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[发明专利]一种用于弹性测量的复合探头-CN201210022224.3有效
发明人：邵金华;孙锦;段后利 -专利权人：无锡海斯凯尔医学技术有限公司
申请日： 2012-02-01 - 公布日： 2012-07-25 - 主分类号： A61B8/08 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于弹性测量的复合探头，是一种应用于对人体组织进行成像和弹性测量的探头装置。它包括在复合探头支架体内部安装的弹性测量探头和成像部件，所述弹性测量探头的弹性检测位置在所述成像部件的成像范围之内。本发明具有两种使用方式：一种是可以先安装成像部件得到成像结果后，再进行拆卸，安装弹性测量探头进行测量；另一种是同时安装弹性测量探头和成像部件进行成像和检测。本发明结构简单，易于拆卸和维修，根据成像结果选择测量位置，通用性广泛，测量更加准确。
一种用于弹性测量复合探头

[实用新型]测量仪器-CN201420812745.3有效
发明人：康运江;苗振海 -专利权人：机科发展科技股份有限公司
申请日： 2014-12-18 - 公布日： 2015-06-03 - 主分类号： G01B11/12 文献下载
摘要：本实用新型是关于一种高效测量仪器。测量仪器用于对被测部件进行测量，其包括：测量平台、测量装置、驱动装置、控制装置以及处理装置。测量平台用于放置被测部件。测量装置设置在驱动装置上，测量装置包括：成像部以及定位部。定位部用于定位被测部件的被测部位相对测量平台的相对位置信息。控制装置分别与定位部、驱动装置连接，控制装置用于通过控制驱动装置工作，将成像部与所述被测部件的被测部位之间的物距调整至预设距离。成像部对被测部件的被测部位进行成像。处理装置与成像部连接，处理装置用于获取成像部的成像结果，并根据成像结果计算出相应结果。测量仪器的驱动装置能够驱动成像部位移，调整成像部与被测部件之间的物距，实现对焦。
测量仪器

[发明专利]用于测量光学成像系统的图像质量的系统-CN200580018031.9有效
发明人： M·门格尔;U·维格曼;A·厄尔曼;W·埃默;R·克莱门特;L·马蒂杰森 -专利权人：卡尔蔡司SMT股份公司
申请日： 2005-06-02 - 公布日： 2007-05-30 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：一种用于光学成像系统(150)的光学测量的测量系统(100)，提供该光学成像系统以使设置在成像系统的目标表面(155)的图案成像到成像系统的图像表面(156)，该测量系统包括，具有目标侧测量结构(111)的目标侧结构载体(110)，其设置于成像系统的目标侧上；具有图像侧测量结构(121)的图像侧结构载体(120)，其设置于成像系统的图像侧上；该目标侧测量结构和该图像侧测量结构以这种方式彼此匹配：当目标侧测量结构借助于成像系统成像到图像侧测量结构上时该成像系统设计为用于借助浸液(171)成像的浸液系统。给设置在浸液区域中的结构载体分配保护系统(125)，以提高测量结构对由浸液导致的降解的抵抗力。因此，在浸液条件下的浸液系统的测量在测量精确度方面，可能不受浸液的有害影响。
用于测量光学成像系统图像质量

[发明专利]亮度测量装置-CN200810062957.3有效
发明人：牟同升 -专利权人：杭州浙大三色仪器有限公司
申请日： 2008-07-07 - 公布日： 2010-01-13 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：本发明涉及一种光信号测量装置，尤其涉及一种亮度测量装置。它包括成像装置、光测量装置以及用于连接成像装置和光测量装置的连接座，成像装置的出射口与光测量装置的入射口相对应，成像装置包括成像镜头和孔径光阑，孔径光阑位于成像镜头的前焦面上。在成像装置的前焦面设有光阑的亮度测量装置，光阑孔径的大小与人眼睛瞳孔大小相适应，测量过程中视场角保持恒定，能准确评价视网膜危害，而且还可对不同视场角进行测量。
亮度测量装置

[实用新型]对齐度监控系统及电池涂布生产系统-CN201721344853.2有效
发明人：吴宇;张前;喻洋;黄俊杰 -专利权人：贵州省铜仁华迪斯新能源有限公司
申请日： 2017-10-18 - 公布日： 2018-05-01 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：包括得到第一成像测量信息以及第二成像测量信息的成像测量装置，成像测量装置包括第一成像测量组件以及第二成像测量组件；第一成像测量组件与第二成像测量组件纵向排列设置在机架上；信号转换装置，第一信号转换组件与第一成像测量组件电连接，第二信号转换组件与第二成像测量组件电连接；显示装置；显示装置安装在机架、且分别与第一信号转换组件以及第二信号转换组件电连接；当第二面宽度值与第一面宽度值存在差值时，用于报警的报警装置，第一报警组件与第一成像测量组件电连接，第二报警组件与第二成像测量组件电连接；该对齐度监控系统使得电池涂布的质量好。
对齐监控系统电池生产

[发明专利]一种显微测量系统及显微测量方法-CN202010517950.7有效
发明人：李红兵;刘娜娜;李海宏;陈雪丹 -专利权人：江苏瑞奇海力科技有限公司
申请日： 2020-06-09 - 公布日： 2022-02-22 - 主分类号： G01B9/04 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种显微测量系统及显微测量方法，该显微测量系统包括内部运动控制模块、显微成像模块和显示处理模块；内部运动控制模块用于控制待测工件运动，并向显示处理模块传输测工件的位置信息；显微成像模块包括至少两个显微成像单元和显微成像光源，存在两个显微成像单元用于对待测工件的不同表面进行显微成像；显微成像单元用于对待测工件进行显微成像，并将显微成像获得的图像信息传输至显示处理模块；显示处理模块用于根据位置信息和图像信息对待测工件进行显微测量本发明实施例提供的显微测量系统，能够对待测工件进行多方向同时拍照测量，提高测量效率，同时还可以直接测量待测产品的厚度，丰富测量功能。
一种显微测量系统测量方法

[实用新型]亮度测量装置-CN200820120998.9有效
发明人：牟同升 -专利权人：杭州浙大三色仪器有限公司
申请日： 2008-07-07 - 公布日： 2009-04-08 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种光信号测量装置，尤其涉及一种亮度测量装置。它包括成像装置、光测量装置以及用于连接成像装置和光测量装置的连接座，成像装置的出射口与光测量装置的入射口相对应，成像装置包括成像镜头和孔径光阑，孔径光阑位于成像镜头的前焦面上。在成像装置的前焦面设有光阑的亮度测量装置，光阑孔径的大小与人眼睛瞳孔大小相适应，测量过程中视场角保持恒定，能准确评价视网膜危害，而且还可对不同视场角进行测量。
亮度测量装置

[发明专利]一种光学材料折射率的测量装置及其测量方法-CN201910873210.4有效
发明人：黄凌雄;陈瑞平;张戈;李丙轩;廖文斌 -专利权人：中国科学院福建物质结构研究所
申请日： 2019-09-16 - 公布日： 2021-02-12 - 主分类号： G01N21/41 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学材料折射率的测量装置及其测量方法，属于材料性能测试技术领域，能够解决现有折射率测量方法难以精确测量高折射率或微小尺寸的光学材料的折射率的问题。所述装置包括光源模块、透明平板、成像模块和测量模块；光源模块用于提供预设波长的单色光；透明平板上设置有第一成像参考标记；成像模块用于在测量待测样品之前和测量待测样品时，分别对第一成像参考标记进行光学成像；将测量待测样品之前的成像模块的成像位置记为零点位置；将测量待测样品时的成像模块的成像位置记为终点位置；测量模块用于根据成像模块从零点位置移动到终点位置的位移量，以及待测样品的厚度测量待测样品的折射率。本发明用于测量光学材料的折射率。
一种光学材料折射率测量装置及其测量方法

[发明专利]一种航空偏振多光谱图像配准方法-CN201010221815.4无效
发明人：赵永强;程咏梅;吴艳茹;庄东风 -专利权人：西北工业大学
申请日： 2010-07-08 - 公布日： 2010-12-22 - 主分类号： G01C11/04 文献下载
摘要：本发明涉及一种航空偏振多光谱图像配准方法，其特征在于步骤如下：从采集的原始偏振多光谱航空遥感图像中选择一幅为参考图像，根据小孔成像几何模型计算测量图像的成像光心在测量图像的成像坐标系中的坐标和参考图像的成像光心在参考图像的成像坐标系中的坐标；计算测量图像的成像坐标系到参考图像的成像坐标系的坐标旋转矩阵和平移向量；计算测量图像的成像光心在参考图像的成像平面坐标系中的坐标(u′T，v′T)；将测量图像按照旋转矩阵绕其成像光心进行旋转，使旋转后测量图像成像光心与参考图像成像光心位置重合；将测量图像超出参考图像边界部分裁剪即得配准结果。
一种航空偏振光谱图像方法

[发明专利]成像装置-CN200910002554.4有效
发明人：栉田刚司 -专利权人：兄弟工业株式会社
申请日： 2009-01-16 - 公布日： 2009-08-05 - 主分类号： G03G15/00 文献下载
摘要：提供一种成像装置，包括：成像单元，该成像单元构造成执行成像，以在记录介质上形成图像；保持体，该保持体构造成相对于成像单元相对移动并保持由成像单元形成在其上的图像；控制器，该控制器控制成像单元以在保持体上的区域中形成校正图案，当对记录介质执行成像时该区域对应于在记录介质上限定的成像区域；测量单元，该测量单元构造成测量在保持体上形成的校正图案的位置；和校正单元，该校正单元构造成基于测量单元的测量结果校正成像单元的成像位置。根据上述构造，由于校正图案只形成在必要的区域中，所以能减少用于成像位置的移位的测量的时间。
成像装置

[发明专利]在电子设备上维护时间测量值的方法和系统-CN202280014634.5在审
发明人：詹尼弗·托普米勒·威廉姆斯 -专利权人：利盟国际有限公司
申请日： 2022-04-23 - 公布日： 2023-10-13 - 主分类号： G06F9/44 文献下载
摘要：一种维护存储在成像设备上的时间测量值的方法。该方法包括：由成像设备从供给物品接收供给物品制造时间戳，将供给物品制造时间戳与成像设备的时间测量值进行比较，以及由成像设备基于供给物品制造时间戳更新成像设备的时间测量值。一种成像设备，包括存储器，该存储器存储时间测量值，该成像设备被配置为通过以下方式维护时间测量值：从连接到成像设备的供给物品接收供给物品制造时间戳，以及基于该供给物品制造时间戳更新成像设备的时间测量值。一种成像设备供给物品，该供给物品包括存储器，该存储器存储供给物品制造时间戳，并且该供给物品被配置成将供给物品制造时间戳发送到成像设备。
电子设备维护时间测量方法系统

[发明专利]用于干涉地测量变形投射镜头的成像质量的系统-CN201780041670.X有效
发明人： U.维格曼 -专利权人：卡尔蔡司SMT有限责任公司
申请日： 2017-06-27 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：构造一种用于干涉地测量光学成像系统的成像质量的测量方法及测量系统，通过相关联结构载体的测量结构的适配的设计，来在成像系统上执行波前测量，成像系统在第一方向上具有第一成像比例β1且在与该第一方向垂直的第二方向上具有第二成像比例β2，该第二成像比例以不等于1的比例率(β1/β2)与该第一成像比例不同(变形成像系统)。要配置在该成像系统的物侧上的第一结构载体上的第一测量结构(MS1)具有二维掩模结构，其适合用来塑造测量辐射的相干性。要配置在该成像系统的像侧上的第二结构载体上的第二测量结构(MS2)具有衍射光栅。该第一和该第二测量结构考虑到该比例率而彼此适配，使得在借助于该变形成像系统将该第一测量结构(MS1)成像至该第二测量结构(MS2)上时生成干涉图案。
用于干涉测量变形投射镜头成像质量系统

[实用新型]一种光分布测量装置-CN202222119393.0有效
发明人：潘建根;黄艳 -专利权人：杭州远方光电信息股份有限公司
申请日： 2022-08-12 - 公布日： 2023-01-13 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光分布测量装置，包括用于夹持被测光源的夹具、成像屏、具有阵列探测器的成像测量装置以及光辐射强度分布已知的标准光源，所述标准光源和夹具设置在所述成像屏的一侧，所述成像测量装置设置在成像屏的另一侧且对准成像屏；所述标准光源的设置使其光轴与成像屏按照指定夹角相交，所述成像测量装置获取成像屏上的图像并测量图像光分布信息。本实用新型可适用于不同灯具的配光测试，可确保测量结果的一致性和准确性，并且操作方便、成本低廉。
一种分布测量装置

[发明专利]一种扰动测量成像系统-CN201611046361.5有效
发明人：于飞;黄刚;梅强;李超;贺勍;张晗;王劲强;谢妮慧 -专利权人：北京空间机电研究所
申请日： 2016-11-22 - 公布日： 2018-09-18 - 主分类号： H04N17/00 文献下载
摘要：一种扰动测量成像系统，包括成像焦面模块、焦面控制模块、图像数据读取模块、扰动测量模块、图像处理模块、图像输出模块、高速存储模块、接口模块；接口模块接收成像控制信息、数据输出指令，焦面控制模块进行解析计算，得到焦面时序控制信号，成像焦面模块进行成像并输出成像数据，图像数据读取模块采用乒乓缓冲存储成像数据至高速存储模块，扰动测量模块对成像数据进行扰动测量计算，图像处理模块使用扰动测量结果对成像数据进行处理，图像输出模块根据数据输出指令将成像数据处理结果输出，或者从高速存储模块读取成像数据并输出。
一种扰动测量成像系统

[发明专利]4f相位相干成像系统的非线性光学参数的测量装置和测量方法-CN202210402397.1在审
发明人：宋瑛林;杨勇;杨俊义;周文法 -专利权人：苏州微纳激光光子技术有限公司
申请日： 2022-04-18 - 公布日： 2022-07-15 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于4f相位相干成像系统的非线性光学参数的测量装置和测量方法，所述测量装置包括激光束调制系统，相位光阑4f成像系统，4f成像测量系统和显微成像系统，其特征在于，4f测量装置与显微成像系统共用一个透镜通过设置显微成像系统观察待测样品，扩展了待测样品的尺寸范围。
相位相干成像系统非线性光学参数测量装置测量方法

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