[发明专利]半导体结构及半导体结构制作方法在审

专利信息
申请号: 202011219025.2 申请日: 2020-11-04
公开(公告)号: CN114446955A 公开(公告)日: 2022-05-06
发明(设计)人: 马经纶 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L21/8242
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 张娜;刘芳
地址: 230011 安徽省合肥*** 国省代码: 安徽;34
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明实施例属于半导体制作技术领域,涉及一种半导体结构及半导体结构制作方法,用于解决外部连接层容易与栅极导体层或者其他导电膜层之间发生漏电,进而影响半导体结构性能的问题。该半导体结构的栅介质层设置在衬底和导电层之间,衬底包括同层设置的半导体基底以及绝缘基底,导电层包括在衬底上的投影覆盖半导体基底的栅极导体层、以及在衬底上的投影覆盖绝缘基底的外部连接层,栅极导体层、栅介质层以及半导体基底构成晶体管结构,外部连接层朝向衬底的底面上设置有凹槽,凹槽内填充有绝缘体;设置在凹槽内的绝缘体可以减小外部连接层的体积,进而避免外部连接层与其他的导电膜层之间发生漏电,提高了半导体结构的性能。
搜索关键词: 半导体 结构 制作方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长鑫存储技术有限公司,未经长鑫存储技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011219025.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top