[发明专利]一种硼碳氮薄膜的制备方法在审

专利信息
申请号: 202110276691.8 申请日: 2021-03-15
公开(公告)号: CN113151803A 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 吕燕飞;蔡庆锋;彭雪;赵士超 申请(专利权)人: 杭州电子科技大学
主分类号: C23C16/36 分类号: C23C16/36;C23C16/52
代理公司: 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙) 33240 代理人: 杨舟涛
地址: 310018 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种硼碳氮薄膜的制备方法,本发明采用氨硼烷作为氮、硼源,甲烷作为碳源,氢气和氩气混合气体为载气,铜或镍金属薄膜作为生长基底,通过CVD法在基底表面生长单分子层厚BCN薄膜,甲烷与氨硼烷蒸气的流量比调控膜中碳含量,进而获得不同性能的单分子层薄膜。本发明使用的源,碳源甲烷相对于其他烷类气体,含碳量低,是制备石墨烯的首选含碳起源,氮、硼源氨硼烷常用于制备h‑BN单分子层的氮、硼源。生长基底铜、镍是生长石墨烯、h‑BN单分子层常用基底。
搜索关键词: 一种 硼碳氮 薄膜 制备 方法
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