专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种波长偏移校正方法及装置及计算机设备-CN201811640676.1有效
  • 于丙文;陈挺;常红旭;郑磊落;刘文龙;冯雨晨;方博凡 - 浙江全世科技有限公司
  • 2018-12-29 - 2022-01-18 - G01N21/27
  • 本发明公开了一种波长偏移校正方法,该方法包括:获取参考光谱和待校正光谱;计算待校正光谱中每个像素的强度密度函数,得到多项式系数矩阵,多项式系数矩阵中的每一组多项式系数分别为待校正光谱中的一个像素的强度密度函数的系数;确定像素偏移量范围;根据像素偏移量范围内的像素偏移量与多项式系数矩阵计算出每个像素偏移量对应的待审核光谱;确定和参考光谱最接近的待审核光谱,得到最优像素偏移量;根据最优像素偏移量与多项式系数矩阵对待校正光谱进行校正,得到波长偏移校正后的光谱。该波长偏移校正方法能够对光谱数据进行非整数倍像素偏移量的校正,不依赖寻峰法。本发明还公开了波长偏移校正装置及计算机设备。
  • 一种波长偏移校正方法装置计算机设备
  • [发明专利]一种拉曼光谱检测仪校准方法-CN201810046148.7有效
  • 徐晓轩;王斌;文虹镜;时金蒙;车颖;梁菁;徐阳阳;杨江涛 - 南开大学
  • 2018-01-17 - 2020-08-25 - G01N21/65
  • 一种拉曼光谱检测仪校准方法,包括以下操作步骤,步骤一,得到参考光谱S1;步骤二,得到初始光谱S2;步骤三,得到当前背景光谱S3;步骤四,计算所述参考光谱S1与所述初始光谱S2的第一差值光谱Sd1,计算所述参考光谱S1与当前背景光谱S3的第二差值光谱Sd2,计算所述初始光谱S2与所述当前背景光谱S3的第三差值光谱Sd3;步骤五,确定第一偏移量△v1与第二偏移量△v2;步骤六,采用所述第一偏移量△v1对检测结果的拉曼光谱进行修正或采用所述第四偏移量△v4对检测结果的拉曼光谱进行修正。
  • 一种光谱检测校准方法
  • [发明专利]光谱遥感图像校正方法及装置-CN201410171313.3有效
  • 吴远峰;张浩;陈正超;孙旭;高连如;张兵 - 中国科学院遥感与数字地球研究所
  • 2014-04-25 - 2016-11-30 - G06T5/00
  • 本发明实施例公开了一种高光谱遥感图像校正方法及装置,从待校正的高光谱遥感图像中确定一个波段为参考波段,通过相邻行的最小误差确定各行的相对偏移量,并通过各行的相对偏移量确定各行的绝对偏移量(即各行相对于目标行像素的偏移量),从而根据各行的绝对偏移量逐波段移动待校正的高光谱遥感图像中对应的行,得到校正后的高光谱遥感图像。由此可知,本申请实施例提供的高光谱遥感图像校正方法及装置,从高光谱遥感图像本身特征出发,统计高光谱遥感图像内部的行与行之间的相关数据,通过行相关误差最小和逐行位置平移的方法进行校正,不依赖于外部姿态数据,实现了针对高光谱遥感图像几何畸变的校正。
  • 光谱遥感图像校正方法装置
  • [发明专利]光传感器、传感器装置及用于进行感测的方法-CN201880091311.X有效
  • 杨耀文;穆尼什·马赫什瓦里;陈瑞强;坦美·查塔维迪 - 南洋理工大学
  • 2018-07-20 - 2022-08-26 - G01K11/3206
  • 多种技术提供了一种光传感器,具有:光源;光栅装置,光耦合到光源以从光源接收源光信号,光栅装置包括具有定义的光谱轮廓的啁啾FBG,其中,作为对与啁啾FBG相互作用的至少一个参数的第一改变的响应,定义的光谱轮廓相对于参考光谱轮廓在第一方向上偏移,并且光栅装置被配置为,作为对定义的光谱轮廓相对于参考光谱轮廓在第一方向上偏移的响应,生成与第一改变对应的第一输出光信号,并且其中,作为对与啁啾FBG相互作用的至少一个参数的第二改变的响应,定义的光谱轮廓相对于参考光谱轮廓在第二方向上偏移,并且光栅装置被配置为,作为对定义的光谱轮廓相对于参考光谱轮廓在第二方向上偏移的响应,生成与第二改变对应的第二输出光信号。
  • 传感器装置用于进行方法
  • [发明专利]全谱直读光谱仪测量化学元素的方法-CN201510402178.3在审
  • 袁海军;马建州;廖波;顾德安 - 无锡创想分析仪器有限公司
  • 2015-07-09 - 2015-11-04 - G01N21/31
  • 本发明涉及一种全谱直读光谱仪测量化学元素的方法,所述方法包括:使用全谱直读光谱仪对样品进行分析,所述对样品进行分析中包括:调用分析曲线,激发样品;采集光谱;进行数据预处理;通过寻峰法计算参考谱线的标定位置与谱线峰值的偏移量并以所述的偏移量作为分析谱线的偏移量;根据分析谱线的偏移量对分析谱线进行偏移修正;计算谱线强度,带入分析曲线,计算得到元素的含量。本发明根据测试时在标定时参考谱线的峰值位置处的值,通过寻峰法计算测试时参考谱线的峰值位置与标定时参考谱线的峰值位置的偏移量。根据所述偏移量能够实时校正分析谱线的位置,减小了光谱位置偏移对分析数据的影响,提高了分析数据的稳定性和准确性。
  • 直读光谱仪测量化学元素方法
  • [发明专利]识别设备-CN202210328097.3在审
  • 川口诚;米谷勇辉;市原滋 - 佳能株式会社
  • 2022-03-30 - 2022-10-21 - G01N21/65
  • 提供了一种识别设备,其中,与预定波数偏移相对应的各光谱光束被投影到摄像部,使得与预定波数偏移相对应的光谱光束在摄像部上的投影位置和由于不同激发波长而改变的投影位置之间的距离短于成像透镜处与预定波数偏移相对应的光谱光束的光路和由于不同激发波长而改变的光路之间的距离
  • 识别设备
  • [发明专利]一种基于哈希学习的高光谱图像分类方法-CN201810012064.1有效
  • 于纯妍;宋梅萍;赵猛;张建祎 - 大连海事大学
  • 2018-01-05 - 2021-08-27 - G06K9/62
  • 本发明提供一种基于哈希学习的高光谱图像分类方法,包括:将高光谱图像做零均值化处理,得到高光谱数据均值;根据所述高光谱数据样本均值确定真实图像中每一类地物的非目标地物的光谱特征;根据所述光谱特征定义哈希函数,并计算所述哈希函数的偏移量、最大特征向量;根据所述偏移量、最大特征向量提取哈希语义特征;根据所述提取的哈希语义特征进行高光谱图像分类。本发明将提取到的语义特征与原始高光谱地物数据融合之后,可以有效提高原高光谱数据的分类与识别精度。
  • 一种基于学习光谱图像分类方法

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