[发明专利]一种孔内电镀结构及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201910913727.1 申请日: 2019-09-25
公开(公告)号: CN110777406B 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 黄光伟;李立中;林伟铭;吴淑芳;马跃辉;陈智广;吴靖;庄永淳 申请(专利权)人: 福建省福联集成电路有限公司
主分类号: C25D5/02 分类号: C25D5/02;C25D7/12;C23C14/34;C23C14/18;H01L21/768;H01L23/48
代理公司: 福州市景弘专利代理事务所(普通合伙) 35219 代理人: 徐剑兵;张忠波
地址: 351117 福建省莆*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开一种孔内电镀结构及其制作方法,其中方法包括如下步骤:在半导体衬底上覆盖第一光阻层,并在待制作的孔处曝光、显影;以第一光阻层为掩膜对半导体衬底进行蚀刻,制得孔,孔底部为半导体衬底另一面的金属层,并去除第一光阻层;沉积籽晶层金属。本方案在半导体衬底制得到带有籽晶层金属的孔后,于半导体衬底上粘附干膜光刻胶,并于孔区域曝光显影,电镀金属到孔区域,形成电镀金属层,并去除干膜光刻胶,避免了光阻填充孔内后,因光阻用量大造成膜面异常状况的发生,也避免了因光阻残留于孔内,影响电镀效果;同时节约成本,提高生产效率。
搜索关键词: 一种 电镀 结构 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种孔内电镀方法,其特征在于,包括如下步骤:/n在半导体衬底上覆盖第一光阻层,并在待制作的孔处曝光、显影;/n以第一光阻层为掩膜对半导体衬底进行蚀刻,制得孔,孔底部为半导体衬底另一面的金属层,并去除第一光阻层;/n沉积籽晶层金属;/n对半导体衬底粘附干膜光刻胶,并于孔区域曝光、显影;/n电镀金属到孔区域,形成电镀金属层,并去除干膜光刻胶。/n
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