专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]改善SRAM性能的方法-CN201510896857.0有效
  • 李勇 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
  • 2015-12-07 - 2020-03-10 - H01L21/8244
  • 一种改善SRAM性能的方法,包括:在P型逻辑器件区栅介质层表面形成P型功函数层,等效功函数值最大的P型功函数层为第一P型功函数层;在上拉晶体管区的栅介质层表面形成上拉功函数层,上拉功函数层的材料和厚度与第一P型功函数层的材料和厚度相同;对上拉晶体管区的基底进行第一阈值电压调节掺杂处理;在N型逻辑器件区栅介质层表面形成N型功函数层,且等效功函数值最大的N型功函数层为第一N型功函数层;在传送门晶体管区的栅介质层表面形成传送门功函数层,传送门功函数层与第一N型功函数层的材料和厚度相同;对传送门晶体管区的基底进行第二阈值电压调节掺杂处理。本发明提高存储器的写入冗余度,提高半导体器件的整体性能
  • 改善sram性能方法
  • [发明专利]一种高功函数金属核壳纳米线及其制备方法和应用-CN202110058924.7在审
  • 杨巍;方晓生 - 复旦大学
  • 2021-01-17 - 2021-06-04 - B22F9/24
  • 本发明属于电子信息技术领域,具体为一种高功函数金属核壳纳米线及其制备方法和应用。本发明制备方法包括高功函数壳层材料包覆,壳层材料掺杂等;通过高功函数壳层材料来提高纳米线的功函数;通过水合肼还原反应,实现在纳米线表面均匀的壳层材料包覆;通过引入铜掺杂改善镍壳层表面氧化带来的导电性下降问题;通过PVP钝化和反应条件控制,保证壳层材料较高的结晶度和电性能。制备得到的银‑镍铜核壳纳米线材料,其功函数显著提高,有助于解决光电器件和柔性电子器件构筑时的功函数失配问题;耐热性能显著提升,并改善电学性能;透明导电性接近银纳米线水平,并与溶液成膜工艺相适应,因而能满足光电器件和柔性电子器件的性能需求
  • 一种函数金属纳米及其制备方法应用
  • [发明专利]车辆质量优化方法、装置、设备及存储介质-CN202210748523.9在审
  • 廖礼平;石登仁;陈薇;陈钊;林伟雄;胡锡挺;李云;李松原 - 东风柳州汽车有限公司
  • 2022-06-29 - 2022-10-25 - G06F30/15
  • 本发明涉及车辆技术领域,公开了一种车辆质量优化方法、装置、设备及存储介质,所述方法包括:根据待优化车辆的结构参数和各学科性能参数确定若干数量的板件;根据若干数量的板件、板件的预设可变范围构建目标性能平衡显式函数;在若干数量的板件的性能参数满足预设性能条件时,根据目标性能平衡显式函数确定目标优化参数;通过预设优化策略根据目标优化参数对待优化车辆的质量进行优化;通过上述方式,根据确定的若干数量的板件和预设可变范围构建目标性能平衡显式函数,然后通过目标性能平衡显式函数确定目标优化参数,最后利用优化目标优化参数的方式实现对待优化车辆的质量的优化,从而能够有效提高优化车辆质量的准确性。
  • 车辆质量优化方法装置设备存储介质
  • [发明专利]一种基于二元随机退化过程的可靠性评估方法-CN202310642735.3在审
  • 李伟;汪硕文;孙传文 - 北京理工大学
  • 2023-06-01 - 2023-09-01 - G06F30/20
  • 本发明涉及复杂系统可靠性与安全,具体公开了一种基于二元随机退化过程的可靠性评估方法,通过退化测试或加速退化测试分别获取两种性能特征退化数据;判断两性能特征间相关性;采用边缘分布函数,表征性能特征的随机退化过程;采用退化数据,拟合边缘随机退化模型,采用贝叶斯方法估计参数;设定性能失效阈值,计算单一性能特征可靠度;两性能特征相互独立,按独立系统计算系统可靠度;两性能特征存在相关性,用copula函数建立两特征之间的相关性关系,并用贝叶斯方法对copula函数中的参数进行估计;最后利用copula函数计算特征间存在相关关系的系统可靠度。
  • 一种基于二元随机退化过程可靠性评估方法

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