[发明专利]一种波长偏移校正方法及装置及计算机设备有效

专利信息
申请号: 201811640676.1 申请日: 2018-12-29
公开(公告)号: CN109655415B 公开(公告)日: 2022-01-18
发明(设计)人: 于丙文;陈挺;常红旭;郑磊落;刘文龙;冯雨晨;方博凡 申请(专利权)人: 浙江全世科技有限公司
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27;G06F17/16
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 胡晶
地址: 310053 浙江省杭州市滨江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种波长偏移校正方法,该方法包括:获取参考光谱和待校正光谱;计算待校正光谱中每个像素的强度密度函数,得到多项式系数矩阵,多项式系数矩阵中的每一组多项式系数分别为待校正光谱中的一个像素的强度密度函数的系数;确定像素偏移量范围;根据像素偏移量范围内的像素偏移量与多项式系数矩阵计算出每个像素偏移量对应的待审核光谱;确定和参考光谱最接近的待审核光谱,得到最优像素偏移量;根据最优像素偏移量与多项式系数矩阵对待校正光谱进行校正,得到波长偏移校正后的光谱。该波长偏移校正方法能够对光谱数据进行非整数倍像素偏移量的校正,不依赖寻峰法。本发明还公开了波长偏移校正装置及计算机设备。
搜索关键词: 一种 波长 偏移 校正 方法 装置 计算机 设备
【主权项】:
1.一种波长偏移校正方法,其特征在于,包括:获取参考光谱Ref_Spe和待校正光谱Cur_Spe;计算待校正光谱Cur_Spe中每个像素的强度密度函数,得到多项式系数矩阵P_coef,所述多项式系数矩阵P_coef中的每一组多项式系数分别为待校正光谱Cur_Spe中的一个像素的强度密度函数的系数;确定像素偏移量范围;根据所述像素偏移量范围内的像素偏移量与所述多项式系数矩阵P_coef计算出每个像素偏移量对应的待审核光谱Cur_Spe’;确定和所述参考光谱Ref_Spe最接近的待审核光谱Cur_Spe’,得到最优像素偏移量;根据所述最优像素偏移量与所述多项式系数矩阵P_coef对待校正光谱Cur_Spe进行校正,得到波长偏移校正后的光谱。
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