[发明专利]半导体装置在审
| 申请号: | 202110804572.5 | 申请日: | 2021-07-16 |
| 公开(公告)号: | CN114628398A | 公开(公告)日: | 2022-06-14 |
| 发明(设计)人: | 戸田将也;高桥恒太;松尾和展;神谷优太;森伸二;虎谷健一郎 | 申请(专利权)人: | 铠侠股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L27/11524 | 分类号: | H01L27/11524;H01L27/11556;H01L27/1157;H01L27/11582 |
| 代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 杨林勳 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明的实施方式提供一种能够适当地将包含金属元素的2个膜接近地配置的半导体装置。根据一实施方式,半导体装置具备:积层膜,交替地包含多个电极层与多个绝缘层;电荷存储层,介隔第1绝缘膜设置在所述积层膜内;半导体层,介隔第2绝缘膜设置在所述电荷存储层内;以及第1部分,在所述电极层与所述绝缘层之间及所述电极层与所述第1绝缘膜之间,介隔第3绝缘膜设置在所述绝缘膜及所述第1绝缘膜的表面。所述第3绝缘膜包含第1金属元素及第1元素,所述第1部分包含第2元素及第3元素。所述电极层具备:第1电极层,包含第2金属元素,设置在所述第1部分侧;以及第2电极层,包含第3金属元素,设置在所述第1部分的相反侧;所述第2元素与所述第3元素的电负性之差大于所述第1金属元素与所述第1元素的电负性之差。 | ||
| 搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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