专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种集成电路测试方法及系统-CN202310206780.4有效
  • 徐振;彭安斋 - 杭州朗迅科技股份有限公司
  • 2023-02-27 - 2023-09-26 - G01R31/28
  • 本发明公开了一种集成电路测试方法,包括:预先配置指令测试模板,所述指令测试模板中具备指令匹配方式、指令类型以及指令操作资源获取方式;拦截原始测试指令,并对所述原始测试指令进行解析,确定所述原始测试指令所对应的指令类型和配置资源;根据确定的指令类型,选择对应的指令测试模板,并根据该指令测试模板和配置资源,生成指令测试事务包;发送指令测试事务包至集成电路测试下位机侧的解码器上,促使解码器解析所述指令测试事务包,获取测试指令并控制集成电路测试下位机进行指令测试本发明能够在不修改原有各类设备测试指令的情况下,协同实现对昂贵硬件的硬件设备分时共享,从而实现一机多控,一机多任务并行测试的效果。
  • 一种集成电路测试方法系统
  • [发明专利]一种微波设备的测试方法、测试装置及测试系统-CN202011555931.X在审
  • 常婷;赵志峰;徐波;安瑞康;陈洁 - 西安航空电子科技有限公司
  • 2020-12-24 - 2021-05-04 - G01R31/00
  • 本发明属于微波设备领域,公开了一种微波设备的测试方法、测试装置及测试系统,包括:获取第一测试信号选择指令,根据第一测试信号选择指令从预设的若干测试信号指令中选取目标测试信号指令;将目标测试信号指令发送至微波射频器;获取第二测试信号选择指令,根据第二测试信号选择指令从预设的若干测试信号指令中选取第二测试信号指令,从预设的若干切换处理逻辑指令中,选取并根据切换处理逻辑指令进行第二测试信号指令的逻辑处理,将目标测试信号指令切换为逻辑处理后的第二测试信号指令,接收待测试微波设备发送的所有测试反馈信号并解析,得到测试结果。极大的降低了对测试人员的专业水平要求,节省了大量的测试时间,极大的提升了测试效率。
  • 一种微波设备测试方法装置系统
  • [发明专利]处理器程序的测试方法和装置-CN201610620616.8有效
  • 陈博文 - 龙芯中科技术有限公司
  • 2016-07-29 - 2020-07-28 - G06F11/36
  • 本发明提供一种处理器程序的测试方法和装置,用于获取对处理器程序进行测试测试指令序列以及测试指令序列的预期结果序列,测试指令序列存储于处理器的内存空间,该方法包括:获取当前指令地址,当前指令地址为内存中的地址;判断当前指令地址是否为已存储任一测试指令的已存储指令地址,测试指令为待测试的处理器程序所支持的指令;若当前指令地址为已存储指令地址,则执行当前指令地址中存储的测试指令,并将当前指令地址中存储的测试指令的执行结果加入预期结果序列本发明的方法能够使得测试处理器程序的测试指令序列能够重复执行以及包含不确定结果指令时提高测试效率。
  • 处理器程序测试方法装置
  • [发明专利]终端测试方法、终端及可读存储介质-CN201910604053.7有效
  • 赵北斗 - 无锡睿勤科技有限公司
  • 2019-07-05 - 2023-07-28 - G06F11/26
  • 本发明实施例涉及一种终端测试方法、终端及可读存储介质,终端测试方法包括:接收用于测试的安卓测试指令,安卓测试指令携带用于指示待测试功能的指令值;根据预先设置得指令值与指令功能的对应关系,获取与安卓测试指令携带的指令值对应的指令功能;调用指令功能,对待测试功能进行测试。本发明通过调用的方式,使终端在处理安卓测试指令时能够使用被调用的功能对指令值所指示的待测试功能进行测试,实现跨平台和归一化测试,从而提高测试效率。
  • 终端测试方法可读存储介质
  • [发明专利]一种终端性能测试方法和系统-CN201610130158.X有效
  • 肖海浪;安岗;严斌峰;叶阳;孙宇 - 中国联合网络通信集团有限公司
  • 2016-03-08 - 2019-04-16 - H04L12/26
  • 本发明公开了一种终端性能测试方法和系统,涉及通信领域,能够对终端处于各种网络环境下的性能进行测试。该方法包括:主控平台制定用于测试终端性能的测试计划,根据测试计划生成同步指令测试指令,并向网络模拟单元和测试执行单元发送同步指令;网络模拟单元和测试执行单元接收同步指令,并向主控平台回复同步指令响应消息;主控平台接收同步指令响应消息,根据同步指令响应消息,确定测试指令的发送时间,并根据测试指令的发送时间,分别向网络模拟单元和测试执行单元发送测试指令;网络模拟单元和测试执行单元接收测试指令,并根据测试指令对终端性能进行测试本发明主要应用在测试终端性能的过程中。
  • 一种终端性能测试方法系统
  • [发明专利]一种测试方法及系统-CN201210587731.1有效
  • 刘惠娟 - 派芬自控(上海)股份有限公司
  • 2012-12-28 - 2018-01-12 - G05B23/02
  • 本发明实施例提供了一种测试方法及系统,测试单元接收上位机发出的包含有测试内容的测试指令,分析测试指令并将测试指令分配给与测试指令测试内容相应的测试模块,相应的测试模块根据测试指令向被测单元输出与测试内容相应的测试信号,并向上位机反馈测试已输出指令;上位机接收到测试已输出指令后,向被测单元发出读取端口状态指令;被测单元接收到读取端口状态指令,根据读取端口状态指令读取端口状态信息,并反馈给上位机端口状态信息;上位机通过比对输出指令与端口状态信息,生成测试结果。本发明提供的测试方法及系统使得测试过程相比现有技术中需要根据不同的控制器型号更换相应的测试信号源箱简单。
  • 一种测试方法系统
  • [发明专利]一种处理器指令测试方法和装置-CN201910078525.X有效
  • 孟丹;李丹萍;朱子元 - 中国科学院信息工程研究所
  • 2019-01-28 - 2020-09-11 - G06F11/36
  • 本发明实施例提供一种处理器指令测试方法和装置,用于发现指令设计的缺陷。本发明实施例根据处理器设计厂商公布的指令集手册将整个指令空间分为已定义指令集和未定义指令集两部分,两类指令集分别采用不同的测试方法,已定义指令集采用现有的指令测试方法如随机测试等方法进行测试,未定义指令集采用本发明实施例提出的未定义指令测试方法进行测试,弥补了现有的指令测试方法只聚焦于测试已定义指令的不足,测试范围既覆盖到了已定义指令,又覆盖到了未定义指令,尤其是,可以对未定义指令集进行全覆盖的测试
  • 一种处理器指令测试方法装置
  • [发明专利]一种测试指令的处理方法及装置-CN202110352685.6在审
  • 吴鹏;李钊 - 中国工商银行股份有限公司
  • 2021-03-31 - 2021-05-28 - G06F11/36
  • 本发明提供一种测试指令的处理方法及装置,可用于金融领域或其他技术领域。所述方法包括:获取在预设时间段内接收到的多个测试指令;获得每个测试指令对应的处理难度参数;获得每个测试指令对应的无效字段参数和维护难度参数;根据每个测试指令对应的处理难度参数、无效字段参数和维护难度参数,获得每个测试指令对应的复杂度参数;获得每个测试指令对应的反馈时效参数;获得每个测试指令对应的排序指标;根据各个测试指令对应的排序指标,获得所述多个测试指令指令任务处理序列。本发明实施例提供的测试指令的处理方法及装置,减少测试指令的处理等待时间。
  • 一种测试指令处理方法装置
  • [发明专利]测试方法、装置、电子设备及存储介质-CN202010466031.1在审
  • 刘毅;许超 - 龙芯中科技术股份有限公司
  • 2020-05-28 - 2021-12-03 - G06F11/36
  • 本申请提供一种测试方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:构建测试指令集;其中,测试指令集包括用于对测试对象进行多种测试的多个测试指令测试指令集中任意两个测试指令均不相同;多种测试中的任意一种测试需要通过执行测试指令集中的一个或多个测试指令实现;根据多种测试测试类型,确定测试的配置参数;根据确定的测试的配置参数,由主状态机控制各子状态机执行测试指令集中的测试指令,以对测试对象进行多种测试,获得测试结果;解决了现有技术中的测试方法所获得的测试结果中含有重复的故障信息的技术问题,提高了测试结果的精确度,进而提高了故障修复效率。
  • 测试方法装置电子设备存储介质

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