[发明专利]一种肖特基终端结构在审

专利信息
申请号: 201910595695.5 申请日: 2019-07-03
公开(公告)号: CN110246892A 公开(公告)日: 2019-09-17
发明(设计)人: 王万礼;宋楠;乐春林;刘文彬;陈海洋;刘闯;刘晓芳;徐长坡 申请(专利权)人: 天津环鑫科技发展有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/40
代理公司: 天津诺德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 12213 代理人: 栾志超
地址: 300384 天津市滨海新区*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明提供一种肖特基终端结构,包括衬底材料,衬底材料包括衬底和外延层,外延层设于衬底一侧;以及沟槽,通过刻蚀形成于外延层上;场限环,通过离子注入形成于沟槽侧壁上;氧化层,设于沟槽侧壁、沟槽底部及沟槽拐角处;势垒金属,通过沉积形成于外延层上;正面金属,通过沉积形成于势垒金属与氧化层上。本发明的有益效果是具有场限环、沟槽、接触孔自对准结构,实现两层光刻制造肖特基器件,减小终端耐压结构的尺寸,相同电压等级下终端尺寸相比常规设计要小,有效提升芯片面积的利用率。
搜索关键词: 外延层 衬底材料 沟槽侧壁 势垒金属 终端结构 场限环 肖特基 氧化层 衬底 沉积 终端耐压结构 肖特基器件 常规设计 沟槽拐角 接触孔 自对准 光刻 减小 刻蚀 两层 离子 芯片 终端 金属 制造
【主权项】:
1.一种肖特基终端结构,其特征在于:包括衬底材料,所述衬底材料包括衬底和外延层,所述外延层设于所述衬底一侧;以及沟槽,通过刻蚀形成于所述外延层上;场限环,通过离子注入形成于所述沟槽侧壁上;氧化层,设于所述沟槽侧壁、所述沟槽底部及所述沟槽拐角处;势垒金属,通过沉积形成于所述外延层上;正面金属,通过沉积形成于所述势垒金属与所述氧化层上。
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