[发明专利]一种半导体结构及其封装方法有效

专利信息
申请号: 202210739444.1 申请日: 2022-06-28
公开(公告)号: CN115020259B 公开(公告)日: 2023-08-04
发明(设计)人: 张胜利;丁贺;高健;肖美健;罗志勇 申请(专利权)人: 今上半导体(信阳)有限公司
主分类号: H01L21/603 分类号: H01L21/603;H01L23/488
代理公司: 深圳众邦专利代理有限公司 44545 代理人: 丁曹凯
地址: 464000 河南省信阳*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明公开了一种半导体结构及其封装方法,包括提供具有相对设置的第一表面和第二表面的基板,第一表面上设有焊料凸块,第二表面上设有金属凸层;在第二表面上形成光刻胶层I,光刻胶层I具有裸露出金属凸层顶部的第一凹槽;提供具有相背的第一上表面和第二下表面的芯片,第一上表面上设有焊盘,在每个焊盘的上表面上对应地设有导电连接层;在第一上表面和导电连接层上形成光刻胶层II,光刻胶层II具有裸露出导电连接层顶部的第二凹槽;在第二凹槽内设置导电片,导电片的与导电连接层相背的一侧具有容纳焊料凸点的凹口;将芯片的导电片和基板的金属凸层进行键合连接。本发明利用导电片的形状对芯片倒装焊接时进行钳制和定位,提高了生产良率。
搜索关键词: 一种 半导体 结构 及其 封装 方法
【主权项】:
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