[发明专利]半导体封装及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201810288882.4 申请日: 2018-04-03
公开(公告)号: CN109390324A 公开(公告)日: 2019-02-26
发明(设计)人: 金永锡 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L23/552 分类号: H01L23/552
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 刘培培;黄隶凡
地址: 韩国京畿道水*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 一种半导体封装包括安装在衬底上的接地焊盘及半导体芯片,且半导体封装通过使用包封件覆盖接地焊盘及半导体芯片的上部部分、形成沟槽以及使用电磁干扰屏蔽膜覆盖包封件及沟槽的上部部分来形成。接地焊盘被形成与半导体芯片相邻。包封件密封衬底、半导体芯片及接地焊盘。接地焊盘通过切割工艺被暴露出且沟槽被形成为将半导体芯片彼此隔离。电磁干扰屏蔽膜是通过按压及加热工艺形成,且电磁干扰屏蔽膜的覆盖包封件的表面的一部分包含与电磁干扰屏蔽膜的覆盖沟槽的上部部分的一部分相同的材料。电磁干扰屏蔽膜电连接到接地焊盘。
搜索关键词: 接地焊盘 电磁干扰屏蔽膜 半导体芯片 包封件 半导体封装 覆盖 按压 加热工艺 电连接 密封衬 衬底 切割 隔离 暴露 制造
【主权项】:
1.一种半导体封装,其特征在于,包括:衬底;半导体芯片,设置在所述衬底上;接地焊盘,设置在所述衬底上或所述衬底中,且与所述半导体芯片中的任一者或任意组合相邻;包封件,被设置成密封所述衬底的上部部分、所述半导体芯片及所述接地焊盘;沟槽,被设置成穿过所述包封件到达所述接地焊盘,以隔离所述半导体芯片;以及电磁干扰屏蔽膜,被设置成覆盖所述包封件的表面及所述沟槽,所述电磁干扰屏蔽膜包含黏结剂树脂,且所述电磁干扰屏蔽膜电连接到所述接地焊盘。
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