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[实用新型]一种二极管阵列测试夹具-CN201921605552.X有效
发明人：冯振平;胡文菊;杨行 -专利权人：航天科工防御技术研究试验中心
申请日： 2019-09-25 - 公布日： 2020-08-04 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种二极管阵列测试夹具，二极管阵列测试夹具包括母板、继电器、测试插座与子板；母板设置连接插头和插孔，母板通过连接插头与测试系统的端相连接，母板通过插孔与继电器连接；继电器设置母板插孔、电源插孔、与母板插头，继电器通过母板插孔与母板的插孔连接，继电器通过电源插孔与电源连接，继电器通过母板插头与母板的连接插头连接；子板开设与母板的插孔对应的排针，排针与插孔连接；子板通过测试插座与待测的二极管阵列连接；测试插座用于放置待测的二极管阵列，测试插座开设测试插孔，测试插孔连接排针，使子板与待测的二极管阵列连接。
一种二极管阵列测试夹具

[实用新型]一种兼容性的子母板芯片测试系统-CN202320977842.7有效
发明人：谢登煌 -专利权人：深圳市晶存科技有限公司
申请日： 2023-04-20 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种兼容性的子母板芯片测试系统，包括上位机、通信单元、MCU单元、母板单元和子板单元；上位机与所述通信单元连接，MCU单元用于接收通信单元发送的测试指令，并发送相应的测试信息到母板单元，母板单元包括多个测试端点，子板单元包括多个不同类型的测试子板，子板单元接收所述母板单元的选择信号，选择信号驱动相应的测试子板与相应的测试端点进行测试。通过上位机发送测试指令，然后母板单元相应的测试端点对子板单元相应的测试子板进行测试，从而只需设计一套母板便能兼容不同类型的子板进行老化测试，可广泛应用于芯片测试技术领域。
一种兼容性母板芯片测试系统

[实用新型]一种存储器类器件应用验证装置-CN202120718060.2有效
发明人：屈粮富;宋晓荣;张大伟;马慧娟 -专利权人：天津普智芯网络测控技术有限公司
申请日： 2021-04-08 - 公布日： 2021-10-19 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：一种存储器类器件应用验证装置，包括机箱、存储器测试子板、子板托盘、存储器测试母板及母板安装组件、电源设备及编程电源托盘；通过子板托盘放置存储器测试子板、通过母板安装组件对存储器测试母板进行安装，通过编程电源托盘放置电源装置，且机箱设有电源监控窗口，测试效率高且节约场地；母板安装组件包括导向槽、导向加强件及遮风板；两个遮风板形成的空腔的顶端及底端固定连接导向槽；存储器测试母板顶端及底端分别固定与导向槽相匹配的导向加强件，通过导向加强件与导向槽配合便于移动存储器测试母板；根据验证的存储器类型可更换存储器测试子板，且母板安装组件保证存储器测试母板使用时不易损坏。
一种存储器器件应用验证装置

[发明专利]用于BGA封装组件微波性能测试的夹具及测试方法-CN202211694051.X在审
发明人：吕英飞;陈忠睿;肖晖;唐彬浛;何渊 -专利权人：中国电子科技集团公司第二十九研究所
申请日： 2022-12-28 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明提供了一种用于BGA封装组件微波性能测试的夹具及测试方法，包括支撑板；测试母板，设置于所述支撑板的上端面；扎针测试板，与所述测试母板通过金带级连；限位板，设置于所述测试母板，所述限位板中间形成有容纳空间；针板，设置于所述容纳空间内；施压组件，所述施压组件由所述容纳空间的上方进入并对所述BGA封装组件施加作用力，以使BGA封装组件、弹簧针和测试母板形成导通连接。针板与测试母板固定后，针板限位使弹簧针处于微压缩状态，弹簧针与测试母板单点接触，反复按压测试不会产生位移，减少测试母板上的焊盘损伤；针板表面的限位孔会限制组件下压量，防止弹簧针过压损伤；扎针测试板平整度高，可以使用探针台自动扎针测试，测试效率高。
用于 bga 封装组件微波性能测试夹具方法

[发明专利]用于NAND Flash测试电路和测试方法-CN202010712391.5在审
发明人：李斌 -专利权人：深圳市宏旺微电子有限公司
申请日： 2020-07-22 - 公布日： 2020-12-11 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：本申请提供了一种用于NAND Flash测试电路和测试方法，运用于闪存测试技术领域，其测试电路具有母板部和子板部，其中，母板部设于测试母板上，子板部设于测试子板上；母板部包括电源电路、电压转换电路、单片机主控、数据传输电路和母板插针电路，电源电路与电压转换电路连接，电压转换电路分别与单片机主控和母板插针电路连接，单片机主控与数据传输电路连接，数据传输电路与外部PC端连接；子板部包括子板插针电路和芯片座子电路，子板插针电路分别与母板插针电路和芯片座子电路连接；子母板的两板设计简化了测试电路，电压转换电路丰富了测试平台的测试电压，解决了子板可更换而增加测试平台的使用寿命问题，节约了测试成本。
用于 nand flash 测试电路方法

[实用新型]用于NAND Flash测试电路-CN202021478669.9有效
发明人：李斌 -专利权人：深圳市宏旺微电子有限公司
申请日： 2020-07-22 - 公布日： 2021-01-15 - 主分类号： G11C29/12 文献下载
摘要：本申请提供了一种用于NAND Flash测试电路，运用于闪存测试技术领域，其测试电路具有母板部和子板部，其中，母板部设于测试母板上，子板部设于测试子板上；母板部包括电源电路、电压转换电路、单片机主控、数据传输电路和母板插针电路，电源电路与电压转换电路连接，电压转换电路分别与单片机主控和母板插针电路连接，单片机主控与数据传输电路连接，数据传输电路与外部PC端连接；子板部包括子板插针电路和芯片座子电路，子板插针电路分别与母板插针电路和芯片座子电路连接；子母板的两板设计简化了测试电路，电压转换电路丰富了测试平台的测试电压，解决了子板可更换而增加测试平台的使用寿命问题，节约了测试成本。
用于 nand flash 测试电路

[实用新型]电压采样检测装置-CN202023002381.7有效
发明人：包晓军;刘远曦;李琳;刘会涛;王育才;刘航;葛佩辰 -专利权人：广东纳睿雷达科技股份有限公司
申请日： 2020-12-14 - 公布日： 2021-11-12 - 主分类号： G01R31/58 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种电压采样检测装置，包括：母板、控制单元、母板连接器、测试接口组和报错组件。控制单元安装在母板上；母板连接器安装在母板上，母板连接器与控制单元电性连接；测试接口组的数量为至少一个，至少一个测试接口组与母板连接器电性连接；报错组件与控制单元电性连接。本实用新型的电压采样检测装置，将待测线缆接入相应的测试接口组，控制单元发出测试信号，测试信号通过待测线缆，当测试信号通过待测线缆并回到控制单元，则待测线缆完好，否则，报错组件发出报错信号，提示线缆损坏。通过将不同的待测线缆，接入相应的测试接口组，实现测试多种型号的线缆，并且通过将待测线缆接入测试接口组来实现测试，效率更高。
电压采样检测装置

[实用新型]一种电能表封印性能测试装置-CN201420028659.3有效
发明人：张密;郑安刚;章欣;邹和平;苏良立 -专利权人：国家电网公司;国网计量中心
申请日： 2014-01-16 - 公布日： 2014-07-02 - 主分类号： G01R35/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种电能表封印性能测试装置，包括母板更换组件1，固定母板2，母板移栽组件3，测试组件4；其改进之处在于：所述测试装置置于立方体框架内，所述母板移栽组件3的底板分割立方体为两部分；其底部设有支撑支架；固定母板2平行置于母板更换组件1的封印取放结构与母板移栽组件3之间，并通过母板更换组件1的直线导轨24连接；所述测试组件4交错置于所述母板移栽组件3后上方，其底板由立方体框架以及位于3底板上部的支架支撑本实用新型提供的电能表封印性能测试装置，结构简单，安装方便，造价不高，可广泛应用于科研院校，工业检测部门。
一种电能表封印性能测试装置

[实用新型]一种LED数码管用测试适配器-CN202120426585.9有效
发明人：申志苹;任翔 -专利权人：航天科工防御技术研究试验中心
申请日： 2021-02-26 - 公布日： 2021-12-14 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本实用新型公开的LED数码管用测试适配器，涉及数码管测试装置领域，以解决现有测试方法效率低、准确率差的问题。其中：待测数码管插装在测试子板上，待测数码管的多个管脚与测试子板的子板排针连通；测试母板与测试系统连通，测试子板针插装在测试母板上，子板排针与测试母板的母板排针连通，待测数码管管脚通过子板排针与母板排针连通，多个控制开关外接电源，其两端分别与母板排针和测试系统连通，控制多个控制开关的开启和/或闭合，选择与测试系统连通的待测数码管的管脚，进行测试。上述测试适配器及测试方法，有效提高了测试效率和测试精度，适用范围更广，具有很高的实用性。
一种 led 数码管用测试适配器

[发明专利]一种阵列基板母板和显示面板母板-CN201610165999.4有效
发明人：曹金虎;马明辉;于嘉鑫;于凤武;曹斌;权南仁;历伟;李志;曹鑫磊;郭恩科 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司
申请日： 2016-03-22 - 公布日： 2018-12-18 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明提供一种阵列基板母板和显示面板母板。所述阵列基板母板包括栅线和与所述栅线连接的栅极驱动引线，所述阵列基板母板的非显示区域包括栅极测试引线和栅极测试电极，所述栅极测试引线的一端和所述栅极测试电极连接，所述栅极测试引线的另一端和所述栅极驱动引线对应连接，所述栅极测试电极、所述栅极测试引线与所述栅极驱动引线采用同种材料，且位于同层设置。本发明提供的阵列基板母板，能够防止利用栅线测试时因静电释放引起的点灯异常。
一种阵列母板显示面板

[发明专利]一种设备专用适配器插拔结构及半导体测试设备-CN202210968429.4在审
发明人：李文海;魏海波;裴敬;邓标华 -专利权人：武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精鸿电子技术有限公司
申请日： 2022-08-12 - 公布日： 2022-12-02 - 主分类号： H01R13/631 文献下载
摘要：本申请涉及一种设备专用适配器插拔结构及半导体测试设备，包括：设备专用适配器，其包括支撑框架，支撑框架上设有插槽板卡，插槽板卡的顶部排布有若干连接半导体器件的插槽；测试母板，该测试母板位于设备专用适配器的底部，并通过连接器与插槽板卡插拔连接，测试母板上转动连接有螺栓，螺栓与支撑框架螺纹连接。本申请通过正反向旋转螺栓即可实现设备专用适配器相对于测试母板上下升降运动，进而实现测试母板与设备专用适配器之间连接器的自动插拔连接。测试母板与设备专用适配器之间通过螺栓连接实现相互自动插拔连接，不仅结构简单，制造成本低，而且螺栓占用空间面积小，在测试母板上能够布设更多连接器以满足更高配置测试需求。
一种设备专用适配器结构半导体测试

[发明专利]辐射效应测试板、系统、获取连接线长度的方法及装置-CN201910467249.6有效
发明人：张战刚;黄云;雷志锋;彭超;何玉娟;肖庆中 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2019-05-31 - 公布日： 2021-05-11 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本申请涉及一种辐射效应测试板、系统、获取连接线长度的方法及装置，所述辐射效应测试板包括子板、母板以及连接线；连接线连接在子板与母板之间；连接线用于在辐射效应测试过程中将子板和母板分隔与连接线长度相等的距离；其中，连接线的长度为根据在辐射效应测试过程中母板相对于中子束流的有效截面积、中子源靶心处的中子通量、母板处于中子束流辐照下的辐照时长以及母板受到的总中子通量确定；从而，实现将本申请辐射效应测试板的子板与母板进行分离，避免了在对待测器件进行辐射效应测试的过程中，因中子束流辐照到母板上的敏感器件而造成的对待测器件辐射效应测试的干扰，进而，提高了测试待测器件的辐射效应的准确度。
辐射效应测试系统获取连接线长度方法装置

[实用新型]一种用于芯片测试的三维测试板和多工位三维测试板-CN202121395651.7有效
发明人：叶旭阳;高佳林 -专利权人：上海艾为电子技术股份有限公司
申请日： 2021-06-22 - 公布日： 2022-01-25 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请提供了一种用于芯片测试的三维测试板和多工位三维测试板，该三维测试板包括分离设置的测试母板和单工位测试电路板；测试母板用于安装待测试芯片；测试母板连接单工位测试电路板，测试母板用于连接自动化集成电路测试机，利用自动化集成电路测试机对待测试芯片进行测试。即本申请实施例的测试板为三维结构，在自动化集成电路测试机上只预留测试母板的二维面积即可，测试母板与单工位测试电路之间形成了三维立体结构，减少了二维平面面积，提升了测试板的可靠性，且设计简单，无需设计复杂的多个电路模板
一种用于芯片测试三维多工位

[发明专利]一种BGA封装产品射频性能测试夹具-CN201910341707.1有效
发明人：笪余生;廖翱;张童童;吕英飞;刘志辉 -专利权人：中国电子科技集团公司第二十九研究所
申请日： 2019-04-26 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种BGA封装产品射频性能测试夹具，包括测试夹具底板、加压机构、定位机构、测试母板和弹性膜片；加压机构设置在测试夹具底板上，测试母板设置于测试夹具底板与加压机构之间，弹性膜片置于测试母板的BGA焊盘侧，定位机构安装在测试母板与加压机构之间，在加压机构对待测BGA封装产品加压到一定程度后，弹性膜片的受压点位两侧导通，使得BGA球与测试母板BGA焊盘接触导通，进而实现射频传输的目的；测试母板导出其所接收到的参数本发明装置可以实现毫米波频段BGA封装产品的毫米波传输性能的测试功能，扩展了射频BGA封装产品的频率测试范围至40GHz以上，测试效率提升50％以上，互连结构返修更换效率提高2倍以上。
一种 bga 封装产品射频性能测试夹具

[发明专利]一种电能表封印性能测试装置-CN201410021084.7有效
发明人：郑安刚;张密;章欣;邹和平;苏良立 -专利权人：国家电网公司;国网计量中心;中国电力科学研究院;国网浙江省电力公司
申请日： 2014-01-16 - 公布日： 2017-02-22 - 主分类号： G01R35/04 文献下载
摘要：本发明公开了一种电能表封印性能测试装置，包括母板更换组件1，固定母板2，母板移栽组件3，测试组件4；其改进之处在于所述测试装置置于由竖直放置的柱以及连接所述柱水平放置的衬构成的立方体框架内；所述母板移栽组件3的底板置于位于柱中间部位的衬板上；其底部设有支撑柱；所述固定母板2置于所述母板移栽组件3上方，且由同时穿过所述母板更换组件1的直线导轨24连接；所述母板移栽组件3后方平行位置设有所述测试组件4。本发明提供的电能表封印性能测试装置，结构简单，安装方便，造价不高，可广泛应用于科研院校，工业检测部门。
一种电能表封印性能测试装置

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