[发明专利]半导体集成装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 202010001959.2 申请日: 2020-01-02
公开(公告)号: CN111180415B 公开(公告)日: 2022-06-03
发明(设计)人: 陈顺福;刘威;陈亮;甘程 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L23/522 分类号: H01L23/522;H01L21/768;H01L27/105
代理公司: 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 代理人: 蔡纯;张靖琳
地址: 430074 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请公开了一种半导体集成装置及其制造方法,该半导体集成装置包括:第一半导体器件,包括:第一介电层;位于第一介电层内的间隔排布的第一导电通道和第一虚拟导电通道,第一导电通道和第一虚拟导电通道暴露于第一介电层的表面;第二半导体器件,包括:第二介电层;位于第二介电层内的第二导电通道,第二导电通道暴露于第二介电层的表面;第一介电层与第二介电层结合,第二导电通道与第一虚拟导电通道连接。该通半导体集成装置过在结合第一介电层与第二介电层时,直接利用导电通道与虚拟导电通道形成电容,从而简化了电容的制作工艺并降低了成本。
搜索关键词: 半导体 集成 装置 及其 制造 方法
【主权项】:
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