[发明专利]半导体器件以及制造半导体结构的方法在审

专利信息
申请号: 202110594716.9 申请日: 2021-05-28
公开(公告)号: CN113380801A 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 陈重辉;陈东村;黄睿政 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/092 分类号: H01L27/092;H01L21/8238
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种半导体器件,包括:第一S/D布置,包括:对应有源区的具有硅化物夹置结构的硅化物夹置部分;对应金属至漏极/源极(MD)接触结构的第一部分;第一通孔至MD(VD)结构;以及第一掩埋通孔至源极/漏极(BVD)结构;栅极结构,位于该对应有源区的沟道部分上方;以及第二S/D布置,包括:该对应有源区的第一掺杂部分;以及至少各项以下中的一个:上接触布置,包括:位于该第一掺杂部分上方的第一硅化物层,该对应MD接触结构的第二部分;以及第二VD结构;或下接触布置,包括:位于该第一掺杂部分下方的第二硅化物层,和第二BVD结构。本申请的实施例还涉及制造半导体结构的方法。
搜索关键词: 半导体器件 以及 制造 半导体 结构 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110594716.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top