专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种铌酸锂薄膜和磷化铟基光电外延片集成方法-CN202310283928.4在审
  • 吴立枢;钱广;孔月婵;陈堂胜 - 中国电子科技集团公司第五十五研究所
  • 2023-03-22 - 2023-08-18 - H01L31/18
  • 本申请公开了一种铌酸锂薄膜和磷化铟基光电外延片集成方法,包括以下步骤:样品准备:清洗自下而上包含衬底层、介质层和铌酸锂层的铌酸锂薄膜和自下而上包括磷化铟衬底层和磷化铟外延功能层的磷化铟基光电外延片;第一键合:使用临时粘合材料将磷化铟基光电外延片的磷化铟外延功能层正面与临时载片进行第一键合;衬底去除:去除磷化铟基光电外延片的衬底层;第二键合:将铌酸锂薄膜的铌酸锂层正面与磷化铟外延功能层的磷化铟外延功能层背面通过键合材料进行第二键合;分离临时材料:分离磷化铟外延功能层上的临时载片并去除临时粘合材料。本申请避免了铌酸锂薄膜上生长磷化铟外延片导致的晶格失配和缺陷密度高的问题。
  • 一种铌酸锂薄膜磷化光电外延集成方法
  • [发明专利]一种保留砷化镓衬底的肖特基二极管衬底替换方法-CN202310269274.X在审
  • 王宇轩;牛斌;代鲲鹏;孔月婵;陈堂胜 - 中国电子科技集团公司第五十五研究所
  • 2023-03-20 - 2023-05-16 - H01L21/329
  • 本申请公开了一种保留砷化镓衬底的肖特基二极管衬底替换方法,包括以下步骤:生长外延薄膜:在砷化镓衬底上通过分子束外延方法依次沉积非掺杂铟镓磷In0.48Ga0.52P层、纳米硅高掺杂N型砷化镓N+GaAs层、纳米硅低掺杂N型砷化镓N‑GaAs层形成外延薄膜;制作阴极金属和阳极金属;隔离腐蚀:光刻出二极管图形,并用第一腐蚀液去除二极管图形外的全部N+GaAs和N‑GaAs层,再从露出的In0.48Ga0.52P层上光刻出In0.48Ga0.52P层图形,使In0.48Ga0.52P层易于全部腐蚀去除;使用第二腐蚀液去除In0.48Ga0.52P层图形内全部In0.48Ga0.52P;制作保护氧化硅层和完成空气桥金属连接;衬底分离和替换。通过在砷化镓衬底和纳米硅掺杂砷化镓层间生长非掺杂铟镓磷In0.48Ga0.52P层,实现砷化镓衬底的保留,从而实现资源再利用,节能环保。
  • 一种保留砷化镓衬底肖特基二极管替换方法
  • [发明专利]一种石英衬底InP HEMT有源层集成方法-CN202211335300.6在审
  • 戴家赟;吴立枢;郭怀新;孔月婵;朱健;陈堂胜 - 中国电子科技集团公司第五十五研究所
  • 2022-10-28 - 2023-01-31 - H01L21/335
  • 本发明公开一种石英衬底InP HEMT有源层集成方法,具体为:1:在晶圆的有源层上旋涂第一临时键合粘附剂后放在热板上预烘烤;2:将第一支撑载片与有源层键合;3:减薄晶圆的衬底;4:在第二支撑载片上旋涂第二临时键合粘附剂后放在热板上预烘烤;5:将第二支撑载片与晶圆衬底键合;6:将第一支撑载片与晶圆的有源层分离,并清洗晶圆有源层的表面;7:在晶圆有源层上旋涂永久性键合材料,将石英衬底与晶圆的有源层进行永久键合;8:将第二支撑载片与晶圆的衬底分离,并清洗晶圆衬底;9:将晶圆的衬底完全去除;10:去除晶圆的自停止层和缓冲层。本发明解决了直接键合过程中因高温条件、材料热失配等因素导致的键合晶圆破裂的问题。
  • 一种石英衬底inphemt有源集成方法

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