“测试电路”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果2180808个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]测试电路-CN202110160891.7在审
发明人：李敏娜 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-02-05 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： G11C29/14 文献下载
摘要：本申请提供一种测试电路。该电路包括：输入端、处理电路和输出端，输入端用于接收输入信号，输入信号包括用于指示测试目标电路模块的测试命令和目标电路模块的地址，处理电路用于根据测试命令和目标电路模块的地址确定测试模式信号，测试模式信号携带测试类型，测试模式信号用于触发目标电路模块进行与测试类型对应的测试，输出端用于根据目标电路模块的地址将测试模式信号发送至目标电路模块。从而，可实现向存储器芯片内不同的电路模块准确地传送测试模式信号。
测试电路

[实用新型]测试电路-CN202122721584.X有效
发明人：毛怀宇;李威 -专利权人：北京华峰测控技术股份有限公司
申请日： 2021-11-08 - 公布日： 2022-09-09 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请提供了一种测试电路，包括开关模块、测量装置及浮动控制电路，其中，开关模块用于根据动作信号控制待测器件接入对应的测试电路，以使测试电路达到对应的工作状态；测量装置与开关模块连接，用于测量待测器件的漏电流；浮动控制电路，与开关模块及测量装置均连接，用于根据接收的测试触发信号动作，为开关模块提供动作信号，以控制开关模块动作。上述测试电路中，通过设置浮动控制电路，对开关线圈进行独立控制，与正常的测试电路分隔开，能够最大限度的减小开关对测试电路的影响，此外，测试电路通过开关的通断能够灵活实现不同参数的测试电路的切换，提高测试的效率
测试电路

[实用新型]测试电路-CN201720539239.5有效
发明人：刘月胜;戴玉瑶;杨江云 -专利权人：立讯精密工业（滁州）有限公司
申请日： 2017-05-16 - 公布日： 2018-01-05 - 主分类号： G01R31/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种测试电路，应于测试治具测试线缆连接器组件，线缆连接器组件包括连接器及与线缆，连接器设有与线缆焊接在一起的数个端子，所述测试治具用以测试端子与端子之间是否有存在短路及各端子与线缆之间是否存在断路，所述测试电路包含短路测试电路及断路测试电路，短路测试电路及断路测试电路分别设有LED指示灯，可以简单、容易、直观的判断各端子之间是否存在短路及断路。
测试电路

[发明专利]测试电路-CN202111162449.4在审
发明人： F·塔耶特 -专利权人：意法半导体(鲁塞)公司
申请日： 2021-09-30 - 公布日： 2022-04-19 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本公开的实施例涉及测试电路。本公开提供了一种测试电路和用于测试集成电路的方法。集成电路包括测试电路。测试电路包括在集成电路周界的至少一部分之上延伸的导电轨、至少一个部件和适于在测试模式期间将输入数据信号偏离到导电轨的激活电路，以及适于在正常操作模式期间将所述输入数据信号传输到所述至少一个组件。
测试电路

[发明专利]测试电路-CN201310624328.6在审
发明人：吴凡;李盈政 -专利权人：深圳富泰宏精密工业有限公司;群迈通讯股份有限公司
申请日： 2013-11-29 - 公布日： 2015-06-03 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明提供一种测试电路，其包括USB接口、USB功能模块及测试功能模块，该USB接口包括电源引脚和识别引脚，该USB功能模块及测试功能模块均电性连接至USB接口的识别引脚，该USB功能模块及测试功能模块均电性连接至USB接口的识别引脚，该USB功能模块用于根据识别引脚的电位控制电子装置是否进入OTG功能，该测试功能模块用于根据识别引脚的电位控制电子装置是否进入测试模式。该测试电路可快速地进入测试模式，提高生产效率，且设计成本低。
测试电路

[发明专利]测试电路-CN201310571270.3在审
发明人：王鑫;陈元喜 -专利权人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2013-11-13 - 公布日： 2015-05-20 - 主分类号： G01R31/30 文献下载
摘要：一种测试电路，包括一控制器、第一至第四电阻、第一至第三电压输入端以及第一至第六电子开关。
测试电路

[发明专利]测试电路-CN201910910592.3在审
发明人：不公告发明人 -专利权人：珠海亿智电子科技有限公司
申请日： 2019-09-25 - 公布日： 2020-01-17 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试电路，包括局部电源产生电路、施密特触发电路、反相电路和电平转换电路；所述局部电源产生电路的输入端连接模拟高压端vccio，所述局部电源产生电路的输出端vp分别连接所述施密特触发电路和所述反相电路的激励电压高压端；所述施密特触发电路和所述反相电路的激励电压低压端接地vss；所述施密特触发电路的输入端连接所述数字低压端vdd，输出端分别连接所述反相电路的输入端和所述电平转换电路的von端；所述反相电路的输出端连接所述电平转换电路的本发明能够解决传统的测试电路不能滤除上电掉电过程中数字低压端vdd的毛刺导致隔离信号vdd_detect跳变，进而导致测试电路在上电掉电过程中不稳定的问题。
反相电路施密特触发电路电平转换电路测试电路产生电路局部电源低压端输入端连接激励电压输出端掉电上电毛刺输出端连接隔离信号模拟高压接地传统的高压端输入端滤除跳变

[发明专利]测试电路-CN202010660661.2在审
发明人：谢协宏;陈妍臻;叶子祯 -专利权人：台湾积体电路制造股份有限公司
申请日： 2020-07-10 - 公布日： 2021-06-18 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种测试电路包括：放大器，被配置成接收交流信号，并基于交流信号输出经放大交流信号；第一检测电路，被配置成产生第一直流电压，第一直流电压具有基于交流信号的振幅的第一值；及第二检测电路，被配置成产生第二直流电压
测试电路

[发明专利]测试电路-CN201911362652.9在审
发明人：洪嘉宏 -专利权人：新唐科技股份有限公司
申请日： 2019-12-26 - 公布日： 2021-05-04 - 主分类号： G01R31/317 文献下载
摘要：一种测试电路，用以测试一微控制器的振荡能力，并独立于微控制器之外，并包括一输入端、一输出端、一第一电容、一振荡器以及一电阻。输入端用以接收微控制器产生的一驱动信号。输出端用以输出一回授信号予微控制器。
测试电路

[发明专利]测试电路-CN202010367075.9在审
发明人：蔡燕飞;刘旭;朱浩洲;陈乃霞;徐丽;王夺 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
申请日： 2020-04-30 - 公布日： 2021-11-02 - 主分类号： G01R31/3177 文献下载
摘要：一种测试电路。所述测试电路包括：第一测试单元；所述第一测试单元包括：第一数据延迟发生器；所述第一数据延迟发生器的第一工作电压，大于所述待测触发器的工作电压；第一电平转换器；第一时钟延迟发生器，与延迟选通信号输出端及时钟信号输出端连接应用上述方案，可以提高建立和保持时间的测试精度。
测试电路

[发明专利]测试电路-CN202110978586.9在审
发明人：李鑫;葛征良;刘家才;罗鹏 -专利权人：成都氮矽科技有限公司
申请日： 2021-08-24 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本申请公开一种测试电路，该测试电路包括：主模块，包括第一开关管，用于对第一开关管的性能进行测试；保护模块，与主模块连接，保护模块包括电流检测电路和第二开关管，当主模块的电流大于电流检测电路的预设电流阈值时当待测的第一开关管为不良品时，本申请可以避免测试电路短路，从而提高测试效率和降低测试成本。
测试电路

[发明专利]测试电路-CN202110260858.1在审
发明人：许烱发;黄振国;陆美娟;卓暐中 -专利权人：瑞昱半导体股份有限公司
申请日： 2021-03-10 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种测试电路，包括多个常态正反器以及一改良式正反器。该改良式正反器包括分别耦接于一黑盒子电路、该多个常态正反器与多个组合逻辑电路的一第三输入脚位、一第四输入脚位以及一第二输出脚位，并用以根据一扫描测试模式信号选择性地暂存该第三输入脚位的输入值或者该第四输入脚位的输入值
测试电路

[发明专利]测试电路-CN201810217305.6有效
发明人：吴二平;石靖;张若男 -专利权人：昆山龙腾光电股份有限公司
申请日： 2018-03-16 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：公开了一种用于液晶显示器的测试电路，包括：信号处理器，用于接收触发信号，根据所述触发信号产生脉冲信号；第一电平转换电路，与所述信号处理器相连，用于接收所述脉冲信号，根据所述脉冲信号得到所述控制信号；输出模块，与所述第一电平转换电路相连，用于接收所述控制信号、第一测试电压和第二测试电压，根据所述控制信号提供第一测试电压和第二测试电压之一作为输出测试电压，其中，所述第二测试电压的电压值大于所述第一测试电压的电压值，自动调节测试电压，提高测试效率。
测试电路

[发明专利]测试电路-CN201310563721.9有效
发明人： R·阿诺尔德;H·马特斯;H·奥伯迈尔 -专利权人：英飞凌科技股份有限公司
申请日： 2013-10-08 - 公布日： 2017-11-14 - 主分类号： H03M1/10 文献下载
摘要：本发明涉及测试电路。该测试电路包括模拟信号发生器；模数转换器（ADC）；可配置数字信号发生器；以及评估电路。
测试电路

[发明专利]测试电路-CN201610549964.0有效
发明人：马亮;赵莽 -专利权人：武汉华星光电技术有限公司
申请日： 2016-07-13 - 公布日： 2018-09-04 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种测试电路，其包括：信号产生模块用于生成与所述数据线对应的测试数据信号；控制模块用于在所述测试电路处于工作状态时，控制所述测试数据信号的输出；静电抑制模块，与所述第一静电控制端、所述第二静电控制端、所述控制模块以及所述信号产生模块连接，所述静电抑制模块用于在所述测试电路处于非工作状态时，阻止所述数据输出端输出。本发明的测试电路，避免了静电对显示画面的影响，提高了显示效果。
测试电路

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页»
尾页
共 100000 条