专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]用于密封模块金丝、有源耦合的辅助装置-CN202123152907.4有效
  • 王芳 - 上海航天科工电器研究院有限公司
  • 2021-12-15 - 2022-07-22 - G02B6/42
  • 本实用新型涉及密封模块加工技术领域,尤其涉及用于密封模块金丝、有源耦合的辅助装置,耦合设备上设置有机台、耦合机台;还包括产品、通用保护座、件和耦合件,件与机台匹配设置,耦合件与耦合机台匹配设置;通用保护座上开设有贯穿槽和限位槽,贯穿槽位于限位槽的下方;件上设置有第一凸起。用于密封模块金丝、有源耦合的辅助装置,将产品通过通用保护座放置在件上,再将件放置在机台上,对密封模块进行金丝工序;将产品通过通用保护座放置在耦合件上,再将耦合件放置在耦合机台上,对密封模块进行有源耦合工序,对密封模块进行辅助定位,保证加工时的稳定性。
  • 用于密封模块金丝有源耦合辅助装置
  • [发明专利]一种组件引线工装-CN202311135187.1在审
  • 徐光营;张宁;贾二鑫 - NANO科技(北京)有限公司
  • 2023-09-05 - 2023-10-20 - H01L21/67
  • 本发明公开一种组件引线工装,包括:组件装夹机构;组件装夹机构包括:载具以及覆盖在载具上表面的盖板,载具的上表面沿载具移动方向开设多组用于承载组件的安装槽,且盖板在对应安装槽的位置处开设压持槽组件的固定方式简单,装夹方便,只需将组件放置在载具上后覆上盖板即可,且固定后结构可靠,稳定度高,组件装夹机构与加热压持机构配合使用,便于自动引线设备快速完成对光组件的操作,在保证产品良率的前提下提高效率,进而实现了多芯片、小型化组件在自动设备上的自动化批量生产。
  • 一种组件引线工装
  • [发明专利]装置和方法-CN202111595678.5有效
  • 田应超;刘天建;曹瑞霞;程曲 - 湖北三维半导体集成创新中心有限责任公司;湖北江城实验室
  • 2021-12-24 - 2022-03-22 - H01L21/68
  • 本公开实施例公开了一种系统和方法。所述系统包括:合组件,包括:用于拾取第一待管芯的头,以及贯穿所述头的第一光通路;其中,所述第一光通路的第一端位于所述头拾取所述第一待管芯的拾取面;第一对准组件,用于在所述合组件位于第一位置时,通过所述第一光通路的第二端向所述第一端发射检测信号;所述第一对准组件,还用于接收所述检测信号经所述第一待管芯反射的反射信号,并根据接收的所述反射信号确定所述第一待管芯的当前位置与第一目标位置之间的第一偏差值;第二对准组件,用于确定所述晶圆上第二待管芯的当前位置与第二目标位置的第二偏差值。
  • 装置方法
  • [发明专利]装置和方法-CN202111594630.2有效
  • 田应超;刘天建;曹瑞霞;张伟 - 湖北三维半导体集成创新中心有限责任公司;湖北江城实验室
  • 2021-12-24 - 2022-03-29 - H01L21/68
  • 本公开实施例公开了一种系统和方法。系统包括:合组件,包括:头以及贯穿头的第一光通路;第一对准组件,用于在头位于第一位置时,确定拾取面相较于水平面的偏移量;合组件,还用于根据偏移量,驱动头移动至平行于水平面的第二位置;第一对准组件,还用于在头位于第二位置时,通过第一光通路的第二端向第一端发射检测信号;第一对准组件,还用于接收检测信号经第一待管芯反射的反射信号,并根据接收的反射信号确定第一待管芯的当前位置与第一目标位置之间的第一偏差值;第二对准组件,用于确定晶圆上第二待管芯的当前位置与第二目标位置的第二偏差值。
  • 装置方法
  • [发明专利]晶圆的空洞检测方法及晶圆的空洞检测装置-CN202110716623.9有效
  • 王庆;陈明;陈金星;金保洲 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2021-06-26 - 2023-01-24 - G01N21/95
  • 本申请提供一种晶圆的空洞检测方法,所述晶圆包括层叠设置的两层晶圆层,所述方法包括:减薄所述晶圆的其中一层晶圆层得到目标晶圆层;使用可见检测从所述目标晶圆层照射所述晶圆,并扫描所述晶圆;接收从所述晶圆反射的可见检测并根据所述反射的可见检测形成图像;以及根据所述图像对所述晶圆进行空洞检测。本申请还提供一种晶圆的空洞检测装置。本申请提供的晶圆的空洞检测方法和晶圆的空洞检测装置,通过减薄所述晶圆,再使用可见检测光照射减薄后的晶圆而形成图像,根据所述图像能够准确并快速地检测出所述晶圆的空洞,从而提高生产效率以及产品良率
  • 键合晶圆空洞检测方法装置
  • [发明专利]一种设备、波的检测方法及系统-CN201910380534.4有效
  • 刘洋 - 武汉新芯集成电路制造有限公司
  • 2019-05-08 - 2021-11-16 - H01L21/603
  • 本发明提供一种设备、波的检测方法及系统,其中键设备包括上卡盘、顶针和下卡盘,在上卡盘的第二表面上设置有多个感装置,每个感装置包括发射单元和接收单元,在感装置下设置有贯通上卡盘的光通路,各感装置的发射单元可以用于沿相应的光通路发射垂直与上卡盘的第一表面的光线,接收单元可以用于接收沿相应的光通路返回的反射,在上卡盘吸附第一晶圆时,各感装置获得的反射的光强度变化状态可以反映第一晶圆和上卡盘的相对位置,从而用于第一晶圆上的波的检测,进而可以在实际操作中准确的确定与波的移动匹配的上晶圆真空释放时间,从而提高控制的精确度,降低晶圆合成本。
  • 一种设备键合波检测方法系统
  • [发明专利]半导体元件安装基板和发送模块-CN200710006326.5有效
  • 加贺谷修 - 日本光进株式会社
  • 2007-02-02 - 2007-11-14 - H01L25/00
  • 利用下述的发送模块可解决本发明的课题:使用在半绝缘性半导体衬底上形成了调制器集成激光器的半导体芯片(22),用第一引线(31)连接输入传送线路(27)与调制器元件(21)的阳极电极,用第二引线(32)连接调制器元件(21)的阳极电极与终端电阻元件(24)的一端,用第三引线(33)连接调制器元件(21)的阴极电极与终端电阻元件(24)的另一端,用第四引线(34)连接调制器元件(21)的阴极电极与接地电极(25),将第一引线(31)与输入传送线路(27)的连接部配置在对于第四引线(34)与接地电极(25)的连接部夹着半导体芯片(22)的相反一侧。
  • 半导体元件安装发送模块
  • [发明专利]晶圆机台及晶圆方法-CN202211574712.5在审
  • 王念 - 武汉新芯集成电路制造有限公司
  • 2022-12-08 - 2023-03-14 - H01L21/67
  • 本发明提供了一种晶圆机台及晶圆方法,用于将上层晶圆与下层晶圆,所述晶圆机台包括:上卡盘,用于吸附所述上层晶圆;下卡盘,设置于所述上卡盘的下方,所述下卡盘具有用于吸附所述下层晶圆的吸附区域以及位于所述吸附区域外围的边缘区域;至少三个检测器,间隔地设置于所述下卡盘的边缘区域中;所述检测器用于发射出射并接收所述出射光反射回来的反射,以根据所述出射光和所述反射判断后的所述上层晶圆是否相对于所述下层晶圆发生滑片。本发明的技术方案能够避免损坏晶圆机台中的机械部件以及避免上层晶圆本身破损。
  • 晶圆键合机台方法

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