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[发明专利]接脚元件的测试方法及其装置-CN200710169515.4有效
发明人：李冠兴 -专利权人：环隆电气股份有限公司
申请日： 2007-11-08 - 公布日： 2009-05-13 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种接脚元件的测试方法，包括：提供一测试载板，测试载板具有多个测试接点；提供一测试子板，测试子板设有多个从测试子板的顶面贯穿至底面的导体，测试子板上形成有高低落差，将测试子板放置于测试载板上，并令导体与测试接点对应接触；于测试子板上设置一导电垫片，导电垫片与测试子板的导体对应接触；以及将一待测物放置于导电垫片上，待测物具有多个接脚与导电垫片接触，下压待测物，使待测物的接脚、导电垫片、测试子板的导体与测试载板的测试接点电性连接，对待测物进行测试。本发明另提供一种接脚元件的测试装置。
元件测试方法及其装置

[发明专利]测试系统及子单元-CN200880001372.9有效
发明人：宫内康司;渡边俊幸 -专利权人：爱德万测试株式会社
申请日： 2008-08-06 - 公布日： 2009-11-11 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：提供一种测试系统，是测试被测试器件的测试系统，配置有测试头，其具有产生提供给被测试器件的测试信号的测试模块；功能板，其载置于测试头上，传送测试模块产生的测试信号；子单元，其可装卸地搭载于功能板上，将测试信号从功能板传送给被测试器件；子单元具有测试座，其搭载被测试器件；子板，其安装测试座；筐体，其将测试座及子板收容于内侧，包括阻断外部对测试座及子板的噪声的子板一侧屏蔽件。
测试系统单元

[实用新型]一种光模块测试板-CN202022414617.1有效
发明人：黄士争;关鹤林;吴天书;杨现文;李林科;张健 -专利权人：武汉联特科技股份有限公司
申请日： 2020-10-27 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： H01R12/73 文献下载
摘要：一种光模块测试板，包括测试板和印制于测试板上的主电路以及容易损坏的子电路，所述主电路和子电路电连接，所述测试板包括测试母板和测试子板，所述测试母板和测试子板均为印制电路板，所述主电路印制于所述测试母板上，所述子电路印制于测试子板上，所述测试母板和所述测试子板之间采用叠层方式上下组合连接；所述测试母板上设置有第一连接口和用于与PC端连接的USB接口，所述测试子板包括用于与所述第一连接口电连接的第二连接口和用于与待测试的光模块电连接的第三连接口本实用新型，当出现损坏时，只需要更换成本较低的测试子板，即可恢复整个测试板的正常功能，从而能够减少测试更换的成本。
一种模块测试

[实用新型]一种兼容多种规格光模块老化测试的装置-CN202022273187.6有效
发明人：张润泽;黄庆;陈硕;王光辉;张绍友 -专利权人：成都市德科立菁锐光电子技术有限公司;无锡市德科立光电子技术股份有限公司
申请日： 2020-10-13 - 公布日： 2021-06-25 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种兼容多种规格光模块老化测试的装置，包括测试板，还包括若干类型子测试板，所述测试板设有若干组主板数据接口；所述若干类型子测试板中任意一个类型的子测试板的一端设有子板数据接口，另一端设有光模块数据接口；所述若干类型子测试板中任意两个不同类型的子测试板的光模块数据接口不同；所述若干类型子测试板中任意一个类型的子测试板的子板数据接口与测试板的若干组主板数据接口中任意一组主板数据接口相连接，光模块数据接口用于与需测试的相匹配的光模块连接其有益效果是：采用一个装置，实现对多种规格的光模块测试，降低生产研发成本，提高生产效率。
一种兼容多种规格模块老化测试装置

[发明专利]一种子板模块的插入式测试装置-CN201810181686.7在审
发明人：韩文静;郁召锋;金旸霖 -专利权人：上海航天科工电器研究院有限公司
申请日： 2018-03-06 - 公布日： 2018-08-14 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种子板模块的插入式测试装置，包括前模块外壳、后模块连接板、柔性印制板、测试子板模块及标准子板模块，本发明在后模块连接板内设置标准子板模块，在前模块外壳内设置测试子板模块，通过标准子板模块与机箱的背板槽位插接，柔性印制板分别将机箱背板槽位信号由标准子板模块经连接端口引出到柔性印制板的测试接点区，将测试子板模块的测试信号由功能背板引出到柔性印制板的测试接点区；在机箱外侧通过测试窗口即可完成对测试子板模块及机箱背板信号的测试，也可完成机箱背板信号与测试子板模块之间的信号测试，同时可对两者的信号进行对比，以及对功能强化，方便用户查看信号的准确性，便于用户对信号的改进及系统的升级。
测试子板柔性印制板子板模块机箱背板插入式测试装置模块连接板测试接点模块外壳种子板背板槽位测试窗口测试信号功能背板功能强化连接端口信号测试用户查看槽位插接机箱在机测试升级改进

[发明专利]一种玻璃绝缘子排列装置和检测方法-CN202110047610.7有效
发明人：戴裕华;程凯;黄爱琴;谢新根;郝守泉;范俊 -专利权人：中电国基南方集团有限公司
申请日： 2021-01-14 - 公布日： 2023-01-24 - 主分类号： G01R27/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种玻璃绝缘子排列装置，包括测试板、测试板漏斗、镜检板、测试架和导电条；所述测试板漏斗采用铝板，板材上制作均匀分布的通孔，所述镜检板的结构为反面凹形状、正面打孔，所述测试板的结构正面打孔；测试板的尺寸与测试架尺寸相匹配本发明的玻璃绝缘子的检测方法，包括步骤(1)测试板漏斗放在镜检绝缘子的板上，通过振动装好绝缘子的测试板漏斗和镜检板，使需要排列的绝缘子自然滑落到镜检板的孔内；(2)将排列好绝缘子的镜检板对接测试板，翻转180度，将绝缘子倒入测试板上；(3)把排列有绝缘子的测试板放在测试架上进行测试。本发明实现快速垂直排列绝缘子，提高工作效率，便于检测人员计数。
一种玻璃绝缘子排列装置检测方法

[发明专利]电路板测试设备-CN202211109761.1在审
发明人：黄建东 -专利权人：超聚变数字技术有限公司
申请日： 2022-09-13 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请实施例提供一种电路板测试设备，涉及服务器测试技术领域。该电路板测试设备包括通用测试平台、子夹模组和连接器；子夹模组可拆卸的设置在通用测试平台中，且子夹模组和通用测试平台通过连接器连接；其中，子夹模组包括子夹上模组和子夹下模组，子夹上模组和子夹下模组相对设置，子夹下模组朝向子夹上模组的一面用于放置待测电路板；子夹上模组上设有接口对接结构，接口对接结构与待测电路板上的接口适配连接。从而可以通过替换子夹模组的方式测试不同种类的电路板，有利于扩大电路板测试设备的适用范围，提高电路板测试设备中通用资源的利用率。
电路板测试设备

[实用新型]一种数据转换器验证装置-CN202120709078.6有效
发明人：张大伟;屈粮富;宋晓荣;马慧娟 -专利权人：天津普智芯网络测控技术有限公司
申请日： 2021-04-07 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种数据转换器验证装置，包括机柜及连接在机柜空腔内部的PCB支架、子板支架、连接器支架及测试母板；子板支架的顶端，穿设机柜的上盖设有的子板通孔，子板通孔与子板支架相匹配；测试子板安装在子板支架上，子板支架与机柜固定连接，子板支架下方依次设有PCB支架及连接器支架，分别用于放置PCB板及连接器；测试母板封装在机柜的内部，根据测试芯片选取合适的测试子板，将测试子板固定在子板支架上，无需更换测试母板即可完成测试，方便快捷且测试效率高
一种数据转换器验证装置

[实用新型]一种印刷电路板测试工装-CN202120079934.4有效
发明人：周涛;赵磊;江颖婕;段威龙 -专利权人：北京中科慧眼科技有限公司
申请日： 2021-01-13 - 公布日： 2021-11-16 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种印刷电路板测试工装，包括：测试针板，所述测试针板上安装有多个探针，并通过所述探针与被测主板的测试点相接触；测试子板，所述测试子板为多个，各所述测试子板分别可拆卸地安装于所述测试针板，并与所述测试针板电连接；测试主板，所述测试主板分别与各所述测试子板电连接。对于不同型号的被测主板，只需要重新开发测试针板，复用已有的测试主板和测试子板即可，从而实现了测试子板和测试主板的复用，降低了开发时间和难度。
一种印刷电路板测试工装

[实用新型]一种兼容性的子母板芯片测试系统-CN202320977842.7有效
发明人：谢登煌 -专利权人：深圳市晶存科技有限公司
申请日： 2023-04-20 - 公布日： 2023-10-17 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种兼容性的子母板芯片测试系统，包括上位机、通信单元、MCU单元、母板单元和子板单元；上位机与所述通信单元连接，MCU单元用于接收通信单元发送的测试指令，并发送相应的测试信息到母板单元，母板单元包括多个测试端点，子板单元包括多个不同类型的测试子板，子板单元接收所述母板单元的选择信号，选择信号驱动相应的测试子板与相应的测试端点进行测试。通过上位机发送测试指令，然后母板单元相应的测试端点对子板单元相应的测试子板进行测试，从而只需设计一套母板便能兼容不同类型的子板进行老化测试，可广泛应用于芯片测试技术领域。
一种兼容性母板芯片测试系统

[实用新型]一种直插式排阻测试夹具-CN202223218687.5有效
发明人：姚鼎;武翰;蒋勇;曾子玥;袁媛 -专利权人：中国船舶集团有限公司第七一六研究所
申请日： 2022-12-02 - 公布日： 2023-07-18 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种直插式排阻测试夹具，包括转接台、连接器和测试子板，转接台上表面设置有放置测试子板的凹槽，凹槽内部四周设有若干个与测试子板连接的弹簧探针，弹簧探针底部通过导线四线制连接至连接器，弹簧探针头部与测试子板背部覆铜接触点相连，连接器与测试设备相连；凹槽外四角分别设置一个压紧机构，通过弹簧提供压力并可旋转，用于固定测试子板。使用时，将测试子板置于凹槽中，旋转压紧机构，压住测试子板的四角，实现测试子板与转接台的连接。本实用新型可实现单次测量排阻全部阻值，批量测试时效率提升显著。且结构简单、操作方便、适用性广，针对不同电路结构形式的排阻，只需更换对应的测试子板即可。
一种直插式排阻测试夹具

[实用新型]用于电路板的测试装置-CN202222241314.3有效
发明人：梁俊伟;刘海龙 -专利权人：无锡深南电路有限公司
申请日： 2022-08-24 - 公布日： 2022-12-20 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种用于电路板的测试装置，测试装置包括：测试板，测试板包括多个子板，多个子板沿子板的厚度方向层叠设置，测试板上形成有至少一个孔，孔沿子板的厚度方向贯穿多个子板，孔包括沿子板的厚度方向彼此连通的钻孔和背钻孔，钻孔和背钻孔的连接处的两个子板分别为第一子板和第二子板，第一子板串联在第一测试电路中，第二子板并联在第二测试电路中。由此，可以根据需要选择第一测试电路和第二测试电路进行对测试板的检测，可以控制背钻孔下钻深度是否合格，以使背钻孔的精度更高，避免对电路板进行切片，降低测试电路板是否合格的成本，提高测试的效率，降低电路板的不良率，减小测试过程中的耗材量。
用于电路板测试装置

[实用新型]一种用于对封装级芯片进行测试的测试板-CN201720662591.8有效
发明人：任勇;郑鹏飞;席与凌 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2017-06-08 - 公布日： 2018-05-15 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型提供一种用于对封装级芯片进行测试的测试板，包括：子板，子板的正面设有芯片插座，子板的背面设有第一导电连接部，芯片插座与第一导电连接部电性连接；母板，母板的正面设有子板安装区，子板安装区的外围与第一导电连接部位置对应处设有第二导电连接部，母板的背面设有测试机头连接部；子板可拆卸的设置于子板安装区。本实用新型的有益效果：当需要对不同封装类型的芯片进行测试时，不再需要为每种封装的芯片重新设计新的测试板，只需根据芯片的封装类型更换测试板的子板，无需更换测试板的母板，不但提高了测试效率、降低了时间成本，而且还节省了制造或订购新的测试板的资金，具有结构简单、使用方便、成本低的特点。
一种用于封装芯片进行测试

[发明专利]芯片测试组件、芯片测试系统和芯片测试方法-CN202011642087.4在审
发明人：林楷辉;倪建兴 -专利权人：锐石创芯（深圳）科技有限公司
申请日： 2020-12-31 - 公布日： 2021-05-25 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开一种芯片测试组件、芯片测试系统和芯片测试方法。该芯片测试组件所述测试子板上包括芯片装载区和测试连接区，所述芯片装载区用于装载待测试芯片，所述测试连接区上设有主板连接件；所述性能测试主板上包括主板基板和设置在所述主板基板上的子板连接件和信号传输端口，所述信号传输端口通过信号连接线与所述子板连接件电连接；当所述性能测试主板上的子板连接件与所述测试子板中的所述测试连接区上的主板连接件贴合时，所述信号传输端口与所述测试子板上的待测试芯片实现电连接。该芯片测试组件有助于保障测试准确性并降低测试成本。
芯片测试组件系统方法

[发明专利]一种通用的芯片测试系统、测试方法及存储介质-CN202010414915.2有效
发明人：程景全;宿晓锋;郭婷;武建宏 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2020-05-15 - 公布日： 2022-03-11 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种通用的芯片测试系统、测试方法及存储介质。芯片测试系统包括主控装置、测试主板、N个子板连接件，若干个测试子板以及若干个测试套件。测试主板与主控装置、测试套件及测试子板连接；测试子板和测试套件匹配，测试子板和测试主板通过子板连接件连接。本发明提供的一种通用的芯片测试系统能够快速准确地对芯片设计前后的功能和性能进行验证测试，可以满足芯片制造前的功能验证、性能测试、可靠性测试的测试任务，而且该系统为模块化设计可扩展性强、能够实现测试自动化
一种通用芯片测试系统方法存储介质

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