[发明专利]半导体集成电路及其制造方法无效

专利信息
申请号: 98104205.8 申请日: 1998-01-08
公开(公告)号: CN1151549C 公开(公告)日: 2004-05-26
发明(设计)人: 和田修;芳贺亮;矢部友章;宫野信治 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;H01L21/82;H01L23/52
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王永刚
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 把本来所需金属布线层的层数不同的多个宏单元混合配置到同一LSI芯片上,抑制布线电阻的增大,从而抑制电压降和布线延迟的增大。在LSI衬底上形成的N(N≥3)层以上布线层的多种宏单元之内的至少一个宏单元,具备由第(N-2)布线层形成的布线图形,有第(N-1)布线层的第(N-1)层布线图形和第(N-1)层布线接触图形,与第(N-1)层布线图形相同的第N层布线图形和与第(N-1)层布线接触图形相同的第N层布线接触图形。
搜索关键词: 半导体 集成电路 及其 制造 方法
【主权项】:
1、一种半导体集成电路,具备:在半导体衬底上边形成的第1宏单元,上述第1宏单元具有从最上层布线层开始分别由金属布线层构成的3层布线层,从最上层布线层开始按顺序分别称为第N布线层、第(N-1)布线层和第(N-2)布线层;和在同一半导体衬底上边形成,具有从最上层布线层开始与上述第1宏单元相同的3层布线层的第2宏单元,其特征是,上述第1宏单元和上述第2宏单元本来所需的金属布线层彼此不同,上述第1宏单元和上述第2宏单元的最上层布线层具有相同的厚度并且用同一布线层形成,上述第2宏单元具备:由第(N-2)布线层形成的第(N-2)层布线图形;由上述第(N-1)布线层形成的第(N-1)层布线接触图形;由第N布线层形成的第N层布线图形;由上述第N布线层形成,与上述第(N-1)层布线接触图形具有相同的图形的第N层布线接触图形;把上述第(N-1)层布线接触图形连接到上述第(N-2)层布线图形上的第1接触塞;以及把上述第N层布线接触图形连接到上述第(N-1)层布线接触图形上的第2接触塞。
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