[发明专利]三维存储器及其制备方法、电子设备在审

专利信息
申请号: 202111350272.0 申请日: 2021-11-15
公开(公告)号: CN114068578A 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 吴林春;张坤;周文犀 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11582 分类号: H01L27/11582;H01L27/1157;H01L27/11556;H01L27/11524
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 430000 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本公开提供了一种三维存储器及其制备方法、电子设备,涉及半导体芯片技术领域,旨在解决提高三维存储器的结构稳定性的问题。所述三维存储器包括半导体层、叠层结构、沟道结构、第二介质层以及栅线隔离结构。叠层结构设置在半导体层上,包括交替叠置的第一介质层和栅极层。沟道结构贯穿叠层结构以及半导体层。第二介质层至少部分地设置在栅极层与沟道结构之间。栅线隔离结构贯穿叠层结构以及半导体层。栅线隔离结构包括绝缘隔离部,绝缘隔离部与半导体层接触。
搜索关键词: 三维 存储器 及其 制备 方法 电子设备
【主权项】:
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