[实用新型]一种双SLC闪存晶片的封装结构有效

专利信息
申请号: 201821549544.3 申请日: 2018-09-21
公开(公告)号: CN208796996U 公开(公告)日: 2019-04-26
发明(设计)人: 唐维强 申请(专利权)人: 深圳市芯天下技术有限公司
主分类号: H01L25/18 分类号: H01L25/18
代理公司: 深圳市凯博企服专利代理事务所(特殊普通合伙) 44482 代理人: 李绍飞
地址: 518000 广东省深圳市龙岗区横*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种双SLC闪存晶片的封装结构,包括基板、第一层芯片、可流动膜、第二层芯片、第三层芯片和三根引线,所述第一层芯片封装在可流动膜下表面,第二层芯片封装在可流动膜上表面,所述第三层芯片封装在第二层芯片上,所述引线连接第一层芯片和基板、第二层芯片和基板以及第三层芯片和基板。本实用新型通过设置能够支持双片选的控制芯片,利用可流动膜堆叠的方式来放置两个芯片,在更小的封装面积上实现了更大的容量存储,满足了市场对更大存储的需求。
搜索关键词: 芯片 可流动 基板 芯片封装 第三层 第一层 本实用新型 封装结构 闪存晶片 控制芯片 容量存储 引线连接 膜堆叠 上表面 下表面 双片 封装 存储
【主权项】:
1.一种双SLC闪存晶片的封装结构,其特征在于:包括基板、第一层芯片、可流动膜、第二层芯片、第三层芯片和三根引线,所述第一层芯片封装在可流动膜下表面,第二层芯片封装在可流动膜上表面,所述第三层芯片封装在第二层芯片上,所述引线连接第一层芯片和基板、第二层芯片和基板以及第三层芯片和基板。
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