[发明专利]半导体基底及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201910355551.2 申请日: 2019-04-29
公开(公告)号: CN111384151B 公开(公告)日: 2023-05-09
发明(设计)人: 黄至伟 申请(专利权)人: 南亚科技股份有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 聂慧荃;闫华
地址: 中国台*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开提供一种半导体基底及其制备方法。该半导体基底包括:一基部、至少一平台、至少一突起、一绝缘层、一盖层以及一钝化层。该至少一平台从该基部的一上表面延伸;该至少一突起连接到该至少一平台;该绝缘层设置在该至少一突起的上方;该盖层设置在该绝缘层的上方;该钝化层设置在该至少一突起、该绝缘层和该盖层的一侧壁上。该钝化层包括至少一个第一膜层和至少一个第二膜层,该第一膜层和该第二膜层以交错配置布置。
搜索关键词: 半导体 基底 及其 制备 方法
【主权项】:
暂无信息
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