[实用新型]一种SP超结MOS结构有效

专利信息
申请号: 201821429883.8 申请日: 2018-08-31
公开(公告)号: CN208674110U 公开(公告)日: 2019-03-29
发明(设计)人: 万立宏;范捷;王绍荣 申请(专利权)人: 江苏丽隽功率半导体有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L29/06
代理公司: 无锡华源专利商标事务所(普通合伙) 32228 代理人: 聂启新
地址: 214067 江苏省无锡市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种SP超结MOS结构,属于半导体器件领域。该SP超结MOS结构包括衬底、外延层、氧化层、多晶硅、绝缘介质层和金属层;外延层在衬底之上;衬底上设置有深槽和P型半导体区,深槽内填充有掺硼多晶硅,掺硼多晶硅与外延层之间有一层绝缘介质层,P型半导体区设置有N型半导体区;外延层之上为氧化层,氧化层之上为绝缘介质层,氧化层中有多晶硅,电极接触孔贯穿氧化层和氧化层之上的绝缘介质层;金属层覆盖电极接触孔和绝缘介质层;降低了单个元胞的导通电阻,从而降低整个器件的导通电阻,可以实现超结Super juntion的功能,达到现有的超结DMOS的特性,制作工艺简单,容易实现。
搜索关键词: 氧化层 超结 绝缘介质层 多晶硅 外延层 衬底 导通电阻 金属层 掺硼 深槽 半导体器件领域 本实用新型 电极接触孔 覆盖电极 制作工艺 层绝缘 接触孔 介质层 元胞 填充 贯穿
【主权项】:
1.一种SP超结MOS结构,其特征在于,包括衬底、外延层、氧化层、多晶硅、绝缘介质层和金属层;所述外延层在所述衬底之上;所述衬底上设置有深槽和P型半导体区,所述深槽内填充有掺硼多晶硅,所述掺硼多晶硅与所述外延层之间有一层绝缘介质层,所述P型半导体区设置有N型半导体区;所述外延层之上为所述氧化层,所述氧化层之上为所述绝缘介质层,所述氧化层中有所述多晶硅,电极接触孔贯穿所述氧化层和所述氧化层之上的所述绝缘介质层;所述金属层覆盖所述电极接触孔和所述绝缘介质层。
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