据一组目标测试点的测试点信息，生成第一测试脚本，其中，第一测试脚本用于对一组目标测试点进行测试；使用第一测试脚本对一组目标测试点进行测试，得到一组目标测试点的第一测试结果。通过本申请，解决了相关技术中通过预先设置固定的可测试接口进行软件测试方法存在由于软件测试的效率低的问题。
软件测试方法装置存储介质电子

[发明专利]一种基于扩展依赖矩阵的系统测试点选取方法-CN201510373452.9有效
发明人：冀会芳;丁宗杰;武占峰;郑竹萌;田树亮;郑小萌 -专利权人：北京轩宇信息技术有限公司
申请日： 2015-06-30 - 公布日： 2018-03-09 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：一种基于扩展依赖矩阵的系统测试点选取方法，首先根据测试点能够检测到的故障模式，获取扩展依赖矩阵Dx；然后按顺序分别获取模糊测试点对集、隐藏测试点对集和等效测试点对集，并得到最简测试点集合，最后根据故障隔离贡献率、最简测试点集合得到最高检测率的最终测试点集合，完成综合测试点推荐。本发明方法与现有技术相比，克服了现有技术对所有测试点未加分类处理、统一低效处理的缺陷，指导如何添加测试点，在保证故障覆盖率的同时，精简了最终测试点集合。
一种基于扩展依赖矩阵系统测试选取方法

[发明专利]一种用于软件自动测试的方法及装置-CN201510111589.7有效
发明人：李彦成;彭云鹏;车全利 -专利权人：安一恒通（北京）科技有限公司
申请日： 2015-03-13 - 公布日： 2017-11-03 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于软件自动测试的方法及装置。其中，该方法包括以下步骤确定待测试软件的测试点序列，所述测试点序列包括所述待测试软件的一个或多个测试点；从所述测试点序列中顺序获取下一个尚未被获取的测试点；根据所述测试点的测试坐标信息，控制输入设备进行测试操作；重复执行所述从所述测试点序列中顺序获取下一个尚未被获取的测试点的步骤以及所述根据所述测试点的测试坐标信息，控制输入设备进行测试操作的步骤，直至所述测试点序列中的所有测试点均已被获取。与现有技术相比，本发明通过测试点序列中的各个测试点的测试坐标信息，来控制输入设备进行测试操作，从而能够提高自动测试的有效性和效率。
一种用于软件自动测试方法装置

[发明专利]一种用于集成电路板测试点布局方法-CN201410591394.2有效
发明人：杨大江 -专利权人：上海斐讯数据通信技术有限公司
申请日： 2014-10-29 - 公布日： 2020-06-05 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于集成电路板测试点布局方法，该方法包含如下步骤：根据集成电路板的面积大小、同一功能的测试点数量，选定测试点模块位置；根据选定所述测试点模块位置的面积大小、同一功能的测试点数量，在所述集成电路板上布局所述测试点模块；根据所述测试点模块的面积大小、测试点数量，制作与其匹配的测试针模块。本发明提供的一种用于集成电路板测试点布局方法，将集成电路板上的测试点按照功能模块化布局；约定每个测试点到相邻的测试点距离相同，使得集成电路板上的测试点区域看起来整齐规律，使得调试人员在一个功能模块内，便于找到该功能的各个测试点
一种用于集成电路板测试布局方法

[发明专利]一种矿用电缆抗冲击及挤压试验方法-CN202211341066.8在审
发明人：陈瑜;金鑫;徐晓云;殷宇杰;徐缘;袁兆洋;朱军;高健;魏之浩 -专利权人：上海煤科检测技术有限公司
申请日： 2022-10-30 - 公布日： 2022-12-23 - 主分类号： G01N3/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种矿用电缆抗冲击及挤压试验方法，其根据电缆内线芯绞合节距来在电缆试样上设置5处试验测试点，其中第一试验测试点设置在电缆试样轴向上的中部位置，第二试验测试点与第三试验测试点对称分布在第一试验测试点的两侧，并与第一试验测试点之间分别相距一个电缆内线芯绞合节距，所述第二试验测试点、第三试验测试点以及第一试验测试点在电缆试样的周向上各相差120°；所述第四试验测试点与第五试验测试点对称分布在第一试验测试点的两侧，所述第四试验测试点、第五试验测试点以及第一试验测试点在电缆试样的周向上相差0°。
一种用电冲击挤压试验方法

[发明专利]一种机载系统测试资源优化配置方法及系统-CN202111625136.8在审
发明人：张桂英;封锦琦;江继龙;谢玉丹 -专利权人：中国航空工业集团公司北京长城航空测控技术研究所;北京长城航空测控技术研究所有限公司;北京瑞赛长城航空测控技术有限公司
申请日： 2021-12-28 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明涉及一种机载系统测试资源优化配置方法，所述方法包括如下步骤：确定被测机载系统中每个模块的测试点，构建测试点集合；确定测试点集合中每个所述测试点的故障源集合；采用仿真的方式，确定每个测试点的隶属度；将测试点集合中的所有测试点按照隶属度从高到底的顺序进行排序，获得测试点序列；构建包含相关系数和测试成本的资源配置目标函数；基于资源配置目标函数依次为测试点序列中的每个测试点分配测试资源。本发明首先基于测试点的隶属度对测试点进行排序，然后基于包含相关系数和测试成本的资源配置，按照隶属度从高到低分别对每个测试点依次分配测试资源，实现了测试资源的优化配置，使测试资源达到最大程度的利用，并降低测试成本
一种机载系统测试资源优化配置方法

[发明专利]一种考虑测试点可靠度的相关性矩阵测试点优选的方法-CN202211335992.4在审
发明人：石君友;吕振阳 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2022-10-28 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种考虑测试点可靠度的相关性矩阵测试点优选的方法，包括：通过对设备进行故障模式及影响分析和危害性分析FMECA处理，确定所述设备的M种故障模式和N种可用测试点；利用所述M种故障模式和所述N种可用测试点，分别计算每种可用测试点的可靠度、每种可用测试点对发生故障模式的虚警率以及每种可用测试点对发生故障模式的检测权重；利用所述每种可用测试点的可靠度、每种可用测试点对发生故障模式的虚警率以及每种可用测试点对发生故障模式的检测权重，计算每种可用测试点的贡献度；根据所述每种可用测试点的贡献度进行测试点的优选处理。
一种考虑测试可靠相关性矩阵优选方法

[实用新型]一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置-CN202120365273.1有效
发明人：陶长青 -专利权人：江苏邦融微电子有限公司
申请日： 2021-02-07 - 公布日： 2021-12-03 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置，其可实现半导体指纹传感器LGA颗粒性能的准确测试，测试装置包括主控制器、电流表、芯片开关、测试点、假手指模，测试点包括电流测试点、主板测试点、假手指模测试点、图像通信测试点，第一电流测试点与电流表的负极连接，电流表的正极、主板测试点与主控制器连接，假手指模测试点通过图像通信测试点与主控制器连接，主控制器与上位机连接。
一种半导体指纹传感器 lga 颗粒测试装置

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