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- [发明专利]高产率半导体器件测试-CN201180044624.8有效
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劳伦斯·B·鲁斯
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泰拉丁公司
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2011-09-09
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2013-06-05
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G01R31/28
- 本发明提供了一种测试系统，所述测试系统提供用于分析的输出信号，而不需要所述测试硬件在稳定间隔期间闲置。所述测试系统包括预处理器，所述预处理器识别所述输出信号中出现的近直流漂移，然后调整所述输出信号以消除所述近直流漂移。可以计算用于分析的代表信号采集期间的多个时间中的每一个处的所述近直流漂移的值集，并可通过对所述值集拟合曲线将它们用于建立所述信号的稳定分布的模型。然后，可以从代表所述输出信号的样本减去所述稳定分布的模型，从而提供用于进一步分析的调整信号。
- 高产半导体器件测试
- [实用新型]高产气率碳分子筛-CN201520842023.7有效
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丁芬
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丁芬
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2015-10-28
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2016-11-30
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C01B31/00
- 本实用新型涉及高产气率碳分子筛，包括柱状本体，柱状本体侧壁一体成型有若干横向延伸的锥形凸起，多个锥形凸起均匀分布于柱状本体侧壁；锥形凸起的侧面设置为波浪形曲面；锥形凸起的最大高度小于柱状本体的横截面直径；柱状本体和锥形凸起内设置有大孔、中孔、微孔和亚微孔，微孔孔径为0.28‑0.38nm，柱状本体和锥形凸起内的微孔和亚微孔的孔隙率大于85%。在原有圆柱状碳分子筛基础上，在柱状本体侧壁一体成型有若干横向延伸的锥形凸起，相比原有的小直径圆柱状碳分子筛，本实用新型碳分子筛具有更大的表面积，极大限度的提高了分子筛与气体分子的接触面积，提高产气率。
- 高产气率碳分子筛
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