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[发明专利]一种测试板及测试板的制作方法-CN201910168301.8在审
发明人：叶旭阳;程剑涛;杜黎明;孙洪军 -专利权人：上海艾为电子技术股份有限公司
申请日： 2019-03-06 - 公布日： 2019-04-30 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种测试板，包括有测试母板以及测试子板，其中，测试母板上印制有第一精度电路，测试子板上印制有第二精度电路，第一精度电路的精度低于第二精度电路的精度，且在测试母板上印制第一精度电路的工艺精度低于在测试子板上印制第二精度电路的工艺精度，测试母板与测试子板相连接，且第一精度电路与第二精度电路相连。与现有技术相比，本发明将测试电路区分为高精度电路以及低精度电路，对于高精度电路，使用工艺精度较高的加工工艺对其进行印制，然而对于低精度电路，可以使用工艺精度较低的加工工艺对其进行印制，从而降低测试板的整体加工成本
电路测试母板测试子板印制测试板高精度电路整体加工成本测试电路制作

[发明专利]一种服务器中电源模块的电流精度测试方法和系统-CN202110088330.0在审
发明人：隋鑫 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2021-01-22 - 公布日： 2021-05-11 - 主分类号： G01R31/40 文献下载
摘要：本发明公开一种服务器中电源模块的电流精度测试方法和系统，其中，服务器中电源模块的电流精度测试方法用于电流精度测试系统，电流精度测试系统包括上位机、电源模块、测试治具和主板；电流精度测试方法包括：上位机根据预定上电顺序，控制电源模块对测试治具和主板依次上电；上位机根据预定电流拉载脚本，通过测试治具对主板拉载电流，读取主板的测试电流；判断测试电流的精度是否满足预设评估测试标准；若测试电流的精度不满足预设评估测试标准，则上位机调整测试治具的测量精度，以使测试电流的精度满足预设评估测试标准。本发明的技术方案能解决现有技术中手动测量电流精度，导致测试电流的结果不准确的问题。
一种服务器电源模块电流精度测试方法系统

[实用新型]一种同步精度测试系统-CN201520348549.X有效
发明人：朴金山;罗福龙;易碧金;夏颖;刘晓明 -专利权人：中国石油天然气集团公司;中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司
申请日： 2015-05-26 - 公布日： 2015-10-14 - 主分类号： H04L12/26 文献下载
摘要：本实用新型实施例提供了一种同步精度测试系统，所述系统包括：编码器，用于启动采集仪器；译码器，用于触发激发源；所述编码器包括第一同步精度测试装置，所述译码器包括第二同步精度测试装置，所述第一同步精度测试装置确定采集仪器的启动时间，并将所述启动时间发送至第二同步精度测试装置；所述第二同步精度测试装置确定触发激发源的激发时间，并将所述激发时间发送至第一同步精度测试装置；所述第一同步精度测试装置或者所述第二同步精度测试装置通过比较所述启动时间以及所述激发时间利用所述系统，可以实现远距离的编码器以及译码器的同步精度测试工作，提高了同步精度测试的工作效率。
一种同步精度测试系统

[发明专利]一种GPU深度测试精度的评估方法-CN202011397780.X在审
发明人：田泽;陈佳;姜丽云;吴晓成;李冲;刘莎 -专利权人：西安翔腾微电子科技有限公司
申请日： 2020-12-05 - 公布日： 2021-04-30 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明属于计算机图形学技术领域，尤其涉及一种GPU深度测试精度的评估方法，该方法包括以下步骤：1)选取GPU平台；2)构造场景；3)记录分别在不同的GPU平台进行深度测试；并记录不同平台在大于、小于、等于三种模式下，不同精度的测试结果，记录不同GPU平台的深度测试小数精度；4)基于待评估模型进行深度测试并获取数据；5)深度测试的精度评估。针对各个商业显卡或者GPU平台对于深度精度不一致，本发明解决了GPU深度测试精度评估问题，从不同GPU的深度测试结果发现，测试模式不同，深度精度是不同的。本发明正确的实现了GPU深度测试精度评估方法，有效的协助了GPU设计人员根据需求选取合适的深度精度。
一种 gpu 深度测试精度评估方法

[发明专利]一种高精度时钟同步的精度测试方法和装置-CN202010899726.9在审
发明人：畅响;何建华;展月英;孙扬 -专利权人：中国科学院空间应用工程与技术中心
申请日： 2020-08-31 - 公布日： 2020-12-08 - 主分类号： H04L12/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种高精度时钟同步的精度测试方法和装置，涉及时间同步精度测量分析技术领域。该方法包括：建立主时钟节点、从时钟节点和测试激励节点的连接关系；向测试激励节点下载同步精度测试程序，并通过测试激励节点对主时钟节点和从时钟节点进行时间同步精度测试，并将测试数据上报，获取测试数据并进行保存，对测试数据进行预设处理获得时间同步性能指标，实现了异构网络下的时钟同步方案，测试精度高，实现方式简单，降低了测试成本。
一种高精度时钟同步精度测试方法装置

[发明专利]多台测试设备批量测试的精度一致性修正方法和系统-CN201710775817.X有效
发明人：顾汉玉;张建文 -专利权人：华润赛美科微电子（深圳）有限公司
申请日： 2017-08-31 - 公布日： 2020-05-26 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明涉及一种多台测试设备批量测试的精度一致性修正方法和系统，包括：使用所述多台测试设备对标定元件进行测试，根据测出的值得到各测试设备的相对修正系数，每台测试设备上设有标定元件，标定元件的精度高于所述多台测试设备的测试精度；使用所述多台测试设备批量测试待测元件，将从测试设备直接读取的值作为各待测元件的实测值；通过待测元件使用的测试设备的相对修正系数对实测值进行修正，得到所述待测元件的实际值。上述多台测试设备批量测试的精度一致性修正方法和系统，通过各测试设备的相对修正系数来保证待测元件的精度加工，不需要逐个调整测试设备到标准机的精度标准就能保证待测元件的加工精度，省时省力，加工效率明显提高。
测试设备批量精度一致性修正方法系统

[发明专利]一种星载转动天线指向精度测试方法-CN201810629939.2在审
发明人：康永鹏;顾莉莉;刘方;吴以平;许建峰 -专利权人：上海卫星工程研究所
申请日： 2018-06-19 - 公布日： 2019-01-01 - 主分类号： G01S19/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种星载转动天线指向精度测试方法，将天线指向指标考核分为静态测试及动态测试两个阶段，通过经纬仪加工装重力卸载方法，对天线典型角度的静态精度进行测试，获取转动天线静态精度指标；采用转动天线模拟器获取转动天线动态精度的指标；通过对静态精度测试数据和动态精度测试数据的融合处理，获得天线指向精度数据。本发明解决了星载转动天线指向精度无法在整星测试的问题，使星载转动天线指向精度指标在卫星总装集成过程中实时可测，使指向精度指标的复合性及一致性得到保证。同时，该方法也可用于天线产品单机阶段在厂房内的测试，可解决转动天线产品指向精度的传统外场测试方案受地理环境及自然天气制约的问题。
转动天线指向星载精度测试精度指标天线天线产品指向静态精度测试经纬仪模拟器测试地理环境动态测试集成过程精度数据静态测试融合处理天线典型外场测试卫星总装整星测试指标考核复合性单机可用卸载厂房天气加工制约保证

[发明专利]基于深度学习框架的算子精度检测方法和装置-CN202011054639.X有效
发明人：高薇;骆涛 -专利权人：北京百度网讯科技有限公司
申请日： 2020-09-29 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G06N3/08 文献下载
摘要：本申请公开了基于深度学习框架的算子精度检测方法、装置、电子设备和存储介质，涉及深度学习技术领域。具体实现方案为：获取深度学习框架中预设的与算子的单元测试对应的测试模板；解析测试模板获取单元测试的精度最大值，检测单元测试中是否至少一个测试样例的输入数据精度满足精度最大值；在检测获知至少一个测试样例的输入数据精度满足精度最大值的情况下，根据预设的位置标识获取单元测试中的所有反向算子；根据测试模板检测每个反向算子的反向计算精度是否均满足预设条件，在所有反向算子的反向计算精度均满足预设条件的情况下，发送算子的单元测试检测成功消息。由此，提高算子精度检测效率，从而保证深度学习框架算子的可靠性。
基于深度学习框架算子精度检测方法装置

[发明专利]一种自行火炮行进间跟踪稳定精度测试方法及装置-CN201110162475.7无效
发明人：李静;沈伟;王军政;汪首坤 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2011-06-16 - 公布日： 2011-11-02 - 主分类号： F41G3/32 文献下载
摘要：本发明公开的一种自行火炮行进间跟踪稳定精度测试方法及装置涉及自行火炮动态稳定精度的测试方法及测试装置，属于检测技术与自动化装置领域。本发明的测试方法实现步骤如下：步骤1，启动测试并进行火炮初始位置测量；步骤2，在经过步骤1的初始位置测量后，进行动态稳定精度测试；步骤3，自行火炮跟踪精度测试。该测试方法通过前后平行放置的双靶上光斑的实际坐标相减，能够消除炮体平移量造成的角度测量误差；该测试方法前后靶面可跟踪激光光斑移动，增大了火炮动态稳定精度测试范围，实现了自行火炮的跟踪精度测试。本发明依据该测试方法制作了一种自行火炮行进间跟踪稳定精度测试装置，该装置调校及操作简单、易于安装、且成本低廉。
一种自行火炮行进跟踪稳定精度测试方法装置

[实用新型]用于基因测序的高精度管路的气密性检测装置-CN202123452756.4有效
发明人：李宁;杨登志;张斌 -专利权人：墨卓生物科技（浙江）有限公司
申请日： 2021-12-31 - 公布日： 2022-06-24 - 主分类号： G01M3/28 文献下载
摘要：本实用新型提供一种用于基因测序的高精度管路的气密性检测装置，用于基因测序的高精度管路的气密性检测装置包括供气泵、测试仪表、测试部件和连通件。供气泵用于向基因测序的高精度管路供气；测试仪表用于测试基因测序的高精度管路内的压力；测试部件设置在供气泵与测试仪表之间，测试部件用于调节基因测序的高精度管路内的工况；连通件用于连通供气泵测试仪表及测试部件与基因测序的高精度管路，能够精简用于基因测序的高精度管路的气密性检测装置的结构，提高检测效率，节约检测成本。
用于基因高精度管路气密性检测装置

[发明专利]飞针测试机的运动轴的控制方法及定位精度的补偿方法-CN201710667348.X有效
发明人：谭艳萍;王星;翟学涛;杨朝辉;高云峰 -专利权人：大族激光科技产业集团股份有限公司;深圳市大族数控科技有限公司
申请日： 2017-08-07 - 公布日： 2019-09-17 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种飞针测试机的运动轴的控制方法及定位精度的补偿方法。上述的飞针测试机的运动轴的定位精度的补偿方法包括根据飞针测试机的测试区域设定矩阵区域；设定测试点矩阵在X轴方向和在Y轴方向的定位误差的允许值；将飞针测试机的X轴运动至测试点A与测试点B之间连线的中点；采用激光干涉仪测试飞针测试机的Y轴运动的定位精度数据；将飞针测试机的Y轴运动至测试点A或测试点B；采用激光干涉仪测试飞针测试机的X轴运动的定位精度数据。上述的补偿方法对飞针测试机的XY轴在测试区域的整个平面内进行补偿，保证了飞针测试机具有较高的测试精度，解决了飞针测试机的测试精度较低的问题。
测试运动控制方法定位精度补偿

[实用新型]一种用于时统终端的授时精度测试系统-CN202021468792.2有效
发明人：谢维 -专利权人：成都衡宇创想科技有限公司
申请日： 2020-07-23 - 公布日： 2021-03-05 - 主分类号： G04R20/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及航天技术领域，具体涉及一种用于时统终端的授时精度测试系统，包括卫星转发器、功分器、时统终端、高精度卫星接收设备和时间精度测试仪，卫星转发器与功分器连接，功分器通过第一馈线与时统终端连接，功分器通过第二馈线与高精度卫星接收设备连接，时间精度测试仪分别与时统终端、高精度卫星接收设备连接。本实用新型在一个授时精度测试系统内设置多个基本单元测试组，在卫星转发器与功分器的连接线上设置有开关，使得一个授时精度测试系统可以同时对多个时统终端进行授时精度测试，且各个时统终端在进行授时精度测试是彼此独立运行，互不干扰，提高时统终端授时精度测试的便捷性和灵活性。
一种用于终端授时精度测试系统

[发明专利]一种高精度PLC模拟量输入模块工装测试方法及系统-CN202210514450.7在审
发明人：李根;高晓园;赵中洋;李猛;杨玉喜 -专利权人：江苏俱创电子科技有限公司
申请日： 2022-05-12 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： G01R19/25 文献下载
摘要：本发明涉及工业生产自动化技术领域，尤其涉及一种高精度PLC模拟量输入模块工装测试方法及系统，解决了现有技术中人工手动测试方式所存在的测试效率低下以及测试准确率不高的问题。一种高精度PLC模拟量输入模块工装测试方法及系统，包括用于对PLC模拟量输入模块进行自动化工装测试,该系统由高精度模拟量生成装置。本发明高精度PLC模拟量输入模块工装测试方法及系统能够提供自动化的测试过程,闭环测试,测试过程无需人工单独设置输入输出的电流值,无需人工计算；高精度PLC模拟量输入模块工装测试方法及系统可以提供高精度、准确的测试结果；高精度PLC模拟量输入模块工装测试方法及系统可同时测试16个模拟量输出模块,大大提高测试效率。
一种高精度 plc 模拟输入模块工装测试方法系统

[发明专利]飞针测试机的运动轴的控制方法及定位精度的校正方法-CN201710666755.9有效
发明人：谭艳萍;王星;翟学涛;杨朝辉;高云峰 -专利权人：大族激光科技产业集团股份有限公司;深圳市大族数控科技有限公司
申请日： 2017-08-07 - 公布日： 2019-09-17 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及一种飞针测试机的运动轴的控制方法及定位精度的校正方法。上述的飞针测试机的运动轴的定位精度的校正方法包括：根据飞针测试机的测试区域设计校正板，其中，校正板上开设有网格状的测试点矩阵，测试点矩阵的四个顶点分别为测试点A、测试点B、测试点C和测试点D，测试点A和测试点B的连线方向为X轴方向；设定测试点矩阵在X轴方向和在Y轴方向的定位误差的允许值；用自动光学检测仪测试测试点矩阵的每个测试点相对于测试点A与测试点B其中之一的坐标数据；将校正板放置于测试区域。校正后的飞针测试机的XY轴的精度为测试时的定位精度，保证了飞针测试机具有较高的测试精度，解决了飞针测试机的测试精度较低的问题。
测试运动控制方法定位精度校正

[发明专利]芯片精度测试平台、单电流测试方法及芯片精度测试方法-CN202211415067.2在审
发明人：刘海洋 -专利权人：上海兴感半导体有限公司
申请日： 2022-11-11 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：本发明提供一种芯片精度测试平台、单电流测试方法及芯片精度测试方法。所述芯片精度测试平台用于测试芯片及芯片阵列包括：电流源，所述电流源能够与所述芯片连接，用于向所述芯片提供电流；电压源，所述电压源能够与所述芯片连接，用于向所述芯片提供电源电压；温箱，所述温箱内设置待测的芯片本发明提供一种芯片精度测试平台及芯片精度测试方法，实现对不同型号芯片精度的测试。
芯片精度测试平台电流方法

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