[发明专利]半导体存储器件在审

专利信息
申请号: 202110828263.1 申请日: 2021-07-21
公开(公告)号: CN113972214A 公开(公告)日: 2022-01-25
发明(设计)人: 金志荣;梁宇成;黄盛珉;成锡江;任峻成 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L27/11582 分类号: H01L27/11582;H01L27/1157;H01L27/11565;H01L27/11556;H01L27/11524;H01L27/11519
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 纪雯
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种半导体存储器件,包括:第一堆叠结构、第一支撑层、第二堆叠结构、块切割结构、以及在所述第二堆叠结构上并且由第二切割图案分开的第二支撑层。所述第一堆叠结构包括第一堆叠和第二堆叠,所述第二堆叠结构包括由所述块切割结构分开的第三堆叠和第四堆叠,所述第一支撑层在所述第一堆叠和所述第二堆叠上,所述第二支撑层在所述第三堆叠和所述第四堆叠上,第一切割图案包括所述块切割结构上并且连接所述第一支撑层和所述第二堆叠的第一连接,并且所述第二支撑层的所述第二切割图案包括所述块切割结构上并且连接设置在所述第三堆叠和所述第四堆叠上的所述第二支撑层的第二连接。
搜索关键词: 半导体 存储 器件
【主权项】:
暂无信息
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