专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种面向GAP隔离交换设备的渗透测试方法-CN201410026981.7在审
  • 钟力;姚兰;阮强;何金勇 - 中国人民解放军信息安全测评认证中心;钟力
  • 2014-01-21 - 2014-07-09 - H04L29/06
  • 本发明公开了一种面向GAP隔离交换设备的渗透测试方法,具体如下:(a)测试策略配置,根据受测设备的工作原理、功能和实现方式,从预先设置的渗透测试规则库中选择适用的测试用例,并配置好测试环境参数;(b)网络攻击会话生成,构建独立的客户端和服务端程序,分别模拟受测设备两端网络中的主机,然后各自调用测试用例所对应的测试插件,并把步骤a配置的测试环境参数传递给测试插件;测试插件实时产生相应的数据包,并经由客户端或服务端发送,从而生成网络攻击会话;(c)测试结果评判,根据网络攻击会话的完成情况和受测设备的告警信息,评判测试用例的测试结果。应用本发明,可实现对GAP隔离交换设备的自动化安全性测试
  • 一种面向gap隔离交换设备渗透测试方法
  • [发明专利]一种代码持续集成的方法-CN201310719971.7在审
  • 魏琳琳;杨松;莫展鹏;季统凯 - 国云科技股份有限公司
  • 2013-12-23 - 2014-04-02 - G06F9/44
  • 本发明首先指定测试环境需要部署的服务器并部署其环境,确定其IP地址;然后,在对要测试的代码打基线;检出要测试的代码并进行编译,得到目标代码,并且对目标代码插桩;然后,在测试环境中执行测试用例,生成测试用例的执行结果、自动生成代码的测试覆盖率报告;然后,根据测试用例执行结果,修复代码缺陷;根据测试覆盖率报告重新调整测试用例;重复之前的集成的流程,直到测试用例全部通过并且测试覆盖率为100%为止。本发明解决了软件开发过程当中,从代码开发到测试,再到回归测试的过程中浪费大量时间的问题;可用于软件开发中。
  • 一种代码持续集成方法
  • [发明专利]电路测试方法及适用的测试系统-CN201510807599.4在审
  • 王哲;龚明;冯云;曲海山;那丽丽;朱剑;佘彩云 - 上海无线电设备研究所
  • 2015-11-20 - 2016-02-03 - G01R31/28
  • 本发明公开一种电路测试方法,该方法包含:被测对象的特性、测试仪器,以及各被测对象与测试仪器之间的连接关系存入数据库,建立被测对象模型、测试仪器模型和连接关系模型;确立当前测试的被测对象,从数据库中查询当前测试的被测对象的被测对象模型、测试仪器模型和连接关系模型;根据被测对象模型、测试仪器模型和连接关系模型,启动测试仪器对当前测试的被测对象进行测试。本发明利用数据库建立系统模型,可灵活地根据测试需求对被测对象测试仪器信息进行编辑,实现测试方法的通用性,缩短开发周期,建立的连接关系模型对开关资源进行智能配置,有效地防止人工错误而造成质量事故。
  • 电路测试方法适用系统
  • [发明专利]一种集成电路芯片的自动老化测试装置-CN201410687122.2在审
  • 肖金磊;刘静;王生鹏;王国兵 - 北京同方微电子有限公司
  • 2014-11-26 - 2016-02-10 - G01R31/28
  • 一种集成电路芯片的自动老化测试装置,涉及集成电路测试、可靠性考核测试领域。本发明的一种实现方式包括置于同一测试板上的驱动模板和测试模板。驱动模板包括复位模块、时钟信号模块和存储器模块。测试模板上整齐排列众多测试单元,每个测试单元上分别包括放置待测芯片的芯片座和状态显示灯。驱动模板上的电源模块分别给复位模块、时钟信号模块和存储器模块供电,复位模块、时钟信号模块、存储器模块和电源模块分别连接到测试模板上的各测试单元。复位模块和时钟信号模块连接到存储器模块。驱动模板自动驱动测试模板上的各芯片完成老化测试流程。本发明无需使用自动测试仪就能实时对芯片完成测试和验证,具有节约成本和高效、准确的特点。
  • 一种集成电路芯片自动老化测试装置

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