专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]半导体结构的制备方法-CN202211715003.4在审
  • 庄晴凯 - 南亚科技股份有限公司
  • 2022-12-29 - 2023-07-25 - H10B12/00
  • 该制备方法包括:在一基底上形成一位元线;在该位元线上形成一第一间隙并与之共形;在该第一间隙上形成一牺牲并与之共形;在该牺牲上形成一第二间隙并与之共形;形成覆盖该第二间隙一下部的一遮罩;移除该第二间隙的一上部;移除该牺牲;以及在该第一间隙和该第二间隙上形成一第三间隙,因此形成由该第二间隙该下部所包围的一第一气隙。
  • 半导体结构制备方法
  • [发明专利]显示面板-CN201710924626.5有效
  • 沈孟纬;叶永城 - 友达光电股份有限公司
  • 2017-09-30 - 2021-04-16 - G02F1/1339
  • 一种显示面板包括第一基板、主动元件、像素电极、辅助导电、第一间隙物及第二间隙物。主动元件配置于第一基板上。像素电极配置于第一基板上且与主动元件电性连接。辅助导电配置于主动元件上。第一间隙物配置于辅助导电上。第一间隙物在垂直投影方向上与辅助导电重叠。第二间隙物配置于主动元件上。第二间隙物在垂直投影方向上与辅助导电不重叠。第一间隙物的顶点与第一基板的距离大于第二间隙物的顶点与第一基板的距离。
  • 显示面板
  • [发明专利]一种显示面板及其制备方法-CN202010142851.5在审
  • 王俊媛 - 武汉华星光电半导体显示技术有限公司
  • 2020-03-04 - 2020-05-22 - H01L27/32
  • 本申请公开了一种显示面板及其制备方法,显示面板包括阵列基板;间隙,间隔地设于所述阵列基板上;OLED器件,设于所述阵列基板未设置所述间隙的部分上;阴极,设于所述间隙和所述OLED器件上;薄膜封装,设于所述阴极上,所述间隙包括若干间隙子,所述间隙子一个方向上的纵向截面为倒梯形。制备呈倒梯形的间隙子,倒梯形可增大蒸镀过程中与精密金属掩膜版的接触面积,有效支撑精密金属掩膜版,降低混色与错位的风险;另一方面,采用无机材料制备间隙子,使得间隙子具有较大的杨氏模量,能够避免蒸镀过程中精密金属掩膜版刮伤间隙
  • 一种显示面板及其制备方法
  • [发明专利]用于流动式CVD间隙填充的富含氧化物的衬垫层-CN201180037215.5无效
  • D·李;J·梁;N·K·英格尔 - 应用材料公司
  • 2011-07-15 - 2013-04-10 - H01L21/316
  • 在此描述空洞体积比例降低的间隙填充氧化硅的形成。该沉积涉及在缺少氧较可流动的间隙填充之前形成富含氧较不可流动的衬垫层。然而,该衬垫层在与间隙填充相同的腔室内沉积。衬垫层与间隙填充二者可通过使自由基成份与未激发的含硅前体(即不直接通过施加等离子体功率而被激发)组合而形成。衬垫层比间隙填充具更多的氧含量并且更加共形地沉积。间隙填充的沉积速率可藉由衬垫层的存在而增加。间隙填充可含有硅、氧与氮,并且该间隙填充在高温下转化以含有更多氧与更少氮。间隙填充衬垫的存在提供了间隙填充下方的氧源,以增大在转化期间引入的气相氧。
  • 用于流动cvd间隙填充富含氧化物衬垫
  • [发明专利]存储器装置及其制造方法-CN201910785856.7有效
  • 蔡易宗;林志豪;李健志;吴佳纬 - 华邦电子股份有限公司
  • 2019-08-23 - 2023-06-23 - H10B41/35
  • 本发明提供了一种存储器装置及其制造方法,此方法包含在基底上方形成多个栅极结构,在栅极结构的两侧形成第一间隙壁,在两相邻的第一间隙壁之间填充介电,在栅极结构上方形成金属硅化物,在金属硅化物、第一间隙壁和介电上方顺应性形成间隙壁材料,以及对间隙壁材料进行回刻蚀,以在金属硅化物的两侧形成第二间隙壁。通过在金属硅化物上形成间隙壁材料,接着通过回刻蚀工艺移除间隙壁材料的水平部分和金属硅化物的残留物,以在金属硅化物的两侧形成间隙壁,可避免相邻的金属硅化物发生短路的问题,进而改善存储器装置的良品率
  • 存储器装置及其制造方法
  • [发明专利]三维存储器结构及其制备方法-CN201910966859.0有效
  • 左明光;张坤;熊少游;周烽;宋锐;曾海;詹侃 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2019-10-12 - 2022-05-27 - H01L27/11524
  • 本发明提供一种三维存储器结构及其制备方法,制备方法包括如下步骤:提供半导体衬底,形成叠结构,并于叠结构中形成沟道孔,形成功能侧壁,形成沟道,形成栅极间隙,去除所述牺牲形成牺牲间隙;于牺牲间隙内形成栅极;以及于形成有栅极的叠结构上制备绝缘盖层,且绝缘盖层与栅极间隙形成间隙腔。通过上述方案,本发明在栅极间隙中制备间隙腔,进一步在间隙腔内壁制备包覆栅极的漏电材料抑制,从而可以有利于栅极漏电流的减小,并减小材料制备所带来的应力,进而减小整个器件结构的应力,采用背面刻蚀等工艺制备背面连接引出区
  • 三维存储器结构及其制备方法
  • [发明专利]半导体结构及其形成方法-CN202011348197.X在审
  • 金吉松 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
  • 2020-11-26 - 2022-05-27 - H01L29/78
  • 一种半导体结构及其形成方法,形成方法包括:提供基底、栅极结构、位于栅极结构侧壁的侧墙、源漏掺杂区、底部介质以及源漏接触;去除侧墙形成间隙;形成保形覆盖于间隙的底部和侧壁的保护;在底部介质上形成顶部介质,顶部介质密封间隙形成空气隙。本发明实施例在提供基底后,去除侧墙形成间隙,并在间隙的底部和侧壁上保形覆盖保护,再形成密封间隙的顶部介质,以形成空气隙,保护相应为一体型结构,有利于提高保护间隙底部和侧壁的保护效果,降低了位于间隙底部和侧壁的膜结构(例如:栅极结构、基底)受损的几率,相应提高了位于间隙底部和侧壁的膜结构的完整性,进而提升了半导体结构的可靠性以及生产良率。
  • 半导体结构及其形成方法

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