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[发明专利]测试装置-CN201910623145.X在审
发明人：邹存伟 -专利权人：富泰华工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2019-07-11 - 公布日： 2021-01-12 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种测试装置，所述测试装置用于测试一主板的性能，所述测试装置包括外壳、测试底座、控制装置、加湿器、加热装置及制冷装置；所述外壳包括一腔体，所述腔体包括相互隔开的第一区域与第二区域，所述加热装置与所述第一区域连通，所述加热装置为所述第一区域提供预设的高温环境，所述制冷装置与所述第二区域连通，所述制冷装置为所述第二区域提供预设的低温环境；所述加湿器与所述第一区域和所述第二区域连通，为所述第一区域、所述第二区域提供预设的湿度环境；所述测试底座分别设置于所述第一区域与所述第二区域内部，所述测试装置及所述控制装置分别与所述测试底座电性连接。
测试装置

[发明专利]伽马电压校正方法及装置-CN201910308447.8有效
发明人：王中杰;董杭 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司
申请日： 2019-04-17 - 公布日： 2021-04-27 - 主分类号： G09G3/3225 文献下载
摘要：其中，伽马电压校正方法，包括：将显示模组的显示屏划分为N*N个区域，其中，N为大于1的整数；从N*N个区域中选择N个测试区域，所述N个测试区域的行列各不相同；将每一测试区域的灰阶调整为一绑点灰阶，不同测试区域对应的绑点灰阶不同，对每一测试区域输入一RGB寄存器初始值，获取每一测试区域的光学参数，对每一测试区域的RGB寄存器值进行调节，使得每一测试区域的光学参数落在光学参数目标值的误差范围内。
电压校正方法装置

[发明专利]用于测试无人车的方法和装置-CN201710294782.8在审
发明人：杨光 -专利权人：百度在线网络技术（北京）有限公司
申请日： 2017-04-28 - 公布日： 2017-08-08 - 主分类号： G01M17/007 文献下载
摘要：本申请公开了用于测试无人车的方法和装置。该方法的一具体实施方式包括当接收到无人车测试请求时，确定无人车测试请求的待测试地理区域；提取虚拟地图容器中与待测试地理区域相匹配的虚拟地图，其中，虚拟地图容器中存储对至少一个地理区域进行实地采集而得到的虚拟地图；根据所提取的虚拟地图构建待测试地理区域对应的无人车虚拟测试场景；在无人车虚拟测试场景中进行无人车测试。该实施方式实现了在本地对其他地理区域进行无人车的道路测试。
用于测试无人方法装置

[发明专利]半导体加工治具及半导体芯片的测试方法-CN202211362302.4在审
发明人：陈家宝 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2022-11-02 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本公开提供了一种半导体加工治具及半导体芯片的测试方法，半导体加工治具应用于半导体芯片测试过程，半导体加工治具包括治具本体，治具本体罩设于待测试芯片，待测试芯片的表面覆盖钝化层，治具本体设置多个预设开口，多个预设开口暴露出待测试芯片的多个测试区域，测试区域为待测试芯片上需要去除钝化层并用于测试的区域。本公开中，通过在治具本体上设置多个预设开口，当治具本体罩设于待测试芯片时，多个预设开口能够将待测试芯片上的测试区域暴露出来，便于后道工艺中仅去除待测试芯片上的测试区域并进行测试，提高测试效率和准确性。
半导体加工芯片测试方法

[实用新型]一种PCB板测试治具-CN201920772709.1有效
发明人：孟凡玺;胡明月 -专利权人：苏州韦德韦诺电气科技有限公司
申请日： 2019-05-27 - 公布日： 2020-02-11 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种PCB板测试治具，包括用于放置待测试的PCB板的顶针区域、用于固定待测试的PCB板且位于顶针区域上方的下压机构、测试电源区域和控制台，所述顶针区域设有若干测试探针，所述控制台内置若干测试单元，该测试探针的针头通过导线与测试单元电连接，当进行PCB板测试时，将测试探针的针脚与待测试的PCB板的连接点对准，所述下压机构包括下压杆和与下压杆相连的压面，该压面用于固定待测试的PCB板；所述测试电源区域用于提供测试电源，所述控制台包括测试数据显示区，所述测试数据显示区包括若干电压表。
顶针控制台测试电源测试探针测试测试单元测试数据下压机构下压杆显示区压面针脚本实用新型电连接电压表连接点内置针头治具对准

[发明专利]一种芯片测试模式的进入方法及相关装置-CN201210041270.8有效
发明人：江猛;严秀萍;韩红娟;杨卫 -专利权人：苏州华芯微电子股份有限公司
申请日： 2012-02-23 - 公布日： 2012-07-18 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明提供一种进入芯片测试模式的方法与相关装置。芯片的成品测试和中测测试都需要在ROM中写入测试程式，为了不影响用户码的ROM区域，因此在芯片内部增加了专用测试ROM区域，测试专用ROM区域中存放测试芯片的相关测试程式。为了防止客户错误进入测试ROM区域，本发明在芯片内建芯片进入测试模式的相关电路，芯片测试时特定的时序经由芯片内建的进入测试模式的电路，芯片才能成功进入测试模式，在芯片复位完成后使能测试ROM，以便芯片执行测试
一种芯片测试模式进入方法相关装置

[发明专利]仰卧起坐测试的光学标定及测量方法-CN201710520302.5在审
发明人：李传兵 -专利权人：深圳泰山体育科技股份有限公司
申请日： 2017-06-30 - 公布日： 2019-01-15 - 主分类号： A63B71/06 文献下载
摘要：一种仰卧起坐测试的光学标定及测量方法，包括步骤：S1，在测试区域设置多个反光率异于背景区域的标记线条并形成多个四边形，身体所在区域的各四边形的预设长宽比不同于其它四边形；S2，无人时，通过摄像机拍摄得到标准测试区域图像，在其中划出身体标准图像区域并进行算法处理，得到标准算法图形；S3，测试时，对有测试者的测试区域进行拍摄得到实时测试区域图像，在其中找出身体实时图像区域，处理得到实时算法图形；S4，将实时算法图形与标准算法图形做与运算得到有效算法图形，根据有效算法图形中的各标记线条的变化，对测试者的仰卧起坐动作进行判定及计数。本发明具有良好的测试体验，且测试效率及测试精度均能够得到保证。
测试仰卧起坐标准算法测试区域光学标定区域图像实时算法有效算法线条测量摄像机拍摄背景区域标准测试标准图像测试效率实时测试实时图像算法处理所在区域长宽比反光率与运算预设判定拍摄保证

[发明专利]俯卧撑测试的光学标定及测量方法-CN201710521287.6在审
发明人：李传兵 -专利权人：深圳泰山体育科技股份有限公司
申请日： 2017-06-30 - 公布日： 2019-01-15 - 主分类号： A63B71/06 文献下载
摘要：一种俯卧撑测试的光学标定及测量方法，包括步骤：S1，在测试区域设置多个反光率异于背景区域的标记线条并形成多个四边形，身体所在区域的各四边形的预设长宽比不同于其它四边形；S2，无人时，通过摄像机拍摄得到标准测试区域图像，在其中划出身体标准图像区域并进行算法处理，得到标准算法图形；S3，测试时，对有测试者的测试区域进行拍摄得到实时测试区域图像，在其中找出身体以及腿部实时图像区域，处理得到实时算法图形；S4，将实时算法图形与标准算法图形做与运算得到有效算法图形，根据各标记线条的变化，对测试者的仰卧起坐动作进行判定及计数。本发明具有良好的测试体验，且测试效率及测试精度均能够得到保证。
测试俯卧撑标准算法测试区域光学标定区域图像实时算法线条测量摄像机拍摄背景区域标准测试标准图像测试效率实时测试实时图像算法处理所在区域仰卧起坐有效算法长宽比反光率与运算腿部预设判定拍摄保证

[发明专利]薄膜晶体管阵列基板及液晶显示装置-CN201410682843.4有效
发明人：马佳星 -专利权人：深圳市华星光电技术有限公司
申请日： 2014-11-24 - 公布日： 2017-08-04 - 主分类号： H01L27/12 文献下载
摘要：薄膜晶体管阵列基板包括显示区域及围绕显示区域设置的边框区域，显示区域内设置呈阵列状分布的多个薄膜晶体管及多个数据线，在边框区域形成第一测试图案、第二测试图案及第三测试图案，相邻的测试图案之间的距离大于两条数据线之间的距离，每个测试图案包括光阻及两个测试线，每个测试图案中的光阻及两个测试线分别与显示区域中相应颜色的光阻与数据线的尺寸位置关系相对应，通过测相应测试图案中的光阻超出相应测试线的宽度，以得到显示区域内相邻的两个相应颜色的光阻之间的重叠区域本发明能够测出显示区域内相邻的两个相应颜色光阻之间的重叠区域。
薄膜晶体管阵列液晶显示装置

[发明专利]显示面板均一性判断方法及显示面板测试装置-CN202011069281.8有效
发明人：殷璐;赵文炎 -专利权人：云谷（固安）科技有限公司
申请日： 2020-09-30 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明揭示了一种显示屏显示亮度的判断方法及测试装置，获取所述显示面板上测试区域对应的实际亮度；获取所述显示面板上预设区域多个采集点的实际亮度，所述采集点位于所述测试区域周围；根据所述采集点的实际亮度建立拟合亮度变化曲线，所述拟合亮度变化曲线对应所述预设区域的拟合亮度和所述测试区域的拟合亮度；根据所述拟合亮度曲线获得所述测试区域对应的拟合亮度，通过所述测试区域的实际亮度和所述测试区域对应的拟合亮度获得两者之间的亮度差异值
显示面板均一判断方法测试装置

[发明专利]一种元器件测试方法、装置及系统-CN202010787010.X在审
发明人：戴莹;桑作钧;李迎昕;申丽丽;尚玉凤 -专利权人：中国人民解放军海军七0一工厂
申请日： 2020-08-07 - 公布日： 2020-12-18 - 主分类号： G01R31/01 文献下载
摘要：本发明公开一种元器件测试方法、装置及系统，该元器件测试方法包括：显示单元显示应用界面，应用界面包括第一区域、第二区域和第三区域，其中，第一区域包括设备选择控件和测试参数控件，第二区域包括当前测试结果显示控件和测试启动控件，第三区域包括历史测试结果显示控件、测试重测控件和测试停止控件；处理单元响应于用户对各区域中的不同控件的操作执行相应的工作；报警单元基于测试结果选择是否合格进行选择性报警，本申请的元器件测试方法该方法通过编程完成仪表的设置操作，降低人员设置过程中的失误，快速形成生产能力，该方法有效提高各类元器件测试工作效率。
一种元器件测试方法装置系统

[发明专利]集成电路芯片载板的测试方法-CN201710698230.3有效
发明人：姚欣达;高云峰 -专利权人：大族激光科技产业集团股份有限公司;深圳麦逊电子有限公司
申请日： 2017-08-15 - 公布日： 2020-04-03 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种集成电路芯片载板的测试方法，用于对设于印刷电路板上的多个呈阵列排布的载板进行测试，包括：获取载板阵列中的最大重复区域；获取形成所述载板阵列的设备的固有误差参数；根据所述固有误差参数得到用于测试的重复单元；所述重复单元包括最少一行两列的两个载板；根据所述重复单元对所述载板中的最大重复区域进行划分，得到多个与所述重复单元相同大小的第一测试区域、或还得到剩余区域；采用适用于所述第一测试区域和剩余区域的测试治具进行测试上述测试方法，将最大重复区域进行分步测试，而不是使用治具进行一次性测试，可以避免因为涨缩误差导致的对位不精确，测试失败的问题。
集成电路芯片测试方法

[发明专利]显示设备测试装置及方法-CN200710123706.7无效
发明人：孙健;程华东;连文钏;王汉哲;李晓光;谢冠宏 -专利权人：鹏智科技（深圳）有限公司;锦天科技股份有限公司
申请日： 2007-09-28 - 公布日： 2009-04-01 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：提供一种显示设备测试装置。该测试装置与一图像摄取装置相连，通过该图像获取装置获取显示设备的影像，该测试装置包括一第一顶点确定模块，用于在该显示设置影像上确定一包括该第一顶点在内的矩形区域，在该区域内确定该显示设备的测试区域与非测试区域的边界点，然后通过所确定的边界点的坐标关系确定第一顶点；一测试区域确定模块，用于根据所确定的第一顶点、边界点及显示设备本身的特性来确定测试区域；一测试模块，用于根据测试区域内的影像对该显示设备的各项参数进行测量同时，还提供一显示设备测试方法。本发明可通过显示设备的影像对多种类型的显示设备进行测试。
显示设备测试装置方法

[发明专利]相机模组的影像测试系统及方法-CN200710200614.4无效
发明人：吴炯升;郑百祥;陈永州 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2007-05-15 - 公布日： 2008-11-19 - 主分类号： G03B43/00 文献下载
摘要：本发明提供一种相机模组的影像测试系统，该系统包括计算机及测试治具，所述计算机与测试治具相连。测试治具上安装相机模组及信号转换装置。计算机包括：区域分割模块，用于将影像画面分割成多个测试区域；影像测试模块，用于根据上述分割的测试区域，对各测试区域的测试项目进行测试；及运算判断模块，用于分别判断在各个测试区域中的各个测试项目的测试值是否超过其对应的预定的规范值本发明还提供了一种相机模组的影像测试方法。本发明利用一张整合的测试图表，将暗角、色彩、灰阶及解析等测试项目进行整合测试，有效的减少了测试工时，进一步的，采用竖直测试的方法有效的减少了测试空间。
相机模组影像测试系统方法

[发明专利]显示面板及显示装置-CN201811571540.X在审
发明人：彭超;崔锐利;张中杰;刘忆 -专利权人：厦门天马微电子有限公司
申请日： 2018-12-21 - 公布日： 2019-03-08 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：上述显示面板包括：显示区和非显示区，非显示区包括第一非显示区域、第二非显示区域和第三非显示区域，第一非显示区域、显示区和第二非显示区域沿第一方向排列，第三非显示区域沿第一方向延伸；位于显示区的数据线，数据线沿第一方向延伸；测试单元，测试单元包括点屏测试端和点屏测试电路，点屏测试电路位于第一非显示区域，点屏测试端位于第二非显示区域，点屏测试电路与点屏测试端通过测试信号线电连接；测试信号线位于第三非显示区域，至少部分测试信号线复用为垫层金属
非显示区域点屏测试信号线测试电路显示面板测试端显示区测试单元方向延伸非显示区显示装置数据线垫层金属反射激光方向排列封装过程宽度压缩左右边框电连接下边框复用

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