专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于图形转移的线路板及图形转移工艺-CN202010823672.8有效
  • 叶国俊 - 鹤山市中富兴业电路有限公司
  • 2020-08-17 - 2021-11-02 - H05K3/06
  • 本发明公开了一种用于图形转移的线路板及其图形转移工艺,线路板包括用于在线路板上形成实际图形的目标设计图形区域和用于覆盖显影干膜的图形转移补偿区域,图形转移补偿区域包括侧蚀宽度补偿区域和角位补偿区域,通过在目标设计图形区域的外部设置侧蚀宽度补偿区域和角位补偿区域,侧蚀宽度补偿区域包围在目标设计图形区域的外围,避免线路板上的图形蚀刻后边线会往内收,角位补偿区域额外对目标设计图形区域的角位进行包围,避免线路板上的图形蚀刻时角位受到两侧蚀刻液攻击而变成圆角,从而改良线路板上的图形蚀刻问题,线路板上蚀刻后的图形更接近目标设计图形
  • 用于图形转移线路板工艺
  • [发明专利]一种纳米压印的图形修饰方法-CN202211596560.9在审
  • 闫士波;丁建峰;王刚;潘晓忠;姚志炎 - 徐州美兴光电科技有限公司
  • 2022-12-12 - 2023-05-16 - G03F7/00
  • 本发明公开了一种纳米压印的图形修饰方法,涉及蓝宝石图形化衬底技术领域;为了提升处理效果;包括如下步骤:第一步刻蚀,扫描蚀刻,使用氧气,铲除掉纳米压印技术残留得底膜,减小纳米压印图形顶宽;第二步刻蚀,主蚀刻,提升选择比,累计足够得高度和宽度;第三步刻蚀,过度蚀刻,修饰图形形貌,改善图形侧壁弧度,剔除褶皱;所述底膜残留情况和纳米压印图形顶宽通过SEM量测确认,第一步刻蚀结束时纳米压印图形顶宽比底宽小0.2‑本发明提出的图形修饰方法,设置扫描蚀刻、主蚀刻、过度蚀刻的具体方式,并对其每一环节的功率、流量进行限定,能够确保图形间隙底部平坦,侧壁弧度小,无褶皱等异常,保障了处理效果。
  • 一种纳米压印图形修饰方法
  • [发明专利]带金属化孔、槽、细密线路的电路板制作方法及电路板-CN202110954003.9在审
  • 白建国 - 广德牧泰莱电路技术有限公司
  • 2021-08-19 - 2021-12-10 - H05K3/42
  • 上述电路板制作方法包括步骤:提供一基板,基板的板面具有图形区域和非图形区域;对基板的板面进行镀锡处理,以在图形区域形成一层锡保护层;在图形区域的局部覆盖抗蚀刻保护层;对图形区域进行碱性蚀刻,以在图形区域未覆盖抗蚀刻保护层的部分形成无环孔、背钻孔、槽;去除基板上的抗蚀刻保护层及锡保护层;在形成有无环孔、背钻孔、槽的位置覆盖抗蚀层;对图形区域未覆盖抗蚀层的部位进行酸性蚀刻或碱性蚀刻,以获得引线图形;去除基板上的抗蚀层,以裸露出由引线图形和无环孔、背钻孔、槽组成铜层线路图形
  • 金属化细密线路电路板制作方法
  • [发明专利]ITO导电膜图形蚀刻蚀刻液组合物-CN200910022456.7无效
  • 赵炜;马介渊;付永山;李翌辉 - 西安宝莱特光电科技有限公司
  • 2009-05-12 - 2009-10-07 - C09K13/04
  • 本发明涉及ITO导电膜图形蚀刻蚀刻液组合物。常见用于湿法蚀刻蚀刻液有:①盐酸和硝酸水溶液(王水);②三氯化铁水溶液;③锌粉加盐酸溶液;④碘酸水溶液;⑤磷酸水溶液;⑥草酸水溶液;⑦溴化氢水溶液等;但上述蚀刻液存在一些缺点。本发明的目的是提供一种ITO导电膜图形蚀刻蚀刻液组合物,蚀刻液的配方为:盐酸和三氯化铁水溶液,其中盐酸浓度范围为0.01~12.0mol/L,三氯化铁浓度范围为0.01~5.0mol/L。该蚀刻液配方的蚀刻蚀刻速度适中,反应稳定,无残留,蚀刻后的电极图形边缘整齐,基本无侧蚀现象。其工艺稳定、操作方便、价格便宜,从而可有效提高ITO导电膜图形化工艺的质量和降低工业化生产成本。
  • ito导电图形蚀刻组合
  • [发明专利]一种超薄core连续压合工艺-CN202011087134.3在审
  • 叶猛;孙健 - 广州添利电子科技有限公司
  • 2020-10-12 - 2020-12-18 - H05K3/00
  • 本发明公开了一种超薄core连续压合工艺,L4‑5单core在蚀刻工序,L4面贴阻蚀膜,L5面蚀刻图形;L12‑13单core,L13面贴阻蚀膜,L12面蚀刻图形;L2‑3单core在蚀刻工序,L2面贴阻蚀膜,L3面蚀刻图形;L14‑15单core,L15面贴阻蚀膜,L14面蚀刻图形,再压合Sub Assembly L2‑15面;用Core‑Lam多次压合压合工艺替代原有Foil‑Lam单次压合工艺,8μm12μmcore采取单面蚀刻方式,一面蚀刻图形,一面不蚀刻,让1oz铜箔来提供支撑力,通过三次压合完成电路板制作。本发明具有用Core‑Lam多次压合压合工艺,8μm12μm采用单面蚀刻方式增加板框支撑力的优点。
  • 一种超薄core连续工艺
  • [发明专利]一种激光蚀刻TCO图案的方法-CN201310646532.8无效
  • 田元生;任华进 - 南京第壹有机光电有限公司
  • 2013-12-06 - 2014-04-23 - B23K26/362
  • 本发明提供了一种激光蚀刻TCO图案的方法,包括如下步骤:1)绘制激光蚀刻图形:使用绘图软件绘制好需要被断开的TCO线条;2)将步骤1)中的图形导入激光设备;3)将TCO固定在激光设备的工作台上,使用激光设备在TCO蚀刻出与步骤1)中的图形一样的线条。本发明具有如下技术效果:蚀刻时间与蚀刻面积成正比关系,蚀刻线条的面积远远小于蚀刻一个面的面积,原来需要蚀刻的面积越大,采用本发明后节省的时间越多。能够缩短激光蚀刻时间,提高生产效率。
  • 一种激光蚀刻tco图案方法
  • [发明专利]半导体装置结构的形成方法-CN202310587484.3在审
  • 陈建汉;张世郁;邱建智;陈煌明 - 台湾积体电路制造股份有限公司
  • 2023-05-23 - 2023-09-26 - H01L21/768
  • 在具有形成于其中的导体部件的半导体结构上形成第一与第二蚀刻停止层。在第二蚀刻停止层上形成介电层,在介电层上形成包括钨基材料的硬掩模并将其图形化。在图形化的硬掩模的上方形成阻剂层。使用图形化的阻剂层作为掩模而施行第一蚀刻工艺,以形成延伸而局部穿透介电层的导孔开口。使用图形化的硬掩模作为蚀刻掩模而施行第二蚀刻工艺(例如,干式蚀刻工艺),以将导孔开口延伸而穿透第二蚀刻停止层,施行第三蚀刻工艺(例如,湿式蚀刻工艺),以将导孔开口延伸而穿透第一蚀刻停止层而到达导体部件。
  • 半导体装置结构形成方法

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