[发明专利]半导体集成电路及其制造方法无效
| 申请号: | 98104205.8 | 申请日: | 1998-01-08 |
| 公开(公告)号: | CN1151549C | 公开(公告)日: | 2004-05-26 |
| 发明(设计)人: | 和田修;芳贺亮;矢部友章;宫野信治 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
| 主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L21/82;H01L23/52 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王永刚 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 把本来所需金属布线层的层数不同的多个宏单元混合配置到同一LSI芯片上,抑制布线电阻的增大,从而抑制电压降和布线延迟的增大。在LSI衬底上形成的N(N≥3)层以上布线层的多种宏单元之内的至少一个宏单元,具备由第(N-2)布线层形成的布线图形,有第(N-1)布线层的第(N-1)层布线图形和第(N-1)层布线接触图形,与第(N-1)层布线图形相同的第N层布线图形和与第(N-1)层布线接触图形相同的第N层布线接触图形。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体 集成电路 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1、一种半导体集成电路,具备:在半导体衬底上边形成的第1宏单元,上述第1宏单元具有从最上层布线层开始分别由金属布线层构成的3层布线层,从最上层布线层开始按顺序分别称为第N布线层、第(N-1)布线层和第(N-2)布线层;和在同一半导体衬底上边形成,具有从最上层布线层开始与上述第1宏单元相同的3层布线层的第2宏单元,其特征是,上述第1宏单元和上述第2宏单元本来所需的金属布线层彼此不同,上述第1宏单元和上述第2宏单元的最上层布线层具有相同的厚度并且用同一布线层形成,上述第2宏单元具备:由第(N-2)布线层形成的第(N-2)层布线图形;由上述第(N-1)布线层形成的第(N-1)层布线接触图形;由第N布线层形成的第N层布线图形;由上述第N布线层形成,与上述第(N-1)层布线接触图形具有相同的图形的第N层布线接触图形;把上述第(N-1)层布线接触图形连接到上述第(N-2)层布线图形上的第1接触塞;以及把上述第N层布线接触图形连接到上述第(N-1)层布线接触图形上的第2接触塞。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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