[发明专利]半导体存储装置在审
申请号: | 202210176134.3 | 申请日: | 2022-02-25 |
公开(公告)号: | CN115799317A | 公开(公告)日: | 2023-03-14 |
发明(设计)人: | 铃木都文;上牟田雄一 | 申请(专利权)人: | 铠侠股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/423 | 分类号: | H01L29/423;H10B43/30;H10B41/30;G11C8/08;G11C7/12 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 万利军;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 半导体存储装置具备:第1半导体层,在第1方向上延伸;第1导电层及第2导电层,在第1方向上排列,分别与第1半导体层相对;第1绝缘部,设置在第1半导体层与第1导电层之间,包含氧(O)和铪(Hf);第2绝缘部,设置在第1半导体层与第2导电层之间,包含氧(O)和铪(Hf);以及第1电荷蓄积层,设置在第1绝缘部与第2绝缘部之间,与第1导电层以及第2导电层分开。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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