专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]浸水时的防触电装置及其方法-CN201680016851.2在审
  • 徐美淑 - 株式会社AMS
  • 2016-03-15 - 2017-12-22 - H02H9/02
  • 本技术涉及一种浸水时的防触电装置及其方法,并提供一种浸水时的防触电装置及其方法,通过在单相双线式低压配电方式中使用中性点接地方式,对因为电气设备的裸露端子之间的表面积差异而导致的接触的差异进行补偿,为此,适用本发明之实施例的浸水时的防触电装置,包括变压器,用于在单相双线式低压配电方式中使用中性点接地方式供应电压;漏电断路器,连接到从变压器输出的电源;电流测定部,用于对通过漏电断路器的电流量进行测定;控制部,用于根据电流测定部所测定出的电流量计算出需要进行补偿的接触并发送相应的控制信号;以及接触补偿部,用于根据控制部所发送的控制信号对接触进行补偿。
  • 浸水触电装置及其方法
  • [实用新型]一种旋转式传感器测试设备-CN202321315831.9有效
  • 范罗荣 - 无锡市航鹄科技有限公司
  • 2023-05-29 - 2023-10-13 - G01D18/00
  • 本申请公开了一种旋转式传感器测试设备包括基板,所述基板上设有至少一个角度测量装置,所述角度测量装置连接传感器,且所述传感器通过固定结构固定在所述角度测量装置上,所述角度测量装置的旋转轴线同轴于所述传感器的旋转轴线,所述旋转部件上设有接触测量装置,所述接触测量装置用于测量所述传感器的接触阻值。本申请不仅能够适配多种类型的旋转式传感器,还能够同时测量该传感器的旋转角度和接触阻值,减少了测量时间从而提高检测效率。
  • 一种旋转传感器测试设备
  • [发明专利]一种接触测试系统-CN201610373008.1在审
  • 张鹏宇;许良军;林雪燕 - 华为技术有限公司
  • 2016-05-30 - 2016-11-09 - G01R27/14
  • 本发明公开了一种接触测试系统,属于微动接触测试领域。所述系统包括微动装置、温控装置、压力加载装置、电阻检测装置和接触连接器,所述接触连接器包括相互接触的第一接触部件和第二接触部件,所述第一接触部件和所述第二接触部件之间的接触部位为接触点,其中:所述压力加载装置、所述微动装置、所述温控装置均与所述第一接触部件和所述第二接触部件中的至少一个接触部件相固定,依次用于控制所述接触点的接触压力、改变所述接触点的位置、控制所述接触点的温度;所述电阻检测装置的两个检测端分别与所述第一接触部件和所述第二接触部件电性连接,用于检测所述接触点的接触。采用本发明,可以准确的测量接触点的接触
  • 一种接触电阻测试系统
  • [发明专利]半导体结构及其形成方法-CN202010581093.7在审
  • 周飞 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
  • 2020-06-23 - 2021-12-24 - H01L29/78
  • 所述基底包括衬底和位于衬底表面的若干鳍部;位于所述基底上横跨若干所述鳍部的栅极结构,且所述栅极结构覆盖所述鳍部的部分顶部和侧壁表面;分别位于所述栅极结构两侧的鳍部内的源漏掺杂层,位于相邻的鳍部内的源漏掺杂层相邻;位于所述源漏掺杂层表面的接触层,且相邻接触层相连;位于部分接触层表面的第一插塞。相邻接触层相连,且在部分接触层表面形成第一插塞,使得所述第一插塞在栅极结构上的投影面积较小,且所述第一插塞的体积较小,有利于降低第一插塞和栅极结构之间的寄生电容,进而提升所述半导体结构的性能。
  • 半导体结构及其形成方法
  • [发明专利]IC测试机台的校准方法、校准系统及IC测试装置-CN202111008287.9有效
  • 魏津;鄢书丹;徐润生 - 绅克半导体科技(苏州)有限公司
  • 2021-08-31 - 2021-11-19 - G01R31/28
  • 本发明涉及一种IC测试机台的校准方法,IC测试机台包括弹簧针塔和探针卡,校准方法用以校准弹簧针塔与探针卡之间的水平度,包括:提供一检测板;以检测板代替探针卡位置;加载检测信号获取探针阵列中每个探针对应的接触值;将接触值绘制成阵列平面图,阵列平面图中对应不同接触值大小的区域具有不同的图形特征;根据图形特征判断弹簧针塔与检测板之间的水平度并实施校准。本发明能够利用原有IC测试机台的结构,在仅用一检测板代替探针卡的情况下获取探针阵列的每个探针的接触值,利用接触值的可视化处理直观的判断弹簧针塔与检测板之间的水平度,检测校准成本低,大大提高了检测校准的效率和精度
  • ic测试机台校准方法系统装置

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