专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]曝光装置及曝光方法-CN201210586861.3有效
  • 许琦欣;郑乐平 - 上海微电子装备有限公司
  • 2012-12-28 - 2014-07-02 - G03F7/20
  • 一种曝光装置,用于对涂胶基底进行至少两次曝光,包括至少两个SLM、运动机构、投影物镜、工件台、涂胶基底以及控制单元,至少两个空间光调制器分别安装于运动机构上,SLM、所述运动机构以及工件台分别由控制单元控制,载有涂胶基底的工件台在控制单元的控制下运动到待曝光位置,运动机构在控制单元的控制下将至少两个SLM依次调整至投影物镜的物面进行曝光,每个空间光调制器在控制单元的控制下依次进行数据载入阶段、器件重置阶段和图形显示阶段,控制单元控制各空间调制器同时进行上述任一阶段,从而提高所有SLM整体的有效刷新率,提高无掩模光刻设备的产率,并减少了SLM图形的显示时间,可使用连续光源制作高分辨率图形。
  • 曝光装置方法
  • [发明专利]转移图形的方法-CN01142997.6有效
  • 洪齐元;张庆裕 - 旺宏电子股份有限公司
  • 2001-12-05 - 2003-06-11 - G03F7/20
  • 一种转移图形的方法,是通过两阶段曝光将图形由光罩转移至晶片表面的光阻层上。第一阶段为对欲形成图形区域的光阻层,以一第一光源能量及第一光罩进行第一阶段曝光,以改变光阻层的材料性质。第一光罩包含第一图形。第二阶段使用一含有第二图形的第二光罩,并使用一第二光源能量对欲形成图形区域上光阻层进行曝光。第二光罩包含不规则分布或规则分布的第二图形。最后进行显影后,若使用的光阻层为正光阻层,则经过两次曝光的光阻层将被移除,若使用的光阻层为负光阻层,则经过两次曝光的光阻层将保留而形成所需图形。
  • 转移图形方法
  • [发明专利]时序控制方法、装置、图像传感器、介质及终端-CN202211042099.2在审
  • 蔡化 - 成都微光集电科技有限公司
  • 2022-08-29 - 2022-11-22 - H04N5/232
  • 本发明提供了一种时序控制方法、装置、图像传感器、介质及终端,所述时序控制方法包括:依次进行的N个处理阶段;在任意一个所述处理阶段,控制所述复位晶体管进行复位,并在所述复位晶体管复位之后,对一个所述光电传输单元中的光电二极管进行曝光、复位信号读取;对曝光完成的光电二极管所在的光电传输单元的传输晶体管进行导通,并进行感光信号读取;所述N个处理阶段处理的所述光电传输单元均不同。本发明通过在任意一个处理阶段曝光完成的光电二极管所在的光电传输单元的传输晶体管进行导通,其余传输晶体管均不导通,相比于现有技术,不仅节省了功耗,也不会在得到的图像上出现行方向异常条纹。
  • 时序控制方法装置图像传感器介质终端

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