[实用新型]一种SP超结MOS结构有效
申请号: | 201821429883.8 | 申请日: | 2018-08-31 |
公开(公告)号: | CN208674110U | 公开(公告)日: | 2019-03-29 |
发明(设计)人: | 万立宏;范捷;王绍荣 | 申请(专利权)人: | 江苏丽隽功率半导体有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L29/06 |
代理公司: | 无锡华源专利商标事务所(普通合伙) 32228 | 代理人: | 聂启新 |
地址: | 214067 江苏省无锡市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种SP超结MOS结构,属于半导体器件领域。该SP超结MOS结构包括衬底、外延层、氧化层、多晶硅、绝缘介质层和金属层;外延层在衬底之上;衬底上设置有深槽和P型半导体区,深槽内填充有掺硼多晶硅,掺硼多晶硅与外延层之间有一层绝缘介质层,P型半导体区设置有N型半导体区;外延层之上为氧化层,氧化层之上为绝缘介质层,氧化层中有多晶硅,电极接触孔贯穿氧化层和氧化层之上的绝缘介质层;金属层覆盖电极接触孔和绝缘介质层;降低了单个元胞的导通电阻,从而降低整个器件的导通电阻,可以实现超结Super juntion的功能,达到现有的超结DMOS的特性,制作工艺简单,容易实现。 | ||
搜索关键词: | 氧化层 超结 绝缘介质层 多晶硅 外延层 衬底 导通电阻 金属层 掺硼 深槽 半导体器件领域 本实用新型 电极接触孔 覆盖电极 制作工艺 层绝缘 接触孔 介质层 元胞 填充 贯穿 | ||
【主权项】:
1.一种SP超结MOS结构,其特征在于,包括衬底、外延层、氧化层、多晶硅、绝缘介质层和金属层;所述外延层在所述衬底之上;所述衬底上设置有深槽和P型半导体区,所述深槽内填充有掺硼多晶硅,所述掺硼多晶硅与所述外延层之间有一层绝缘介质层,所述P型半导体区设置有N型半导体区;所述外延层之上为所述氧化层,所述氧化层之上为所述绝缘介质层,所述氧化层中有所述多晶硅,电极接触孔贯穿所述氧化层和所述氧化层之上的所述绝缘介质层;所述金属层覆盖所述电极接触孔和所述绝缘介质层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的