[发明专利]芯片的封装结构及其封装方法有效
申请号: | 201810355876.6 | 申请日: | 2018-04-19 |
公开(公告)号: | CN108598046B | 公开(公告)日: | 2020-03-27 |
发明(设计)人: | 邱原;陈传兴 | 申请(专利权)人: | 苏州通富超威半导体有限公司 |
主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L23/498;H01L21/56 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 徐文欣;吴敏 |
地址: | 215021 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种芯片的封装方法及其封装结构,其中封装方法包括:提供载板,所述载板表面具有贴装膜,所述贴装膜表面贴装有第一芯片,所述第一芯片包括相对的第一面和第二面,所述第二面与贴装膜的表面贴合;提供若干个第二芯片,所述第二芯片包括第三面,所述第二芯片包括第一区;使第三面朝向第一面贴装第二芯片,所述第二芯片的第一区与部分第一芯片重叠,且所述第一面与第一区第三面之间具有凸点;贴装所述第二芯片之后,熔融所述凸点,使第二芯片与第一芯片电连接。所述方法形成的封装结构性能较好。 | ||
搜索关键词: | 芯片 封装 结构 及其 方法 | ||
【主权项】:
1.一种芯片的封装方法,其特征在于,包括:提供载板,所述载板表面具有贴装膜,所述贴装膜表面贴装有第一芯片,所述第一芯片包括相对的第一面和第二面,所述第二面与贴装膜的表面贴合;提供若干个第二芯片,所述第二芯片包括第三面,所述第二芯片包括第一区;使第三面朝向第一面贴装第二芯片,所述第二芯片的第一区与部分第一芯片重叠,且所述第一面与第一区第三面之间具有凸点;贴装所述第二芯片之后,熔融所述凸点,使第二芯片与第一芯片电连接。
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