[发明专利]一种封装结构及封装方法在审

专利信息
申请号: 202011496236.0 申请日: 2020-12-17
公开(公告)号: CN112701087A 公开(公告)日: 2021-04-23
发明(设计)人: 卢玉溪;曾昭孔;陈武伟;黄柏荣 申请(专利权)人: 苏州通富超威半导体有限公司
主分类号: H01L23/16 分类号: H01L23/16;H01L23/31;H01L23/498;H01L21/56
代理公司: 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 代理人: 郭栋梁
地址: 215000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请公开了一种封装结构及封装方法,其中封装结构,包括基板及设置在所述基板上的芯片和散热盖,所述芯片与所述散热板之间设置有金属导热层,所述金属导热层与所述散热盖之间和/或所述金属导热层与所述芯片之间设置有若干排气通道,所述排气通道的一端与所述金属导热层的四周边缘相通。本申请实施例提供的封装结构在,所述金属导热层与所述散热盖之间和/或所述金属导热层与所述芯片之间设置有若干排气通道,将金属导热层分割为面积小的区域,防止助焊剂挥发的气体在中心区域聚集,由于铟片的张力而包裹排不出去。由于熔化的铟片与分割线处的浸润性差,助焊剂挥发的气体可以沿着分割线逸出,起到排气槽的作用。
搜索关键词: 一种 封装 结构 方法
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