专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]存储设备和包括其的电子设备-CN202011541820.3在审
  • 金佳琳 - 三星电子株式会社
  • 2020-12-23 - 2021-06-29 - G11C7/10
  • 一种存储设备包括:存储单元阵列,包括连接到一条位线并配置为分布式地存储N比特数据的M个存储单元,其中,N是自然数,并且M是2以上且N以下的自然数,M个存储单元包括具有不同感测裕度的第一存储单元和第二存储单元;以及包括页缓冲存储控制,该存储控制配置为将N比特数据分布式地存储在M个存储单元中并依次读取存储在M个存储单元中的数据以获得N比特数据,以及配置为使用N比特数据来执行操作的操作逻辑,存储控制配置为向第一存储单元和第二存储单元提供不同的读取电压
  • 存储器设备包括电子设备
  • [发明专利]存储单元布置-CN202110796013.4有效
  • M·门内加 - 铁电存储器股份有限公司
  • 2021-07-14 - 2023-07-21 - G11C5/02
  • 本发明提供一种存储单元布置。根据各个方面,所述存储单元布置包含:第一控制线和第二控制线;多个存储结构,其设置在该第一控制线与该第二控制线之间,其中,所述多个存储结构中的每个存储结构包括第三控制线、第一存储单元和第二存储单元;其中,对于所述多个存储结构中的每个存储结构,所述第一存储单元和所述第二存储单元通过所述第三控制线彼此耦合;其中,对于所述多个存储结构中的每个存储结构,所述第一存储单元耦合至所述第一控制线,并且所述第二存储单元耦合至所述第二控制线。
  • 存储器单元布置
  • [发明专利]带有冗余位及存储元件表决电路的存储阵列-CN201110379089.3有效
  • 徐彦忠 - 阿尔特拉公司
  • 2011-11-18 - 2017-05-10 - G11C29/44
  • 本发明涉及带有冗余位及存储元件表决电路的存储阵列。集成电路可以具有存储元件的阵列。每一个存储元件可以具有多个存储单元。每一个存储元件可以具有表决电路,其从该存储元件中的存储单元接收信号。表决电路可以基于该信号产生输出。由每一个存储元件的存储单元存储的信号可以是冗余的,使得即使在辐照导致一些存储单元将其状态翻转至错误值的情况下,表决电路也可以产生正确的输出。存储元件可以基于如下存储单元,例如静态随机访问存取存储单元和基于晶闸管的单元
  • 带有冗余存储器元件表决电路阵列
  • [发明专利]闪速存储控制电路及其存储系统与数据传输方法-CN200910148452.3有效
  • 叶志刚 - 群联电子股份有限公司
  • 2009-06-26 - 2010-12-29 - G06F12/08
  • 本发明提供一种闪速存储控制电路及其存储系统与数据传输方法,其中闪速存储控制电路包括微处理单元、第一与第二接口单元、缓冲存储存储管理单元以及数据读写单元存储管理单元管理多个闪速存储单元,其中每一闪速存储单元具有至少一闪速存储且每一闪速存储分别地具有至少包括一上页与一下页的多个存储单元阵列。存储管理单元将对应的每一闪速存储的其中一个存储单元阵列进行分群多个数据传输单位组,并且数据读写单元依据数据传输单位组将主机系统欲写入的数据交错地传输至闪速存储单元中。因此,闪速存储控制电路可稳定地传输数据而降低缓冲存储的使用。
  • 存储器控制电路及其存储系统数据传输方法
  • [发明专利]电子装置及非挥发性存储装置与编程方法-CN201510222594.5有效
  • 谢志昌;陈弟文;李永骏 - 旺宏电子股份有限公司
  • 2015-05-05 - 2019-11-01 - G11C16/10
  • 本发明提供了一种存储装置。该存储装置包含多个存储单元及耦接至存储单元的控制电路。控制电路用以:提供一第一编程电压至该些存储单元;以一中间位准验证电压验证该些存储单元,以依据该些存储单元是否未到达或已到达该中间位准验证电压而分别将该些存储单元分为一第一组存储单元及一第二组存储单元;提供一第二编程电压至该第一组存储单元,并禁止该第二组存储单元接收该第二编程电压,该第二编程电压大于或等于该第一编程电压;以及以一期望位准电压验证该第一组存储单元及该第二组存储单元。基于该存储装置,本发明还提供了相应的编程方法及电子装置。
  • 电子装置挥发性存储器编程方法
  • [发明专利]用于存储装置的磁性高速缓存-CN202110675845.0在审
  • D·A·尤达诺夫 - 美光科技公司
  • 2021-06-18 - 2022-01-07 - G11C11/16
  • 本申请案是针对用于存储装置的磁性高速缓存。磁性存储元件(例如,磁性存储单元,例如自旋转移力矩STT存储单元或磁性穿隧结MTJ存储单元)可被配置成充当用于存储阵列的高速缓存,其中所述存储阵列包含不同类型的存储单元。所述磁性存储元件可以电感方式耦合到用于所述存储阵列的存取线。基于此电感耦合,当存储值写入到所述阵列的存储单元或从所述阵列的存储单元读取时,所述存储值可基于穿过用以写入或读取所述存储单元的存取线的相关联电流而并行地写入到磁性存储元件。可通过从所述磁性存储元件而非从所述阵列的所述存储单元读取所述存储值来执行后续读取请求。
  • 用于存储器装置磁性高速缓存
  • [发明专利]用于筛选存储阵列中的弱比特的方法-CN202210442208.3在审
  • 池育德;李嘉富;刘建瑛;史毅骏;陈冠均;杨学之;吕士濂 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2017-06-28 - 2022-07-22 - G11C29/42
  • 本发明的实施例提供了一种筛选存储阵列中的弱比特的方法,包括:将第一组数据存储存储阵列的具有第一组存储单元的第一存储阵列中;至少对第一存储阵列实施第一烘焙工艺,或者至少对第一存储阵列施加第一磁场;确定存储在第一存储阵列中的第一组数据的部分是否由第一烘焙工艺或第一磁场改变;以及如果第一组存储单元的第一存储单元存储改变的数据,则跟踪第一组存储单元的至少第一存储单元的地址,并且实施以下操作中的至少一个:(1)利用存储阵列的第二存储阵列中的对应存储单元替换存储改变的数据的第一组存储单元中的第一存储单元,和(2)丢弃存储改变的数据的第一组存储单元中的第一存储单元
  • 用于筛选存储器阵列中的比特方法
  • [发明专利]非易失性存储装置及对此装置编程的方法-CN201280068501.2有效
  • H.V.特兰;H.Q.阮;A.利;T.吴 - 硅存储技术公司
  • 2012-11-13 - 2017-06-06 - G11C11/00
  • 非易失性存储装置具有用于提供编程电流的电荷泵和非易失性存储单元的阵列。阵列的每一存储单元由来自电荷泵的编程电流进行编程。非易失性存储单元的阵列被划分成多个单位,每一单位包括多个存储单元。指示存储单元与每一单位的非易失性存储单元关联。当每一单位的50%或更少的存储单元将被编程时,编程电路使用编程电流对每一单位的存储单元进行编程,并且当每一单位的多于50%的存储单元将被编程时,编程电路使用编程电流对每一单位的存储单元的逆以及与每一单位关联的指示存储单元进行编程
  • 非易失性存储器装置对此编程方法

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