专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]具有缓冲层的单晶薄膜的制备方法、单晶薄膜及谐振器-CN201910187199.6有效
  • 帅垚;吴传贵;罗文博 - 电子科技大学
  • 2019-03-13 - 2021-06-01 - H01L41/312
  • 本发明涉及薄膜制备技术领域,尤其是涉及一种具有缓冲层的单晶薄膜制备方法、单晶薄膜及谐振器;具有缓冲层的单晶薄膜制备方法包括在单晶晶圆表面注入高能量离子,使得单晶晶圆内部形成劈裂层;在注入有高能量离子的单晶晶圆表面依次制备键合层和缓冲层,或者在单晶晶圆表面依次制备缓冲层和键合层,将涂覆有键合层和缓冲层的单晶晶圆与衬底结合,键合及单晶晶圆劈裂处理,制备得到具有缓冲层的单晶薄膜。本发明提供的具有缓冲层的单晶薄膜制备方法、单晶薄膜及谐振器,通过缓冲层设计,隔离键合层产生的气泡或使得键合过程中的气泡向衬底方向移动,远离单晶晶圆,制备得到的高质量的单晶薄膜,制备得到的单晶薄膜表面无气泡
  • 具有缓冲薄膜制备方法谐振器
  • [发明专利]一种超高品质单晶铜水平连铸制备工艺-CN202210895503.4在审
  • 曾龙;李军;夏明许;李建国 - 上海交通大学
  • 2022-07-27 - 2022-12-02 - B22D11/045
  • 本发明涉及一种单晶制备工艺,具体涉及一种超高品质单晶铜水平连铸制备工艺,包括如下步骤:S1:制备具有(001)取向的单晶铜棒;S2:将制备得到的具有(001)取向的单晶铜棒制成单晶铜水平连铸牵引杆;S3:利用制得的单晶铜水平连铸牵引杆配合热型水平连铸机进行单晶铜的制备。与现有技术相比,本发明基于外延生长提供一种高品质单晶铜棒/线材制备方法,特别涉及单晶铜棒/线材取向控制方法,不仅可以杜绝单晶铜棒/线材水平连铸制备过程中的柱状晶现象,提高单晶铜水平连铸制备合格率,还可以严格控制水平连铸单晶铜棒/线材的晶体取向,获得(001)取向与轴向完全重合的单晶铜棒/线材,大幅度提高单晶铜的综合性能。
  • 一种超高品质单晶铜水平制备工艺
  • [发明专利]铸造单晶硅锭及其制备方法-CN202010615816.0在审
  • 陈红荣;胡动力;张华利;宋亚飞 - 江苏协鑫硅材料科技发展有限公司
  • 2020-06-30 - 2020-09-25 - C30B11/00
  • 本发明涉及一种铸造单晶硅锭及其制备方法。铸造单晶硅锭的制备方法包括如下步骤:在坩埚的底部铺设单晶籽晶,形成单晶籽晶层;在单晶籽晶层的四周铺设至少一根单晶条,单晶条与相邻的单晶籽晶相互拼接,其中,单晶条的缺陷比值大于相邻单晶籽晶的缺陷比值;在单晶籽晶层与至少一根单晶条上装硅料,加热使硅料完全熔化、单晶籽晶层部分熔化,长晶之后得到铸造单晶硅锭。上述铸造单晶硅锭的制备方法,在单晶的生长过程中,单晶条内的缺陷处易吸附杂质,从而降低边角硅块的杂质含量和边角硅块缺陷的产生几率。缺陷比值较大的区域可释放硅锭边部的生长应力,减少了缺陷的产生和增值。此外,本发明还涉及一种由上述制备方法制备得到的铸造单晶硅锭。
  • 铸造单晶硅及其制备方法
  • [发明专利]一种铜单晶片及单晶石墨烯的制备方法-CN202210799889.9在审
  • 薛江丽;茹亚东;高召顺;左婷婷;韩立;肖立业 - 中国科学院电工研究所
  • 2022-07-08 - 2022-11-04 - C30B29/02
  • 本发明公开了一种铜单晶片及单晶石墨烯的制备方法。所述可商业化生产的铜单晶片的制备方法,包括:利用定向凝固技术将多晶高纯铜块,熔炼制备得到大尺寸、横截面为不同晶面的铜单晶棒;将所述的单晶铜棒沿横截面方向进行线切割,得到上千片的铜单晶片;将所述铜单晶片的两面都进行机械与电化学抛光处理,得到取向一致、表面光滑的铜单晶片,包括Cu(111)、Cu(110)和Cu(001)等晶体取向。将得到的Cu(111)单晶片作为催化基底,利用CVD生长技术可以制备出大面积、高质量的单晶石墨烯。本发明所述的铜单晶片的制备方法具有制备工艺简单成熟、造价低、产率高、可商业化生产等特点,以Cu(111)单晶片为催化基底可以制备得到面积大、质量好的石墨烯单晶
  • 一种晶片晶石制备方法
  • [发明专利]制备大尺寸宽禁带单晶薄膜的结构和方法-CN201210100943.2有效
  • 李忠辉 - 中国电子科技集团公司第五十五研究所
  • 2012-04-09 - 2012-08-29 - C30B25/02
  • 本发明是制备大尺寸宽禁带单晶薄膜的结构及方法,其结构是单晶硅衬底上是低温氮化铝缓冲层;在低温氮化铝缓冲层上是高温氮化铝缓冲层;在高温氮化铝缓冲层上是碳化硅单晶薄膜;在碳化硅单晶薄膜上是宽禁带单晶薄膜;其制备工艺:在单晶硅衬底上制备低温氮化铝缓冲层;在低温氮化铝缓冲层上制备高温氮化铝缓冲层;降至室温取出;在高温氮化铝缓冲层上制备碳化硅单晶薄膜;在碳化硅单晶薄膜上制备宽禁带单晶薄膜;降至室温取出。优点:通过AlN缓冲层容易制备高质量六方相碳化硅单晶薄膜;低、高温AlN多缓冲层结合使用有助于降低宽禁带单晶薄膜的应力;碳化硅单晶薄膜可通过掺杂形成n或p型;结构简单、工艺可控;表面形貌好;大尺寸低成本
  • 制备尺寸宽禁带单晶薄膜结构方法

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