[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 202110804572.5 申请日: 2021-07-16
公开(公告)号: CN114628398A 公开(公告)日: 2022-06-14
发明(设计)人: 戸田将也;高桥恒太;松尾和展;神谷优太;森伸二;虎谷健一郎 申请(专利权)人: 铠侠股份有限公司
主分类号: H01L27/11524 分类号: H01L27/11524;H01L27/11556;H01L27/1157;H01L27/11582
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 杨林勳
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的实施方式提供一种能够适当地将包含金属元素的2个膜接近地配置的半导体装置。根据一实施方式,半导体装置具备:积层膜,交替地包含多个电极层与多个绝缘层;电荷存储层,介隔第1绝缘膜设置在所述积层膜内;半导体层,介隔第2绝缘膜设置在所述电荷存储层内;以及第1部分,在所述电极层与所述绝缘层之间及所述电极层与所述第1绝缘膜之间,介隔第3绝缘膜设置在所述绝缘膜及所述第1绝缘膜的表面。所述第3绝缘膜包含第1金属元素及第1元素,所述第1部分包含第2元素及第3元素。所述电极层具备:第1电极层,包含第2金属元素,设置在所述第1部分侧;以及第2电极层,包含第3金属元素,设置在所述第1部分的相反侧;所述第2元素与所述第3元素的电负性之差大于所述第1金属元素与所述第1元素的电负性之差。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
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