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- [实用新型]一种机器人测试场地-CN202222481695.2有效
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王运志
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中科南京软件技术研究院
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2022-09-19
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2022-12-23
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B25J19/00
- 本实用新型记载了一种机器人测试场地，其特征在于：包括功能性测试区域、环境适应性测试区域、运动性能测试区域，所述功能性测试区域包括地砖区域、地板区域、地毯区域，所述环境适应性测试区域包括斜坡区域、缝隙台阶区域、悬崖区域，所述运动性能测试区域包括多机器人躲避区域、加速刹车区域、动态越障区域、多重窄道区域、3D检测区域、位置定位区域、角度定位区域，所述功能性测试区域、环境适应性测试区域、运动性能测试区域沿着机器人的行进路线依次设置解决了普通场地测试不专业、数据不可靠、人工干预量大的问题，机器人自动完成所有要求测试项，具有系统性、专业性，充分模拟了机器人在实际环境运行中的各种障碍和挑战。
- 一种机器人测试场地
- [发明专利]一种触摸屏敏感度的测试方法和系统-CN201410715420.8有效
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岳闯;郝李兵
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广东欧珀移动通信有限公司
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2014-11-28
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2017-11-07
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G06F11/22
- 本发明实施例公开了触摸屏敏感度的测试方法，包括获取触控信息，所述触控信息包括触控有效区域面积以及触压信息；根据所述触控有效区域面积将被测触摸屏划分为多个测试区域；将所述触压信息作为所述测试区域的测试信号，对所述测试区域进行测试；判断所述测试区域是否已经测试完毕；若判断结果为否，则指向未检测的所述测试区域，并返回执行将所述触压信息作为所述测试区域的测试信号，对所述测试区域进行测试步骤，直到所述多个测试区域全部检测完毕采用本发明，获取当前用户按键的信息，模拟重现，自动对触摸屏的每一块进行“同样”的测试，自动进行枚举对比合格参数，自动显示异常区域，测试简单、测试精度高于人工测试，测试效率高。
- 一种触摸屏敏感度测试方法系统
- [发明专利]一种气压下滑式芯片测试系统及方法-CN201410051903.2无效
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徐正元
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成都市中州半导体科技有限公司
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2014-02-16
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2014-05-21
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G01R31/28
- 本发明公开了一种气压下滑式芯片测试系统，包括待测区域、测试区域、完成区域、封闭滑轨1、封闭滑轨2、气压产生设备、输气管道1、输气管道2及测试仪。所述封闭滑轨1分别与所述待测区域和所述测试区域连接，所述封闭滑轨2分别与所述测试区域和所述完成区域连接，所述气压产生设备通过所述输气管道1和输气管道2分别与所述待测区域和测试区域连接，所述气压产生设备还与所述测试仪连接，并受所述测试仪的控制，所述测试仪还分别与待测区域、测试区域及完成区域连接，所述测试仪控制待测区域、测试区域及完成区域进行测试工作。本发明还提供了一种气压下滑式芯片测试方法。本发明的实现，有效地提高了测试效率，缩短了测试时间，节约了测试成本。
- 一种气压下滑芯片测试系统方法
- [发明专利]晶圆重测的方法及测试设备-CN201911335170.4有效
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马勇;彭良宝;张伟;门洪达
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广西天微电子有限公司
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2019-12-23
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2021-09-10
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G01R31/26
- 本发明涉及一种晶圆的重测方法及测试设备。该方法包括：设置晶圆的第一区域，所述第一区域是由晶圆上不参与参数测试的芯片区域组成的区域；获取晶圆的第二区域，所述第二区域是由晶圆经初次参数测试后获取的参数异常的芯片区域组成的区域；根据第一区域和第二区域获取晶圆的测试区域，所述测试区域是由第二区域中与第一区域不同的芯片区域组成的区域；测试测试区域中各芯片区域的参数。通过设置不参与参数测试的芯片区域组成的第一区域，使得重测时测试区域的芯片区域均为有效测试区域，减小了重测时的无效测试，缩短了晶圆重测的作业时间，提高了测试效率，减少了针卡耗材的消耗，提高了生产效率。
- 晶圆重测方法测试设备
- [发明专利]一种eMMC的测试方法及装置-CN202011066427.3有效
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张小东;杜兆航;陈宗廷;李斌
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深圳市宏旺微电子有限公司
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2020-09-30
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2023-06-09
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G11C29/12
- 本申请适用于存储体件领域，提供了一种eMMC的测试方法及装置，所述测试方法包括：基于随机算法确定eMMC的目标区域内的测试区域；所述目标区域为所述eMMC的任一分区；将底层样式数据写入所述目标区域内的各个扇区，再将背景样式数据写入所述测试区域内的各个扇区；对所述测试区域执行断电验证操作，得到所述测试区域的验证状态；基于所述测试区域的验证状态确定所述eMMC的测试结果。本申请通过随机选取测试区域进行测试，增加选取到异常区域作为测试区域的概率，可以提高测试效果，解决现有技术中通过断电验证测试eMMC的断电数据保护性能的效果不佳导致可能存在经过测试的eMMC在实际使用时断电造成数据错误的问题
- 一种emmc测试方法装置
- [发明专利]测试掩模版以及测试方法-CN201510051782.6有效
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郝静安;张强;邢滨
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中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
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2015-01-30
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2019-09-27
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G03F1/44
- 本发明提供一种测试掩模版以及测试方法，所述测试掩模版包括掩模版基板；位于所述掩模版基板上的正测试区域和反测试区域；所述正测试区域包括多个呈阵列排布的不曝光区域和第一测试图形区域，第一测试图形区域与不曝光区域在阵列的行方向和列方向上间隔排布并相邻接；所述反测试区域包括多个呈阵列排布的全曝光区域和第二测试图形区域，第二测试图形区域与全曝光区域在阵列的行方向和列方向上间隔排布并相邻接。以本发明提供的测试掩模版为掩模，对晶圆上的光阻层进行曝光显影，能够对不同工艺条件下，各种显影不足或者过度显影等缺陷发生的概率进行测试，并且使得显影不足或者过度显影发生的概率增加，提高了测试效率。
- 测试模版以及方法
- [发明专利]一种思政教育用思政知识宣传装置-CN202011215935.3有效
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沈定军;彭丽;夏瑞芳
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郑州升达经贸管理学院
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2020-11-04
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2022-02-22
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G09F19/18
- 本发明公开了本发明提供一种思政教育用思政知识宣传装置，包括测试空间，测试空间的内部通过多个横竖交叉分布的墙体将其分隔成若干个测试区域，全部的测试区域成矩阵状分布，该矩阵的行数和列数相等；相邻的两个测试区域之间的墙体上设置有门；位于测试空间的平面图的左下角的测试区域上设置有用于进入测试空间的门，位于测试空间的平面图的上边缘的每一个测试区域上设置有用于离开测试空间的门；位于测试空间的平面图的右边缘的每一个测试区域上设置有用于离开测试空间的门本发明使得用户依次进入测试区域中，根据在每一个测试区域中作答的正确与否，进入另一个测试区域中，通过最后走出的测试区域的位置，对用户本次的测试进行评价。
- 一种政教育用思政知识宣传装置
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